Série SEM PicoIndenter

Hysitron PI 89

Instrumento nanomecânico SEM in-situ robusto, preciso e modular
O Instrumento de Teste Nanomecânico In-Situ de Próxima Geração

Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter

O Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter aproveita os recursos avançados de imagem dos microscópios eletrônicos de varredura (SEM, FIBSEM, PFIB), tornando possível realizar testes nanomecânicos quantitativos ao mesmo tempo em que cria imagens. O PI 89 avança ainda mais a tecnologia de transdutor capacitivo líder de mercado da Bruker, que possibilitou as primeiras plataformas comerciais de nanomecânica SEM in-situ. As técnicas de teste habilitadas incluem nanoindentação, teste de tração, compressão de pilar, compressão de partículas, flexão em cantilever, fratura, fadiga, teste dinâmico e mapeamento de propriedades mecânicas.

Incomparável
controle e desempenho
Fornece acionamento de deslocamento intrínseco e controle de deslocamento de <1nm a 150µm, faixa de carga líder do setor de <1µN a 3,5N e taxa de feedback de 78kHz e aquisição de dados de até 39kHz para capturar eventos transitórios.
Inovativa
tecnologia de palco
Permite o posicionamento preciso da amostra com linear codificado e duas configurações de estágios de rotação e inclinação para testes confiáveis e repetíveis, mapeamento de propriedades, fresamento FIB in-situ e imagens analíticas com detectores EBSD, EDS, BSE e TKD.
Versátil
design modular
Suporta um conjunto completo de técnicas e opções de teste in situ, incluindo temperatura elevada, nanoTribologia, módulo de caracterização elétrica, nanoDynamic, Push-to-Pull, tensão de tração direta, alta taxa de deformação e imagem de microscopia de sonda de varredura.
Recursos

Desempenho e Funcionalidade Avançados

O design compacto do Hysitron PI 89 permite a inclinação máxima da platina e a distância mínima de trabalho para permitir imagens ideais durante o teste. O PI 89 oferece aos pesquisadores maior versatilidade e desempenho do que os sistemas concorrentes:

  • Plataforma redesenhada aumenta a versatilidade e a facilidade de uso
  • Os estágios lineares codificados de 1 nm fornecem maior repetibilidade durante os modos de teste automatizados enquanto aumentam o alcance do deslocamento
  • A rigidez da estrutura aprimorada (~0,9 x 106 N/m) oferece maior estabilidade durante todo o processo de teste
  • As configurações de estágio de rotação e inclinação (RT) permitem imagens, fresamento FIB e acesso a detectores, como EDS, CBD, EBSD e TKD para dados analíticos e imagens
Two rotation/tilt stage configurations available with next-generation system design. A simple sliding stage added to the system allows quick and simple adjustment of the sample position relative to the transducer.

Controle de Deslocamento Verdadeiro

Fine load drops in true-displacement control test with SEM PicoIndenter. Rate limiting deformation mechanisms of bcc metals in confined volumes. Acta Materialia, Volume 166, March 2019, p. 687-701, 2019

O Hysitron PI 89 utiliza o transdutor de sensibilidade subnanômetro proprietário da Bruker e a flexão acionada por piezo para testes intrinsecamente controlados por deslocamento e controlados por carga:

  • No modo de controle de deslocamento intrinsecamente, o atuador piezoelétrico pode aplicar deslocamento com uma taxa de deslocamento predeterminada e o transdutor mede a força
  • No modo de controle de carga real, o transdutor pode aplicar força eletrostaticamente enquanto simultaneamente mede o deslocamento capacitivamente
  • O design exclusivo de baixa corrente do transdutor minimiza o desvio térmico e fornece sensibilidade de carga e deslocamento sem precedentes

Dados mecânicos in-situ sincronizados com imagens SEM e mapeamento analítico

Video capture from the SEM enables real-time monitoring and direct correlation of mechanical data to microscope imaging. Samples were provided courtesy of Professor Steven Nutt, University of Southern California.

Os dados mecânicos in situ adquiridos com o Hysitron PI 89 são sincronizados com a imagem SEM e exibidos lado a lado. Isso permite que você veja a influência de defeitos, tensão mecânica e estímulos térmicos ou elétricos no desempenho, vida útil e durabilidade dos materiais projetados – de escalas de nanômetros a micrômetros. Essa sincronização permite uma gama maior de análises:

  • Os estágios de rotação e inclinação do SEM oferecem uma combinação de EBSD e mapeamento de propriedades mecânicas de amostras
  • A fresagem FIB pode ser realizada em uma amostra antes e depois do teste nanomecânico, sem ventilar uma câmara

Automated Co-Localized Imaging and Analysis for High-Throughput In-Situ Nanoindentation

Bruker's new Hysitron PI 89 Auto SEM PicoIndenter enables full automation of four techniques: EBSD, EDS, SEM imaging, and mechanical property mapping.

PI 89 Auto SEM PicoIndenter
Upgrade Options and Add-Ons

Expand PI 89's Capabilities

Opções e Acessórios

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O design modular do Hysitron PI 89 suporta um conjunto completo de técnicas inovadoras de teste in-situ e duas configurações de estágio de rotação e inclinação para imagens avançadas e fresamento FIB.

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