走査透過電子顕微鏡(STEM)

Nion ULTRASTEM

材料の原子分解能4Dイメージングおよび元素マッピング

特長

  • 加速電圧30~200 kV
  • オープンソースのPythonベース制御ソフトウェア
  • 高輝度・高安定性冷陰極電界放出電子銃(CFEG)
  • 高性能C3/C5収差補正
  • 試料位置での超高真空
  • 4D-STEM機能
原子置換を含む単層窒化ホウ素の環状暗視野(ADF)像。画像の定量解析から詳細な原子モデルを作成し、画像上に重ねて表示しています。ホウ素原子は赤、炭素原子は黄、窒素原子は緑、酸素原子は青で示されています。(画像提供:Tim Pennycook, ORNL & Vanderbilt U.)

Nion ULTRASTEMの仕様

2 Åのプローブで1 nAを超える電流

原子分解能の電子エネルギー損失分光法(EELS)による高速元素マッピング

0.8 Åの高角度環状暗視野(HAADF)分解能

微細な間隔と単一原子を分離

すべての5次軸上収差を補正

より大きなプローブ角と高いビーム電流

すべての操作をリモートで実行可能

現地での支援を必要としないリモート操作

摩擦のない中心対称型試料ステージ

超高精度の試料移動とドリフトの抑制

ボールベアリングを使用した二軸傾斜試料ホルダー

バックラッシュのない超高精度傾斜

高速静電ビームブランカー

データ非取得時の試料損傷を防止

5次収差補正EELS光学系

50 mradを超える取り込み半角により、分析効率を向上

顕微鏡カラム全体をイオンポンプで排気

試料の汚染とエッチングを最小限に抑制

カラムには金属製真空シールのみを使用

試料部の真空度は通常1×10⁻⁹ Torr未満

カラム全体を140°Cまでベーク可能

顕微鏡に起因する汚染を排除

カラム全体を二重μメタルでシールド

外来交流磁場の影響を最小限に抑制

完全モジュール構造

顕微鏡カラムのカスタマイズが可能

自己診断機能を備えた電子回路

迅速なリモートサービス

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