高速ナノインデンテーションマッピング(XPM)

ブルカーのXPMは、ナノメカニカル試験におけるスループット、測定分解能、および測定精度の新たな業界標準を確立しました。従来のナノインデンテーション手法では1年かかるような測定データを、XPMではわずか半日で取得できます。

この卓越した性能は、高帯域幅の静電駆動トランスデューサー、高速制御・データ収集エレクトロニクス、そしてトップダウン方式のIn-Situ SPMイメージングという、独自の先進技術の融合によって実現されています。

ブルカーのナノメカニカル試験システムは、ナノスケールからマイクロスケールにおける定量的な機械特性・トライボロジー特性評価において、優れた性能、精度、信頼性、そして汎用性を提供します。高速マッピング機能は、当社のすべてのプラットフォームシステムで利用可能です。

Hysitron TI 980 ナノインデンター

XPMにより、毎秒6回のナノインデンテーション測定を実現し、定量的なナノメカニカル特性マップの取得や特性分布解析を効率的に行うことができます。

Hysitron TI 990 ナノインデンター

Performech III制御技術を搭載したXPM II超高速特性マッピングにより、1回の測定中に荷重制御と変位制御をシームレスに切り替えることができます。TI 990 TriboIndenterは、毎秒12回の測定を実現し、従来の準静的ナノインデンテーション試験と比較して最大1,000倍高速なデータ取得を可能にします。

ブルカーの Hysitron PIシリーズ SEM PicoIndenter は、SEM（走査電子顕微鏡）内でのその場ナノメカニカル評価を容易に実現します。独自のトランスデューサ設計により、測定中を通して優れた安定性を維持し、ナノスケールでの高精度なデータ取得を可能にします。XPM機能は、当社の主要なIn-Situナノメカニカル評価システムで利用可能です。

Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter

PI 89は、次世代コントローラー Performech III を搭載し、測定速度と汎用性を大幅に向上させています。室温環境に加え、低温環境および高温環境においても高スループット測定を実現します。

また、1回の測定で取得できるデータポイント数および荷重制御セグメント数の増加により、より詳細な機械特性評価と大面積の特性マッピングが可能です。

PI 89は、1 nm分解能のエンコーダステージと、12 mm × 26 mmの最大移動範囲を備えています。さらに、荷重制御モードおよび変位制御モードの両方において、毎秒1点を超える速度での高分解能特性マッピングを実現します。

Hysitron PI Envision SEM PicoIndenter

特性マッピング機能は、PI Envisionにおいても室温および高温環境で利用可能です。

PI Envisionは、大面積かつ高解像度の特性マッピングに対応しています。1 nm分解能のエンコーダステージと、12 mm × 12 mmの最大移動範囲を備え、高分解能な変位制御特性マッピングを毎秒1点までの速度で実行できます。