O Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter aproveita os recursos avançados de imagem dos microscópios eletrônicos de varredura (SEM, FIBSEM, PFIB), tornando possível realizar testes nanomecânicos quantitativos ao mesmo tempo em que cria imagens. O PI 89 avança ainda mais a tecnologia de transdutor capacitivo líder de mercado da Bruker, que possibilitou as primeiras plataformas comerciais de nanomecânica SEM in-situ. As técnicas de teste habilitadas incluem nanoindentação, teste de tração, compressão de pilar, compressão de partículas, flexão em cantilever, fratura, fadiga, teste dinâmico e mapeamento de propriedades mecânicas.
O design compacto do Hysitron PI 89 permite a inclinação máxima da platina e a distância mínima de trabalho para permitir imagens ideais durante o teste. O PI 89 oferece aos pesquisadores maior versatilidade e desempenho do que os sistemas concorrentes:
O Hysitron PI 89 utiliza o transdutor de sensibilidade subnanômetro proprietário da Bruker e a flexão acionada por piezo para testes intrinsecamente controlados por deslocamento e controlados por carga:
Os dados mecânicos in situ adquiridos com o Hysitron PI 89 são sincronizados com a imagem SEM e exibidos lado a lado. Isso permite que você veja a influência de defeitos, tensão mecânica e estímulos térmicos ou elétricos no desempenho, vida útil e durabilidade dos materiais projetados – de escalas de nanômetros a micrômetros. Essa sincronização permite uma gama maior de análises:
Bruker's new Hysitron PI 89 Auto SEM PicoIndenter enables full automation of four techniques: EBSD, EDS, SEM imaging, and mechanical property mapping.
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O design modular do Hysitron PI 89 suporta um conjunto completo de técnicas inovadoras de teste in-situ e duas configurações de estágio de rotação e inclinação para imagens avançadas e fresamento FIB.
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Hysitron PI 89 supports a full suite of in-situ testing techniques and options, including nanoindentation, compressions, elevated temperature (>1000oC), cryogenic temperature, nanoTribology, electrical characterization, nanoDynamic, Push-to-Pull (PTP), direct-pull tension, Electrical Push-to-Pull (EPTP), high strain rate, and scanning probe microscopy imaging.
PI 89 offers rotation and tilt (R/T) stage configurations to give access to EBSD and other detectors. For full access to all detectors, the instrument should operated with an optimal stage configuration and working distance, and fixtures and cabling should not be obstructing any detectors.
Transducers and flexures are interchangeable components of PI 89. Transducers are available with an extended force range from 10 mN to 3.5 N. On PI 89, the Mechanically Amplified (MA) Flexure provides a 150 µm displacement range, and the Direct Drive (DD) Piezo Flexure provides a 30 µm displacement range with improved displacement control.
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PI 89 offers a broad catalog of tips in multiple geometries and materials, including diamond, sapphire, vanadium carbide, boron nitride, tungsten, and steel. Tips are selected according to test mode and sample material. Contact us for help selecting the appropriate tip for your research.
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