顕微鏡搭載型ナノインデンター

ハイジトロンIntraSpect 90

ラマン・光学顕微鏡向けに開発されたナノインデンテーションシステム
Hysitron IntraSpect 90

ハイライト

ハイジトロン IntraSpec 90 (イントラスペクト90)

ブルカーのHysitron®IntraSpect™90は、インデンテーション(押し込み試験)中の変形により生じる材料の物理的、化学的構造変化を、ラマン顕微鏡や光学顕微鏡によりin-situで評価するために開発されたインデンテーションシステムです。このシステムを顕微鏡に取り付けることで押し込み、引っ張り、圧縮、曲げ試験中に材料の構造変化やラマン特性をin-situで評価することができます。

定量的
ナノスケールからマイクロスケールの機械特性評価試験
最大500 mNの力と150 μmの変位を、卓越したノイズフロアで実現します。
コンパクト
高剛性負荷フレームを使用した設計
既存の光学顕微鏡、ラマン顕微鏡のステージに容易に取り付け可能
ユニーク
PTP サンプルマウント
ファイバー、ワイヤー、その他のサンプル形状の一軸引張試験を、同期したラマンマッピングで行うことができます。

特長

インデント、引張、圧縮、曲げ

試験モード

インデントテスト

3軸サンプル位置決めステージを使用して、ピラミッド型のダイヤモンドプローブの下にサンプルを適切に位置決めし、ラマンレーザー光源を接触部に直接90°の角度で集光することができます。これにより、従来のナノインデンテーション試験では接触部の下で発生する圧力誘起相変態、アモルファス化、分子再配列を直接観察することができます。

引張試験

マイクロPush-to-Pull(PTP)デバイスは、ラマン分光法と組み合わせて、小規模な繊維、フィルム、および2次元材料に一軸引張力を印加するための手段を提供します。応力とひずみの値は、システムの生の力と変位出力から容易に得られ、材料内の構造変化と相関させることができます。

圧縮テスト

平らにしたダイヤモンドプローブを用いて、柱や粒子などのミクロスケールの構造物に応力を加えます。変形挙動と強度の微細構造の起源を動的に観察し、次世代の先進的な工学材料の開発に役立てています。

曲げ試験

マイクロカンチレバービームやクランプビームを用いた試験片の弾性・破壊特性を曲げ試験で測定することができます。同時光学イメージングにより、破壊の開始と試料を介したその後の伝播を直接観察することができます。

利点

お持ちの光学顕微鏡やラマンで観察しながら機械的特性の評価が可能

光学顕微鏡やラマン顕微鏡のステージに取り付けるため、IntraSpect 90はコンパクトな設計かつ顕微鏡観察の際に対物レンズが装置に干渉しないような構造になっています。サンプルマウントの延長により、対物レンズが変形領域に容易にアクセスできるようになりました。また、ロック式のサンプルステージにより、試験中のサンプルのずれを最小限に抑えながら、サンプルの位置決めを行うことができます。

変形の進化を理解する

結晶性サンプルの曲げ試験中に機械と画像のデータを同期化。破壊などの機械的現象は、両方の情報で簡単にキャプチャおよび解析できます。

長年のナノインデンテーションシステム設計の中で、ブルカーが独自に培ってきたトランスデューサーテクノロジーにより、in-situラマン観察を行いながら、定量的なナノスケールからマイクロスケールまでの機械的特性評価が可能です。具体的には、最高500 mNの荷重と150 µmの変位を低ノイズフロアで制御・検出します。インデンテーションの測定データを解析するTriboScan™ソフトウェアと顕微鏡の光学像を同期させることにより、変形と機械的特性の相関をより深く考察することも可能です。

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