SÉRIE DE PICOINDENTER SEM

Hysitron PI 89

Instrument nanomécanique SEM in-situ robuste, précis et modulaire
L'INSTRUMENT DE TEST NANOMÉCANIQUE IN-SITU DE NOUVELLE GÉNÉRATION

PicoIndenter SEM Hysitron PI 89

Le PicoIndenter SEM Hysitron PI 89 exploite les capacités d'imagerie avancées des microscopes électroniques à balayage (SEM, FIBSEM, PFIB), ce qui permet d'effectuer des tests nanomécaniques quantitatifs tout en produisant simultanément des images. Le PI 89 fait un pas de plus dans la technologie des transducteurs capacitifs de Bruker, leader sur le marché, ce qui a permis la mise en place des premières plates-formes commerciales de nanomécanique SEM in-situ. Les techniques de test disponibles comprennent la nanoindentation, les essais de traction, la compression de piliers, la compression de particules, la flexion de porte-à-faux, la fracture, la fatigue, les essais dynamiques et la cartographie des propriétés mécaniques.

Inégalé
contrôle et performance
Offre un actionnement de déplacement intrinsèque, un contrôle du déplacement de <1 nm à 150 µm, une gamme de charge de pointe de <1 µN à 3,5 N, ainsi qu'une fréquence de retour de 78 kHz et une acquisition de données jusqu'à 39 kHz pour capturer les événements transitoires.
Innovant
technologie de platine
Permet un positionnement précis de l'échantillon avec des platines linéaires codées et deux configurations de rotation et d'inclinaison codés pour des essais fiables et répétables, la cartographie des propriétés, le fraisage FIB in situ et l'imagerie analytique avec des détecteurs EBSD, EDS, BSE et TKD.
Polyvalent
conception modulaire
Prend en charge une gamme complète de techniques et d'options d'essais in situ, notamment la température élevée (>1000oC), la température cryogénique, la nanoTribologie, le module de caractérisation électrique,, la nanoTribologie, le module de caractérisation électrique, la nanoDynamique, Push-to-Pull (PTP), Electrical Push-to-pull (EPTP), la tension directe, la vitesse de déformation élevée et l'imagerie par microscopie à balayage.
Caractéristiques

Performances et Fonctionnalités Avancées

La conception compacte de l'Hysitron PI 89 permet une inclinaison de la scène maximale et une distance de travail minimale pour assurer une imagerie optimale pendant les tests. Le PI 89 offre aux chercheurs une plus grande polyvalence et de meilleures performances que les systèmes concurrents :

  • La plateforme redessinée augmente la polyvalence et la facilité d'utilisation. 
  • Les platines linéaires codées en 1 nm offrent une meilleure répétabilité dans les modes de test automatisés tout en augmentant la plage de déplacement.
  • La rigidité améliorée du cadre (~0,9 x 106 N/m) assure une plus grande stabilité tout au long du processus d'essai.
  • Les configurations des platines de rotation et d'inclinaison (RT) permettent l'imagerie, le fraisage FIB et l'accès aux détecteurs, tels que EDS, CBD, EBSD et TKD pour les données analytiques et l'imagerie.
Deux configurations de platine de rotation/inclinaison disponibles avec la conception du système de nouvelle génération. Une simple platine coulissante ajoutée au système permet de régler rapidement et simplement la position de l'échantillon par rapport au transducteur.

Contrôle du Déplacement Réel

Fines chutes de charge lors d'un test de contrôle du déplacement réel avec le SEM PicoIndenter. Mécanismes de déformation limitant la vitesse des métaux bcc dans des volumes confinés. Acta Materialia, volume 166, mars 2019, p. 687-701, 2019.

L'Hysitron PI 89 utilise le transducteur de sensibilité sub-nanométrique breveté de Bruker ainsi que le système de flexion piézoélectrique pour les essais à contrôle de déplacement intrinsèque et à contrôle de charge :

  • En mode de contrôle de déplacement intrinsèque, l'actionneur piézoélectrique peut appliquer un déplacement avec une vitesse de déplacement prédéterminée, et le transducteur mesure la force.
  • En mode de contrôle de charge réel, le transducteur peut appliquer une force électrostatique tout en mesurant simultanément le déplacement de manière capacitive.
  • La conception unique à faible courant du transducteur minimise la dérive thermique et offre une sensibilité à la charge et au déplacement sans précédent.

Données Mécaniques in-situ Synchronisées avec l'Imagerie SEM et la Cartographie Analytique

 La capture vidéo du SEM permet un suivi en temps réel et une corrélation directe des données mécaniques avec l'imagerie du microscope. Les échantillons ont été fournis avec l'aimable autorisation du professeur Steven Nutt, de l'université de Californie du Sud.

 

Les données mécaniques in situ acquises avec l'Hysitron PI 89 sont synchronisées avec l'imagerie SEM et affichées côte à côte. Cela vous permet de voir l'influence des défauts, de la déformation mécanique et des stimuli thermiques ou électriques sur la performance, la durée de vie et la durabilité des matériaux d'ingénierie, allant de l'échelle du nanomètre à celle du micromètre. Cette synchronisation permet une plus grande variété d'analyses :

  • Les étages de rotation et d'inclinaison du SEM permettent de combiner l'EBSD et la cartographie des propriétés mécaniques des échantillons.
  • Le fraisage par FIB peut être effectué sur un échantillon avant et après les tests nanomécaniques, sans avoir à ventiler une chambre.

Automated Co-Localized Imaging and Analysis for High-Throughput In-Situ Nanoindentation

Bruker's new Hysitron PI 89 Auto SEM PicoIndenter enables full automation of four techniques: EBSD, EDS, SEM imaging, and mechanical property mapping.

PI 89 Auto SEM PicoIndenter

Customizable for your research.

Something about upgrades and add-ons; reference PI Cryo and both advanced flexure options. Invitation to contact expert to discuss specific measurement requirements and needs.

UPGRADE OPTIONS AND ADD-ONS

Expand PI 89's Capabilities

Options & Accessoires

Parcourez notre gamme de techniques de caractérisation

La conception modulaire de l'Hysitron PI 89 prend en charge une gamme complète de techniques d'essai in situ innovantes et deux configurations de platine de rotation et d'inclinaison pour l'imagerie avancée et le fraisage FIB.

Webinars

Regardez nos Programmes Récents sur la Nanomécanique dans le SEM

Nos webinaires couvrent les meilleures pratiques, présentent de nouveaux produits, apportent des solutions rapides à des questions délicates et proposent des idées pour de nouvelles applications, de nouveaux modes ou de nouvelles techniques.

Plus d'Information

En Savoir Plus

Principales Publications Relatives au SEM

2020
2019
2018
Archive

2017

2016 

2015 

2014 

2013

2012

2011 

2008 - 2010 

Contactez Nous

Input value is invalid.

* S’il vous plaît remplir les champs obligatoires.

S’il vous plaît entrer votre prénom
Veuillez entrer votre nom de famille
Veuillez entrer votre adresse e-mail
Merci d'entrer un numéro valide
Veuillez entrer dans votre entreprise/institution
Sélectionnez l'option qui décrit le mieux ma situation actuelle
Veuillez m’ajouter à votre liste d’abonnement e-mail afin que je puisse recevoir des invitations aux webinaire, des annonces de produits et des informations concernant les événements près de chez moi.
Veuillez accepter les modalités