D8 ADVANCE, X-ray diffraction

D8 ADVANCE シリーズ

D8 ADVANCEは数多のXRD分析用途に適切に対応するべくデザインされた芸術品です。すべての測定モードに対して、一切の妥協なく、専用もしくは多目的コンポーネントを自由自在に組み合わせることができます。

いわゆるDAVINCIデザインにより、すべての要望に対し、コンポーネントの(再)設定を容易に実現します。その拡張性は、未来の分析技術をご提供します。

多目的ソリューション

D8 ADVANCE Eco

01980 Gera et 0006 5 850x850

試料雰囲気制御にも対応した粉末XRD装置のエントリーモデル

D8 ADVANCE Twin

Gonio XYZ 7 Brochure page15 left UND page20 21 powder 850x850

ソフトウェア操作のみで集中法と平行ビーム法を簡単切り替え、粉末試料から非晶質・多結晶薄膜測定に対応した多目的装置

D8 ADVANCE Plus

02630 Goniometer 19 HR XRD red dot 850x850

エピタキシャル薄膜を含むすべての試料を網羅する比類のないシステム

専用ソリューション

XRD²用 D8 ADVANCE 

02630 Goniometer14 XRD2 850x850

2θとγの情報を有する最先端の2次元XRD(XRD2)により、すべての材料特性を明らかに

残留応力評価用 D8 ADVANCE

02630 Gonio XYZ 1 Stress 850x850

機械加工部品やバルク試料、薄膜試料の残留応力・集合組織(配向)状態を解析するエキスパートXRDシステム

D8 ADVANCE 構造決定モデル

02074 D10 komponenten4b 850x850

TOPAS によるRieteveld解析を含む粉末X線回折(XRPD)、散漫散乱または全散乱測定(PDF解析)、および小角X線散乱(SAXS)を網羅する構造決定モデル

Dynamic Beam Optimization: DBO

Dynamic Beam Optimization(DBO)は、統計変動誤差とピーク/バックグラウンド比(P/B比)をかつてないほどに改善し、まったく新しい粉末XRDの世界を切り開きました。その上、ハードウェアの変更は一切必要としません。

D8 ADVANCE with DBO

Gonio XYZ 7 Brochure page15 left UND page20 21 powder 850x850

Dynamic Beam Optimization(DBO)は、粉末XRDのデータを再定義します

きわめて高いエネルギー分解能を有する検出器 LYNXEYE XE-Tは、高速データ収集と試料由来の蛍光X線および入射光由来のKβ線を、効果的に除去します。

独自のVariable Active Detector WindowとMotorized Anti-Scatter Screen(MASS)は、余分な低角度のバックグラウンド散乱、特に空気散乱を大幅に低減し、極低2θ角からの測定に威力を発揮します。

加えて、統計誤差を低減する連続可変スリットとMASSを組み合わせることで、全角度範囲にわたって超高効率に回折強度を記録することができます。

  • 測定の高速化とサンプルスループットに貢献する極めて小さい統計変動誤差
  • 大きな格子定数を有する材料(例:製薬、粘土鉱物、ゼオライトなど)の低角ピークの検出に有利な超低バックグラウンド
  • 不純物ピークを検出する極めてすぐれたピーク/バックグラウンド比
  • 結晶相、および非晶質相に対応した完全定量アプローチを提供する DIFFRAC.TOPAS

Motorized Anti-Scatter Screen: MASS

Motorized Anti Scatter Screen

自動ナイフエッジスクリーンであるMASSは、低角領域で空気散乱を、高角領域では強度の減衰を抑制します

DBOがもたらす、すぐれたデータ品質

Superior data quality with DBO

代表的なポルトランドクリンカーの標準試料(NIST SRM 8488)の測定データ(青: MASSなし、赤: MASSあり)。その他の条件は共通

TRIO – Three in One

まったく新しい TRIO™ 光学系は、D8 ADVANCE Plusの主要コンポーネントです。

TRIO™ は、XRD測定に広く用いられる3種の代表的な光学系を1つのモジュールで実現しました。

  • Bragg-Brentano光学系を実現する発散ビーム (XRPD)
  • キャピラリー測定や試料凹凸に不敏感な測定、表面敏感な視斜角入射測定(GIXRD)、膜厚評価(XRR)や微小部測定(μXRD)を実現する高強度平行ビーム
  • エピタキシャル薄膜や対称性の低い粉末試料の高分解能測定を実現するCu Kα1平行ビーム

