나노 기계 테스트 시스템

히시트론 TS 77 선택

정량적 나노 스케일 - 마이크로 스케일 기계 및 마찰 특성화를위한 필수 툴킷
Hysitron TS 77 Select

하이라이트

나노 기계 및 흉비학 테스트 시스템

히시트론 TS 77 셀렉트 나노인텐터

Hysitron TS 77 선택 자동화 된 벤치탑 나노 기계 및 nanotribological 테스트 시스템은 동급 의 모든 기기의 성능, 기능 및 접근성의 최고 수준을 제공합니다. 브루커의 유명한 TriboScope 정전 용량 트랜스듀서 기술을 중심으로 구축된 이 새로운 테스트 시스템은 나노미터에서 마이크로미터 길이의 스케일에 걸쳐 신뢰할 수 있는 기계적 및 트리고학적 특성을 제공합니다. 가장 눈에 띄는 테스트 모드를 지원하는 TS Select는 정량적 나노 들여쓰기, 동적 나노 핀팅, 나노 스크래치, 나노 웨어 및 고해상도 기계 적 특성 매핑에 저렴한 항목입니다.

필수
핵심 테스트 기술 제품군
나노 들여쓰기, 동적 나노 핀덴티션, 나노 스크래치, 나노 웨어 및 내부 SPM 이미징을 포함합니다.
입증
정전 용량 트랜스듀서 기술
나노미터에서 마이크로미터 길이 의 스케일에 대한 신뢰할 수 있는 기계적 특성화를 위해 낮은 열 드리프트로 높은 감도를 제공합니다.
직관적인
제어 소프트웨어 및 작동
기술자 수준의 작업자가 신뢰할 수 있는 측정을 지원합니다.

특징

TS 77 선택 설계

  1. 컬러 광학
  2. 샘플 척
  3. 진동 방지
  4. 환경 인클로저
  5. 피에조 스캐너
  6. 정전 용량 트랜스듀서
  7. 샘플 번역 스테이징
  8. 화강암 프레임

TS 77 테스트 모드 선택: 필수 툴킷

나노 들여쓰기 - 고정밀 기계적 특성화

탄성 계수, 경도, 크리프, 스트레스 이완 및 국소화 된 미세 구조, 인터페이스, 작은 표면 기능 및 박막의 골절 인성을 특성화합니다.

인시투 SPM 이미징 - 우수한 나노역학 활성화

나노 기계적 테스트를 수행하기 위해 지형 이미징을 위해 샘플 표면을 래스터하는 동일한 프로브를 활용하여 우수한 나노 기계적 특성화 결과, 데이터 신뢰성 및 나노미터 정밀 테스트 배치 정확도를 보장합니다.

기계적 특성 매핑 - 고속 매핑 및 빠른 데이터 수집

기존의 나노 들여쓰기 측정보다 최대 180배 빠른 고속 테스트 기능을 제공합니다. 초당 두 개의 나노 들여쓰기 테스트에서 불균성 물질의 고해상도 기계적 특성 지도를 몇 분 이내에 얻을 수 있습니다.

마모 테스트 - 정량적 나노 스케일 내마모성

정량적 마모 량 및 마모 제거 율은 적용된 접촉력, 슬라이딩 속도 및 패스 수의 함수로 측정될 수 있습니다. 테스트의 규모로 인해 개별 미세 구조, 인터페이스 및 박막의 마찰 성능을 쉽게 측정 할 수 있습니다.

히시트론 TS 선택 옵션

동적 나노 식별 - 깊이 프로파일링, 점탄성 특성

다이나믹 나노 들여쓰기는 준 정적 힘 구성 요소에 작은 진동력을 중첩하여 재료 표면에 깊이의 함수로서 경도 및 계둘루의 연속 적인 측정을 얻습니다. 동적 나노 들여쓰기 옵션에는 동적 측정 및 컨트롤러 전자 제품에 최적화된 정전용량 트랜스듀서가 포함되어 있어 깊이, 주파수 및 시간을 테스트하는 함수로서 우수한 결과를 제공합니다.

나노 스크래치 - 마찰, 마르 저항 및 박막 접착

Nanoscratch은 정전기 작동식 2차원 트랜스듀서를 사용하여 제어된 방식으로 정상적인 힘을 적용하는 동시에 시료 표면을 가로질러 팁을 측면으로 이동하는 데 필요한 힘을 측정합니다. 나노 스크래치 옵션은 시장에서 가장 민감하고 신뢰할 수있는 나노 스케일 마찰 및 박막 접착 측정을 제공하는 측면 이동을위한 전동 스테이징에 의존하지 않습니다.

소프트웨어

TS 77 제어 소프트웨어 선택

간소화된 시스템 운영 및 데이터 분석

Bruker의 TS 선택 제어 및 분석 소프트웨어 패키지는 측정 프로세스를 단순화하기 위해 특별히 개발되었습니다. 샘플 로드 및 테스트 설정에서 측정 실행 및 데이터 분석에 이르기까지. TS Select 제어 소프트웨어는 간단하고 높은 스루푸트 및 실수없는 특성화를 위해 자동화 된 샘플 테스트 및 계측기 교정 루틴을 통합합니다.

추가 정보

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