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Contour Elite™ シリーズは、幅広い試料表面の高速自動測定に対応できるように、特別に設計されています。ナノ~マクロスケールの表面構造を捕捉できるContour Eliteなら、ディープトレンチ、高アスペクト比の穴、形状起伏の大きいまたは小さい試料、さらには湾曲のイメージングにまで対応可能です。

 

 

 

製造現場での実績があるハードウェアプラットフォーム、パワフルなVision64®ソフトウェア、高忠実度のイメージング機能、ゲージ対応の測定機能を備えたEliteは、幅広い業界に最適な計測ツールです。専門的なアプリケーションに応じた多くのカスタマイズオプションを利用できるContour Eliteは、R&D計測に適しているほか、ハイスループットの製造環境の厳しい測定要件にも対応できるシステムです。

 

 

各種業界に対応する3次元白色光干渉型顕微鏡

Precision Machining figure D 50x50

精密機械加工および工作

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Semiconductor and Microelectronics figure E 50x50

半導体とマイクロエレクトロニクス

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Medical Devices and Implants figure C 50x50

医療機器およびインプラント

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Automotive and Aerospace figure C 50x50

自動車と航空宇宙

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