Hysitron TS 77 Select
Hysitron TS 77 Select Nanoindenter
Le système de banc d'essai nanomécanique et nanotribologique automatisé Hysitron TS 77 Select offre le plus haut niveau de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité parmi tous les instruments de sa catégorie. Construit autour de la célèbre technologie de transducteur capacitif TriboScope de Bruker, ce nouveau système de test fournit une caractérisation mécanique et tribologique fiable sur des échelles de longueur allant du nanomètre au micromètre. Prenant en charge les modes de test les plus importants, le TS Select est une entrée abordable dans la nanoindentation quantitative, la nanoindentation dynamique, le nanoscratch, la nano-usure et la cartographie des propriétés mécaniques à haute résolution.
TS 77 Select Design
- Optique de couleur
- Mandrin pour échantillon
- Anti-vibration
- Coffret environnemental
- Scanner piézoélectrique
- Transducteur capacitif
- Etage de translation de l'échantillon
- Cadre en granit
Modes de Test du TS 77 Select : Votre boîte à outils essentielle
Nanoindentation - Caractérisation mécanique de haute précision
Caractérisez le module d'élasticité, la dureté, le fluage, la relaxation des contraintes et la résistance à la rupture de microstructures localisées, d'interfaces, de petites caractéristiques de surface et de films minces.
Imagerie SPM in situ - Pour une nanomécanique supérieure
Utilise la même sonde pour tracer la surface de l'échantillon destiné à l'imagerie topographique que pour réaliser le test nanomécanique, garantissant ainsi des résultats supérieurs pour la caractérisation nanomécanique, la fiabilité des données et la précision du placement du test au nanomètre près.
Nanoscratch - Frottement, résistance à l'abrasion et adhésion des couches minces
L'option Nanoscratch utilise un transducteur bidimensionnel actionné électrostatiquement pour appliquer une force normale de manière contrôlée tout en mesurant simultanément la force requise pour déplacer la pointe latéralement sur la surface de l'échantillon. L'option nanoscratch ne dépend pas d'une mise en scène motorisée pour le mouvement latéral, ce qui permet d'obtenir les mesures de friction à l'échelle nanométrique et d'adhésion de couches minces les plus sensibles et les plus fiables du marché.
Cartographie des propriétés mécaniques - Cartographie à grande vitesse et acquisition rapide des données
Offre des capacités de test à grande vitesse, jusqu'à 180x plus rapide que les mesures traditionnelles de nanoindentation. À raison de deux tests de nanoindentation par seconde, des cartes de propriétés mécaniques haute résolution de matériaux inhomogènes peuvent être obtenues en quelques minutes.
Tests d'usure - Résistance à l'usure quantifiée à l'échelle nanométrique
Les volumes d'usure quantitatifs et les taux d'élimination de l'usure peuvent être mesurés en fonction de la force de contact appliquée, de la vitesse de glissement et du nombre de passages. Grâce à l'échelle des tests, les performances tribologiques des microstructures, interfaces et films minces individuels peuvent être facilement mesurées.
Options Hysitron TS Select
Nanoindentation dynamique - Profilage en profondeur, propriétés viscoélastiques
La nanoindentation dynamique superpose une petite force oscillatoire à une composante de force quasi-statique pour obtenir une mesure continue de la dureté et du module en fonction de la profondeur dans la surface d'un matériau. L'option de nanoindentation dynamique comprend un transducteur capacitif optimisé pour les mesures dynamiques et un contrôleur électronique permettant d'obtenir des résultats supérieurs en fonction de la profondeur de l'essai, de la fréquence et du temps.
Logiciel de Contrôle TS 77 Select
Opérations de système et analyse de données simplifiées
Le logiciel de commande et d'analyse TS Select de Bruker a été spécialement conçu pour simplifier le processus de mesure, à commencer par le chargement des échantillons et la mise en place des tests jusqu'à l'exécution des mesures et l'analyse des données. Le logiciel de contrôle TS Select intègre des routines automatisées de test des échantillons et d'étalonnage des instruments pour une caractérisation simple, à haut débit et sans erreur.
