ブルカーのナノインデンター製品群の一つであるHysitron PIシリーズ PicoIndenterは、SEM・TEM内で材料の変形や破壊過程をリアルタイムに観察しながら、硬さや弾性率などの機械特性を定量評価できます。機械特性と組織変化を直接結び付けた、その場解析を実現します。
独自のトランスデューサー設計により、試験中を通して優れた安定性を発揮し、ナノスケール領域においても高精度な定量データを取得できます。また、顕微鏡の映像を利用して試験中の変形挙動をリアルタイムで観察できるため、機械特性と微細構造変化を直接関連付けた解析が可能です。
主要なSEM・TEMメーカーに対応した豊富なラインアップを取り揃えており、研究目的や装置環境に最適なシステムを選択いただけます。
ナノインデンテーション
高精度な位置決めとナノスケールでの荷重・変位制御により、硬さや弾性率などの基本的な機械特性を定量評価します。
引張試験
ドッグボーン試験片や薄膜、ナノワイヤの引張・押引試験(Push-to-Pull)により、低次元材料の応力-ひずみ挙動をin-situで評価します。
曲げ試験
SEM観察下で試験片寸法や測定位置を正確に確認・制御し、単相材料、複合材料、多層材料の曲げ剛性や破壊靭性を評価します。
圧縮試験
マイクロピラーや粒子などの微小構造を圧縮し、変形挙動をリアルタイムで観察しながら応力-ひずみ特性や降伏特性を評価します。
In situナノインデンテーションは、SEMやTEM、光学顕微鏡を用いて材料の変形挙動をリアルタイムに観察しながら、硬さ、弾性率、破壊特性、クリープ特性などの機械特性をナノスケールで評価する技術です。
In-situナノインデンテーションは金属、セラミックス、高分子、薄膜・コーティングから、ナノワイヤやMEMSデバイスまで、幅広い材料・微細構造の力学特性を評価できます。
システムおよびトランスデューサーの仕様によって異なります。PI Envisionシステムおよびトランスデューサーの仕様によって異なります。PI Envision SEM PicoIndenterは最大250 mNの荷重と150 µmの変位に対応しています。一方、PI 89 SEM PicoIndenterは最大3.5 Nの荷重および150 µmの変位に対応します。
加熱・冷却ステージを組み合わせることで、高温環境から極低温環境まで幅広い温度条件でナノインデンテーション試験を実施できます。PI Envisionは室温から800℃まで、PI 89は-150℃から1000℃までの温度範囲に対応しており、材料の温度依存的な力学特性を評価可能です。
はい。PI 89などの先進的なシステムでは、最大10³ s⁻¹レベルの高ひずみ速度試験に対応しており、さまざまな温度条件下で材料の変形挙動を評価できます。
ナノインデンテーションでは、試験中に取得される荷重-変位曲線を解析することで、硬さ、弾性率、クリープ特性、破壊特性などの材料特性を定量的に評価できます。解析にはOliver-Pharr法をはじめとする各種モデルが用いられ、材料の機械的特性を高精度に算出します。
In-situナノインデンテーションでは、き裂の発生・進展や塑性変形、破壊挙動をその場で観察できます。力学応答と変形プロセスを直接関連付けて解析できるため、破壊メカニズムの解明や故障解析に有効です。
ブルカーはデータ取得から試験制御、解析までを一元管理できるソフトウェアプラットフォームとして、TriboScanおよびTriboIQを提供しています。
はい。ブルカーのPicoIndenterでは、荷重・変位データとSEM/TEM動画を同期して取得できます。これにより、変形・破壊プロセスと力学特性データを直接関連付けて解析することが可能です。
ブルカーはナノ構造の力学特性評価向けに、Push-to-Pull(PTP)デバイスおよびElectrical Push-to-Pull(E-PTP)デバイスを提供しています。
ブルカーは様々なウェビナーを通して、新しい製品やアプリケーション、評価事例をご紹介しています。大学・民間より深い知見を持つ講師をお招きし、招待講演として最先端の研究事例のご紹介いただいております。
どのようなお手伝いが必要ですか?
ブルカーはお客様と協力し、実世界のアプリケーション課題を解決します。次世代技術を開発し、お客様が適切なシステムとアクセサリーを選択できるようサポートします。このパートナーシップは、機器販売後もトレーニングや延長サービスを通じて継続します。
高度な訓練を受けたサポートエンジニア、アプリケーションサイエンティスト、専門知識を持つエキスパートからなるチームが、システムサービスやアップグレード、アプリケーションサポート、トレーニングを通じて、お客様の生産性最大化に全力を尽くします。