D8 ADVANCE Plus with TRIO

02630 Goniometer 19 HR XRD 850x850

3つの光学系を切り替えるには、モジュールの載せ替えは必要ありません。DIFFRAC.Measurementソフトウェア上のメニューを選択するだけで、すべての光学系が自動的に切り替わり、適切な状態に自動的にセットされ、ユーザーの利便性が大幅に向上しています。

GIXRD光学系

02630 SG 71 Trio Euler Twin LynxXET MON1 GID 850x850

多結晶薄膜測定に効果的な視斜角入射光学系(すれすれ入射光学系)

XRR光学系

02630 SG 68 Twin XYZ KEC Twin LynxXET90 MON1 850x850

0.1nmから250nmの膜厚に対応したX線反射率光学系

Bragg-Brentano光学系

02630 SG 72 Trio Euler Twin LynxXET MON1 Powder 850x850

粉末XRD測定に適したBragg-Brentano光学系

HRXRD光学系

02630 SG 73 Trio Euler Twin LynxXET90 MON1 HR 850x850

エピタキシャル薄膜に適した高強度・高分解能2結晶チャネルカットモノクロメータ高分解能光学系

DAVINCIデザイン - 簡単操作の大前提

DAVINCIデザインは、D8 ADVANCE独自のモジュラーシステムを支える基本コンセプトです。

X線管球、各種光学系、サンプルステージから検出器まで、はじめての方でもあらゆるビーム光学系からからほかの配置に変更することができます。結果、D8 ADVANCEは、X線回折のあらゆる用途に比類のない適応性を提供します。

01980 Detail 0041 850x850

SNAP-LOCK光学系切り替え

  • TWINおよびTRIOモジュールがもたらすPush-Buttonソフトウェア光学系切り替え
  • 専用光学系や波長を柔軟に行き来するSNAP-LOCK機構
  • リアルタイムコンポーネント認識とバーチャル回折計表示
  • 日常の測定を容易にするサンプルホルダー群と調整機構
01980 Screen Davinci 3

TWIN/TRIOモジュールの

Push-Button切り替え


お墨付きのベストな装置品質

01980 Goniometer frontal back 850x850
  • 最新のNIST SRM 1976 α-Al2O3セラミックスプレートによる光学系アライメント保証
  • 堅牢かつメインテナンスフリーのゴニオメーターが、装置性能の屋台骨
  • 製薬業界向けなどのIQ/OQ完全準拠
Instrument alignment

D8 ADVANCE XRDカタログ (ダウンロードにはメールアドレスの登録が必要です)

XRD検出器パンフレット (ダウンロードにはメールアドレスの登録が必要です)

XRD試料ホルダースペックシート (ダウンロードにはメールアドレスの登録が必要です)


D8 ADVANCE 技術仕様

システム

装置サイズ
(高×幅×奥行き)
1,868 x 1,300 x 1,135 mm
装置重量
(オプションなしの時)
770 kg
安全性 最新の欧州連合指令に基づくX線、機械、電気的安全規格準拠
ドイツ国立計量研究所(PTB)によるX線漏えい基準認定

ゴニオメーター

デザイン メインテナンスフリー
構成 縦型θ-θまたはθ-2θ配置
ゴニオメーター直径 500mmまたは560mmから選択(または任意の直径)
制御方式 光学エンコーダー付きステッピングモーター
最小ステップサイズ 0.0001°
装置アライメント ≦±0.01°、装置最新版NIST製SRM 1976が付属

各種サポート項目

  • 専任のエンジニアを要するヘルプデスクが、適切にハードウェアとソフトウェアの問題を切り分け
  • インターネット回線を利用したリモートサポートシステム。不具合診断のほか、アプリケーションサポートにも対応
  • ご要望に応じた計画メンテナンスの立案
  • 現地での修理や保守メンテナンス
  • グローバルネットワークを活用した在庫管理システムがダウンタイムを最小限に抑制
  • IQ/OQ/PQなど各種適格性評価サービス
  • インストールや移設計画のサポート

Brukerサポートサイト

サポートサイト で、各種情報にアクセスできます:

  • ソフトウェアアップデート
    登録済みユーザーの方は、オンライン でソフトウェアアップデートファイルを入手できます

  • マニュアル類
    製品マニュアル、インストールガイド(英文)は、 オンラインで入手できます

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