S4 T-STAR

極微量元素分析用高性能全反射蛍光X線分析装置

迅速で低コストなTXRFの分析手法はICP分析の代替分析法として最適です

全反射蛍光X線分析法 (TXRF)は、様々な試料の極微量分析のために確立された分析法です。S4 T-STARは高い分析精度で24時間365日のルーチン分析に適合したTXRF分析法を提供します。自動QC手順、ソフトウェア品質、多様な種類に試料に適合した豊富なキャリアーにより検出限界値の大幅な改善が実現しました。

主な特徴

  • 卓上型TXRF分析装置S4 T-STARは、ppb以下の極微量濃度範囲から分析可能です。
  • 自動QC機能により常に信頼性の高いデータをお約束します。
  • アプリケーションに応じた豊富なキャリアをご用意しました。
  • 24時間365日連続運転に対応。
  • 大容量最大90試料サンプルチェンジャーによりマルチユーザー対応。
  • サンプルトレイ自動認識機能搭載で操作エラーを最小限に抑えます。

新医薬品、食品および環境規制に適応

  • S4 T-STARは、グローバルサプライチェーンにおいて安全性の確保や産地偽装などを防止する強力なツールです。たとえば稲の低レベルのAsを直接分析することによって実現されるFAO/WHO基準による食品安全性の試験手段として最適です。
  • S4 T-STARは、今後の米国薬局方ガイドラインおよびEU薬局方ガイドラインに従って医薬品製造における活性医薬成分(API)や添加剤中のサブppm触媒要素を監視する用途に用いることができます。
  • S4 T-STARは、上下水、大気、土壌の健全な環境維持のためのソリューションを提供します。低ppm範囲の廃水、スラリーおよび排水中の汚染物質を直接測定することによる環境モニタリングなどに適しています。

優れたサンプル多様性

S4 T-STARは、豊富な種類のキャリアにより多種多様な試料の分析が可能で完全に溶解した液体サンプルの測定ではICPよりも迅速です。

S4 T-STAR: ベンチトップ型TXRFの新スタンダード

様々な試料に対応する豊富なキャリアオプション

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S4 T-STAR パンフレット(PDF)