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故障解析

故障解析に利用可能なナノ機械的特性評価技術

既存製品の生産、改良や次世代製品の開発において不具合が生じた際には、その原因の特定が必要です。製品の故障モードを解析することで、エンジニアは製品設計と生産プロセスのパラメーターが製品の信頼性に与える影響を理解できます。

不具合の原因の1つに材料に作用する固有の応力または外部から加えられる応力によって引き起こされる機械的な要因があります。設計上の欠陥、不適切な材料の選択、生産プロセスの欠陥により、製品の破壊、クリープ、磨耗、疲労などの一般的な機械的特性に変化が生じるためです。

ナノ・マイクロスケールの材料の不具合原因を調査するために、局所的な機械的特性、トライボロジー特性、および界面接着特性を定量的に評価することは極めて有効な手段です。ナノインデンテーションは、少量・微小構造・薄い材料に対して定量的な弾性率、硬さ、クリープ、応力緩和、破壊靭性などの評価が可能です。ナノインデンテーションの高い空間分解能でのマッピング機能により、機械的特性の分布を可視化でき、不具合の原因を解明する一助となります。さらに、ナノスケールのスクラッチ試験により、局所的な摩擦・摩耗特性、薄膜の界面接着特性を評価することができます。

故障解析に利用可能な独立型ナノインデンテーションシステム

TI980 Tool Image v5

TI 980 TriboIndenter

ブルカーの最先端のナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。最大の性能、順応性、信頼性、感度、測定スピード

TI950 Tool Image v5

TI 950 TriboIndenter

多用途に使用可能なナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。幅広い複合評価をご提供可能

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TI Premier

コンパクトなプラットフォームでナノスケールの力学特性評価のエッセンスを詰め込んだナノ力学特性評価専用装置

故障解析に利用可能な顕微鏡搭載型ナノインデンテーションシステム

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PI 85L SEM PicoIndenter

SEM(走査電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価ベーシックモデル

 

PI 88 SEM Picoindenter icon

PI 88 SEM PicoIndenter

SEM、FIB/SEM中で行うin-situナノ力学特性評価ハイエンドモデル

 

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

ブルカーのAFM(原子間力顕微鏡)に取り付けてナノインデンテーションを行う専用アタッチメント