サブミクロンの長さのスケールで摩耗の特性評価を行いその特性を理解することは、磁気記憶媒体やMEMSで使用される薄いトライボロジーフィルムから大規模な工学システムのトライボロジー性能の最適化まで、あらゆるスケールの材料の摩耗特性を制御する上で重要なことです。ナノ、マクロスケールの摩耗特性を評価し、それらを制御した材料を開発することが耐用年数の長い部品を設計することにつながります。ブルカーのナノトライボロジー試験装置はナノ、マイクロスケールにおける摩耗挙動の定量的測定が可能であり、複雑な非線形、非平衡の摩耗プロセスに対する知見をもたらします。
ブルカーはナノスケールからマイクロスケールまでの摩耗特性評価のために包括的な特性評価技術を開発しました。ブルカーの静電容量型トランスデューサー技術により、摩耗変形挙動に関する定量的な評価を幅広いスケールで行うことができます。ブルカー独自のin-situ SPMイメージング機能と組み合わせることで、シングルアスペリティ接触による摩耗量をサイクル数、滑り速度、加える荷重をパラメーターとして測定することができます。カスタマイズ可能な高耐久性である試験圧子の形状、その材料および環境条件を調整し、実際の材料間の相互作用を再現することでマルチスケールの摩耗プロセスに関する知見を多く得ることができます。
