Hysitron PI 89 SEM PicoIndenterは、走査電子顕微鏡(SEM、FIB-SEM、PFIB)の高分解能観察機能を活用し、観察と同時に定量的なナノ機械特性評価を実現します。
PI 89は、世界初の商用SEM in-situナノ機械特性評価システムを実現したブルカー独自の静電容量型トランスデューサー技術をさらに発展させたシステムです。また、PI 89 Autoでは、EBSD、EDS、SEM観察、機械特性マッピングの4つの手法に自動化機能を追加し、高効率なデータ取得と解析を実現します。
PI 89では、ナノインデンテーション試験、引張試験、マイクロピラー圧縮試験、粒子圧縮試験、カンチレバー曲げ試験、破壊試験、疲労試験、動的試験、機械特性マッピングなど、幅広いin-situナノ機械特性評価に対応しています。
詳細は、製品カタログまたはFAQをご覧ください。
Hysitron PI 89は、大きな試料傾斜角と短いワーキングディスタンスを両立し、試験中の最適な観察環境を実現します。PI 89は優れた柔軟性と性能を研究者に提供します。
SEM PicoIndenterを用いた真の変位制御試験における荷重低下挙動。
Rate limiting deformation mechanisms of bcc metals in confined volumes, Acta Materialia, Volume 166, March 2019, p. 687-701.
Hysitron PI 89は、Bruker独自のサブナノメートル分解能トランスデューサーと圧電アクチュエータ駆動のフレクシャ機構を採用しており、真の変位制御試験および真の荷重制御試験を実現します。
真の変位制御モードでは、圧電アクチュエータが設定された変位速度で試料を変形させ、トランスデューサーが荷重を測定します。
真の荷重制御モードでは、トランスデューサーが静電容量方式により荷重を付与すると同時に、変位を高精度に測定します。
トランスデューサーの独自の低消費電流設計により熱ドリフトを最小限に抑え、優れた荷重・変位分解能を実現します。
SEM動画のリアルタイム取得により、力学データと顕微鏡像を直接相関させながら観察できます。
試料提供:Professor Steven Nutt, University of Southern California
Hysitron PI 89で取得したin-situ力学データは、SEM画像と同期して並列表示できます。これにより、欠陥、機械的ひずみ、熱的・電気的刺激が材料の性能、寿命、および信頼性に与える影響を、ナノメートルからマイクロメートルスケールで直接評価できます。力学データとSEM観察の同期により、以下のような高度な解析が可能になります。
Hysitron PI 89ピコインデンターは、革新的なin-situテスト技術のパッケージをサポートし、高度なイメージングとFIBミリングのための2つの回転およびチルトステージ構成に対応しています。
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