2 Åのプローブで1 nAを超える電流 | 原子分解能の電子エネルギー損失分光法(EELS)による高速元素マッピング |
0.8 Åの高角度環状暗視野(HAADF)分解能 | 微細な間隔と単一原子を分離 |
すべての5次軸上収差を補正 | より大きなプローブ角と高いビーム電流 |
すべての操作をリモートで実行可能 | 現地での支援を必要としないリモート操作 |
摩擦のない中心対称型試料ステージ | 超高精度の試料移動とドリフトの抑制 |
| ボールベアリングを使用した二軸傾斜試料ホルダー | バックラッシュのない超高精度傾斜 |
高速静電ビームブランカー | データ非取得時の試料損傷を防止 |
5次収差補正EELS光学系 | 50 mradを超える取り込み半角により、分析効率を向上 |
顕微鏡カラム全体をイオンポンプで排気 | 試料の汚染とエッチングを最小限に抑制 |
カラムには金属製真空シールのみを使用 | 試料部の真空度は通常1×10⁻⁹ Torr未満 |
カラム全体を140°Cまでベーク可能 | 顕微鏡に起因する汚染を排除 |
カラム全体を二重μメタルでシールド | 外来交流磁場の影響を最小限に抑制 |
完全モジュール構造 | 顕微鏡カラムのカスタマイズが可能 |
自己診断機能を備えた電子回路 | 迅速なリモートサービス |