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フィルム(500nm〜5μm)

定量的なナノ・マイクロスケールの機械的特性、トライボロジー的特性、界面接着特性の評価

フィルムは薄いものですが、それ自体が全体的に均質で等方性の材料であることはほとんどありません。フィルム中の成分の偏析などにより相や組成が局所的に変動する可能性が高いためです。特定用途のニーズを満たすようなフィルムは作製時のパラメーターを正確に制御することで、フィルムの局所的な性質を決定し、材料特性を発現させます。そのため、ナノ・マイクロスケールの機械的およびトライボロジー的特性評価技術を用いて局所的な評価を行うことは、新しいフィルムの開発、最適化、製造プロセスの管理の指標として極めて有効です。

ブルカーはフィルム特性を把握するために効果的な様々なナノ・マイクロスケールの機械的およびトライボロジー的評価技術を開発しました。ナノインデンテーションおよびマイクロインデンテーションベースの技術と高精度の試験位置決め技術を組み合わせることで、フィルムの局所領域の弾塑性、粘弾性や破壊挙動を測定することができ、全体的なフィルム性能を理解するアプローチが可能になります。さらに、ブルカーの2D静電容量型トランスデューサーはフィルムのトライボロジー特性と界面接着特性を定量的に測定することができます。


アプリケーションノート


フィルムの評価が可能な独立型ナノインデンテーションシステム

TI980 Tool Image v5

TI 980 TriboIndenter

ブルカーの最先端のナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。最大の性能、順応性、信頼性、感度、測定スピード

TI950 Tool Image v5

TI 950 TriboIndenter

多用途に使用可能なナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。幅広い複合評価をご提供可能

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TI Premier

コンパクトなプラットフォームでナノスケールの力学特性評価のエッセンスを詰め込んだナノ力学特性評価専用装置

PI 85l SEM Picoindenter icon

PI 85L SEM PicoIndenter

SEM(走査電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価ベーシックモデル

 

PI 88 SEM Picoindenter icon

PI 88 SEM PicoIndenter

SEM、FIB/SEM中で行うin-situナノ力学特性評価ハイエンドモデル

 

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

ブルカーのAFM(原子間力顕微鏡)に取り付けてナノインデンテーションを行う専用アタッチメント