测试与测量

用于扫描电镜和透射电镜的原位纳米力学测试系统

用于扫描电镜和透射电镜的原位纳米力学测试系统

产品

SEM 或 TEM 中的定量原位纳米力学

作为纳米力学测试系统的全球领导者,布鲁克的 Hysitron PI Series PicoIndenters 可助您轻松在显微镜下进行原位纳米力学实验。布鲁克独有的传感器设计在整个实验过程中为您提供超强的稳定性,即使在纳米级也能获得精确的数据。从显微镜拍摄的视频可实现实时监测实验进程,并将力学数据与显微成像直接关联起来。此外,与众多主流显微镜品牌兼容的设计,可确保您能找到与您的研究完美匹配的解决方案。

测试模式

测试模式

探测、弯曲、压入,并测量

纳米压痕

准确的水平定位和纳米尺度的载荷及位移控制,实现多种不同材料基础力学性质的定量检测,如硬度、模量等。

拉伸测试

直接拉伸和压转拉测试可以用在包括狗骨头样品、薄膜或者纳米线应力应变行为的原位测量。这些低维材料难以在用传统方法测量。

弯曲测试

通过扫描电镜成像功能实现样品精确定位和样品尺寸测量,从而能直接测量单一相区、聚合物和多层材料的弯曲刚度和断裂韧性等。

压缩测试

可以压缩微柱、颗粒和其它小尺寸材料来测量应力应变行为和屈服特性,同时实时观察变形行为。还可以通过扫描电镜成像来确定探针针尖位置。

资源

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支持

我们能提供哪些支持?

布鲁克致力于为客户解决实际应用问题。我们不断开发新的测试技术,并帮助客户选择最合适的系统与配件。我们通过培训或者延保等方式,与客户保持长久的合作关系。

我们拥有专业的服务团队,支持工程师、应用科学家和专家团队将通过系统服务,功能升级,应用拓展和技术培训等多种方式帮助您最大化的发挥设备的效能。

 

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