Le PicoIndenter SEM Hysitron PI 89 exploite les capacités d'imagerie avancées des microscopes électroniques à balayage (SEM, FIBSEM, PFIB), ce qui permet d'effectuer des tests nanomécaniques quantitatifs tout en produisant simultanément des images. Le PI 89 fait un pas de plus dans la technologie des transducteurs capacitifs de Bruker, leader sur le marché, ce qui a permis la mise en place des premières plates-formes commerciales de nanomécanique SEM in-situ. Les techniques de test disponibles comprennent la nanoindentation, les essais de traction, la compression de piliers, la compression de particules, la flexion de porte-à-faux, la fracture, la fatigue, les essais dynamiques et la cartographie des propriétés mécaniques.
La conception compacte de l'Hysitron PI 89 permet une inclinaison de la scène maximale et une distance de travail minimale pour assurer une imagerie optimale pendant les tests. Le PI 89 offre aux chercheurs une plus grande polyvalence et de meilleures performances que les systèmes concurrents :
L'Hysitron PI 89 utilise le transducteur de sensibilité sub-nanométrique breveté de Bruker ainsi que le système de flexion piézoélectrique pour les essais à contrôle de déplacement intrinsèque et à contrôle de charge :
Les données mécaniques in situ acquises avec l'Hysitron PI 89 sont synchronisées avec l'imagerie SEM et affichées côte à côte. Cela vous permet de voir l'influence des défauts, de la déformation mécanique et des stimuli thermiques ou électriques sur la performance, la durée de vie et la durabilité des matériaux d'ingénierie, allant de l'échelle du nanomètre à celle du micromètre. Cette synchronisation permet une plus grande variété d'analyses :
Bruker's new Hysitron PI 89 Auto SEM PicoIndenter enables full automation of four techniques: EBSD, EDS, SEM imaging, and mechanical property mapping.
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La conception modulaire de l'Hysitron PI 89 prend en charge une gamme complète de techniques d'essai in situ innovantes et deux configurations de platine de rotation et d'inclinaison pour l'imagerie avancée et le fraisage FIB.
Nos webinaires couvrent les meilleures pratiques, présentent de nouveaux produits, apportent des solutions rapides à des questions délicates et proposent des idées pour de nouvelles applications, de nouveaux modes ou de nouvelles techniques.
Hysitron PI 89 supports a full suite of in-situ testing techniques and options, including nanoindentation, compressions, elevated temperature (>1000oC), cryogenic temperature, nanoTribology, electrical characterization, nanoDynamic, Push-to-Pull (PTP), direct-pull tension, Electrical Push-to-Pull (EPTP), high strain rate, and scanning probe microscopy imaging.
PI 89 offers rotation and tilt (R/T) stage configurations to give access to EBSD and other detectors. For full access to all detectors, the instrument should operated with an optimal stage configuration and working distance, and fixtures and cabling should not be obstructing any detectors.
Transducers and flexures are interchangeable components of PI 89. Transducers are available with an extended force range from 10 mN to 3.5 N. On PI 89, the Mechanically Amplified (MA) Flexure provides a 150 µm displacement range, and the Direct Drive (DD) Piezo Flexure provides a 30 µm displacement range with improved displacement control.
Contact us to discuss what transducer and flexure options will be the best fit for your experiments.
PI 89 offers a broad catalog of tips in multiple geometries and materials, including diamond, sapphire, vanadium carbide, boron nitride, tungsten, and steel. Tips are selected according to test mode and sample material. Contact us for help selecting the appropriate tip for your research.