D8 ADVANCE, X-ray diffraction

D8 ADVANCE Plus

D8 ADVANCE Plusは、大気雰囲気および雰囲気制御下でのエピタキシャルおよび多結晶薄膜、バルクおよび粉末試料の分析ニーズに完全にマッチして、比類のない使いやすさと最大の柔軟性を組み合わせています。

新たに設計されたTRIO光学系により、ハードウェアに触れることなく、ソフトウェアボタンをクリックするだけで、さまざまな光学系配置を切り替えることができます。

  • Bragg-Brentano光学系配置を備えた粉末X線回折セットアップ
  • エピタキシャル薄膜用 高強度・高分解能セットアップ
  • 多結晶薄膜測定に有用な視斜角入射測定セットアップ
  • 0.1nmから250nmまでの膜厚を決定するX線反射率セットアップ

 

D8 ADVANCE Plusの詳細については、プレスリリースをご覧ください.

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