나노 기계 테스트

히시트론 XPM

정량적 초고속 기계형 특성 매핑

500배 더 빠른 나노들여쓰기

Bruker의 XPM은 측정 해상도 및 정확도와 결합된 나노 기계 테스트 처리량 측면에서 새로운 산업 표준을 설정합니다. XPM을 사용하면 전통적인 나노 들여쓰기 방법론을 사용하여 1년 내내 수집할 수 있는 것보다 더 많은 데이터를 한 오후에 수집할 수 있습니다. 이러한 독점적인 성능 기능은 업계 최고의 Hysitron 기술 인 고대역폭 정전기 작동 변환기, 빠른 제어 및 데이터 수집 전자 장치, 하향식 SPM 이미징의 결합으로 가능합니다. 이러한 동기화 된 기술은 기록적인 시간 동안 포괄적 인 정량적 나노 기계적 특성 맵 및 재산 분포 통계를 달성하기 위해 초당 6 나노 들여 쓰기 측정을 수행 할 수 있습니다.

견고한 기계적 특성 분배 통계를 갖춘 신속한 매핑

67초(왼쪽)에 400개의 측정으로 구성된 세라믹 매트릭스 복합 계수 맵. 세라믹 매트릭스 복합 계수 분포 통계(오른쪽).

나노 기계적 테스트는 고도로 국소화된 기계적 특성을 측정하기 위해 특별히 개발되었습니다. 개별 측정 배열을 공간적으로 배치하고 플롯하여 표면을 가로질러 기계적 특성 그라데이션맵을 생성할 수 있습니다. 보수적으로 기존의 나노 들여쓰기 측정은 ~ 90초가 걸리며 20x20 어레이는 완료하는 데 10시간이 걸립니다. 브루커의 새로운 Hysitron XPM 초고속 속성 매핑을 활용하여 이 동일한 데이터 세트는 단 1.1분 만에 컴파일할 수 있습니다!