S4 T-STAR

S4 T-STAR®は、懸濁液、粉体、ナノ粒子、フィルムなど、幅広い種類のサンプルの分析に対応する汎用性の高いツールです。このため、完全に溶解した液体試料を必要とするICPよりも優れています。

• TXRFスペクトロメーターS4 T-STAR®は、サブppb領域で最小の検出限界を提供します。
  
• TXRFは最小のオペレーションコストで、ガス、メディア、洗練されたラボのインフラを必要としません。
  
• 自動品質管理機能により、データおよび装置の品質に信頼性があります。
  
• このシステムは、工業用ルーチン分析において24時間365日稼働できるように最適化されています。
  
• ブルカーが提供する豊富なサンプルトレイとツールは、サンプルの前処理を迅速化し、エラーや汚染のリスクを最小限に抑えます。

The GIXRF Option for the S4 T-STAR allows users to undertake advanced materials characterization via GIXRF (Grazing Incidence X-Ray Fluoresence). GIXRF is particulary suited for the analysis of nanoparticles, monolayers and systems with stratified layers. Find out more by downloading the flyer. 

When detecting samples at ultra-low ppb limits contamination avoidance is of the highest priority – when working with a pure sample the key to this is excellent sample preparation.

Bruker provides a range of accessories alongside their S4 T-STAR and S2 PICOFOX systems.

These include a T-BOX to help achieve contamination-free and accurate sample pipetting and the T-DRY for the vacuum desiccation of samples; with both being designed to help users avoid making any contact with the sample carrier.

Following the collection of measurements, the sample disks can be efficiently and effectively cleaned for later use using Bruker’s chemically resistant washing cassette before clean storage in the T-BOX.

Find out more by dowloading our TXRF Accessories Brochure and watching our video on sample preparation during TXRF.