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Dimension Icon AFM-Ramanシステムは、硬質の単一防振プラットフォームをベースとして、Icon AFMと研究用グレードの共焦点ラマン顕微鏡で構成されています。この構成により、個々の装置の機能はすべてそのまま使用でき、さらに両者の最適な組み合わせによる性能も利用できます。

主な特長

  • 完全に統合されているので、最新のAFMデータを化学組成または結晶学的構造に関する情報と簡単に相関付けることが可能
  • 高分解能のX-Yステージにより、AFMとラマン顕微鏡の間で短時間で正確な位置決めが可能
  • あらゆるAFM機能を備えており、他のどのシステムよりも多くの機能を提供
  • PeakForce QNM®は、ナノスケールの機械的特性の定量マッピングを実現
  • チップと試料に自由にアクセスできるので、多種多様な標準実験やカスタマイズした実験に対応可能
  • „„ScanAsyst®は、パラメーターの最適化を完全自動化することでイメージング効率を大幅に高めて、最も柔らかい試料に対して最高の結果が得られることを保証
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Dimension Icon-Raman in Raman measurement position. Here acquiring a correlated Raman chemical map of the same polymer blend.