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遷移金属

ウルツ鉱薄膜中のMg配位の測定
遷移元素、希土類およびアクチニドイオンは3d、4d、5d、4fおよび5f族に属しており、多くのEPR研究の対象となっています。EPR研究で遷移元素が興味対象となっている一つのテーマは、その可変原子価です。例えば、Zn1xMgxOの錯体は、酸化物半導体用の多機能材料であり、バルク内および界面での原子配列が酸化物の重要な特性を決定します。EPRはヘテロエピタキシャルウルツ鉱Zn1xMgxO:Mn薄膜中のMg配位の測定に使用されます。

 

 

 

 

 

Zn0.99Mg0.01O:Mn (pO2 = 0.016 mbar, cMn = 0.05%) 薄膜サンプル G5189 の297 Kにおける B┴c (上) および BIIc (下)のEPRスペクトルの実験値とシミュレーション値。
*印は、サファイア基板中の Fe3+ と Cr3+の不純物の信号を示す。

EPR Physics
Data courtesy Dr. Andreas Pöppl, Universitӓt Leipzig (J. Mater. Chem. C, 2015, 3, 11918)
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