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D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plusは、X線回折プラットフォームのフラッグシップです。比類ない精度を実現したATLASゴニオメーターと選べる高性能X線源をベースに、さまざまな光学系ユニット、アタッチメント、検出器に加え、新しいNon-Coplanarアームオプションを組み合わせることができます。D8 DISCOVER Plus - 妥協のないパフォーマンスと高い柔軟性のハーモニー

D8 DISCOVER Plus プレスリリースの詳細は、こちらをご覧ください。


多目的ソリューション

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極薄膜解析を実現する究極のパフォーマンス:微小焦点IμS線源とNon-Coplanarアームを搭載したD8 DISCOVER Plusは、すれすれ入射面内測定 (IP-GID) において最高のデータ品質を実現します

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材料評価における究極の柔軟性:焦点切り替え機構搭載TWIST-TUBE管球とNon-Coplanarアームを搭載したD8 DISCOVER Plusは、パフォーマンスを損なうことなく高度な分析性能を提供します

D8 DISCOVER Plus power materials research 850x850

TXS-HE搭載D8 DISCOVER Plus:粉末から多結晶膜またはエピタキシャル膜に至るまで、あらゆる種類のサンプルに最適な高出力材料評価XRDソリューション

TU Delft setup with spring 850x850

高精度μXRD²用D8 DISCOVER Plus:ATLASゴニオメーターと微小焦点IμS線源、マルチモードEIGER2検出器の組み合わせにより、究極のパフォーマンスを備えた微小部XRDソリューションが実現します

  • 面内X線回折測定においても優れた精度を実現する高精度Non-Coplanaraアーム
  • 業界随一の角度精度を保証した堅牢ATLASTMゴニオメーター
  • 6 kW高効率X線源(TXS-HE)が実現するラインおよびポイント焦点アプリケーション
  • mmサイズのサンプルに適した新しいMONTELPlus光学系を備えた微小焦点IμS線源
  • 多彩な光学系ユニット、アタッチメント、検出器との完全な互換性

専用ソリューション

結晶構造解析用D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Structure Analysis 850x850

TOPASソフトウェアによるRietveld解析、散漫散乱および全散乱を用いたPDF解析、および小角X線散乱 (SAXS) を含む粉末X線回折 (XRPD) を用いた構造解析

薄膜分析用D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Thin Film Analysis 850x850

拡張光学ベンチの搭載で、X線強度と分解能のバランスを最適化することができます - 所望のサンプル情報を得るために、システムを最適化し高品質なデータを取得

超平行度X線を備えたD8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Beam Conditioning 850x850

さらなる拡張光学ベンチは、4結晶モノクロメーター (Bartels配置) を含むさまざまな光学系でX線平行度をさらに高度化

ATLASTM ゴニオメーター

X線回折における正確な分析は、ゴニオメーター自身の正確性に加え、入射X線の中心精度やサンプルステージの回転交叉精度が、基盤です。新設計ATLASゴニオメーターがこれらの精度向上を推し進め、角度精度および分析位置精度の基準を再定義します。

  • 堅牢かつメンテナンスフリーゴニオメーター
  • 高分解能光学エンコーダー搭載 高速・高精度ステッピングモーター
  • 正確な光学系ユニット脱着を実現するメカニズムとリアルタイムモニタリング機能
Goniometer 001 850x850

面内回折 (In-plane回折)

D8 DISCOVER Plusには、他の追随を許さない性能で面内X線回折を実施するためのNon-Coplanarアームを搭載できます

  • 直接角度エンコーダーによる比類のない角度精度
  • 特別設計の光学系ユニットの組み合わせにより、多結晶極薄膜サンプルにおいても、測定強度向上に大きく寄与
  • DIFFRAC.SUITEソフトウェアとDIFFRAC.DAVINCIのシームレスな統合が生み出す最高効率

多彩なアタッチメントオプション

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ATLASゴニオメーターを基本としたD8 DISCOVER Plusは、光学系ユニット、サンプルステージ、検出器、アクセサリを含むすべてのD8コンポーネントと完全互換設計

  • TWIN、TRIO、PATHFINDER光学系などの複合光学系が、すべての測定に最適な入射X線を形成
  • サンプルチェンジャー、Centricユーレリアンクレードル、大型・重量サンプル用UMCステージなどのサンプル搭載ステージ
  • LYNXEYE XE-TやEIGER2 R 500Kなどのマルチモード検出器はが、あらゆるXRDアプリケーションを柔軟に遂行

業界唯一のアライメント保証

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ATLASゴニオメーターを装備したD8 DISCOVER Plusには、Brukerの一般的なアライメント保証が付属しています。測定および認定されたピーク位置の角度偏差∆2θは≤ 0.007°です。これは、NIST認定の標準SRM1976をすべてのX線回折計で測定することにより検証されます。


High Efficiency Turbo X-ray Source

TXS HE Source

X線分析装置のパフォーマンスを決定する重要な判定基準は、信号ノイズ比 (S/N比) 、ピークバックグラウンド比 (P/B比) 、サンプルスループットなどがありますが、普遍的な理解として高強度であることが挙げられます。

高効率・高出力X線源:TXS-HEは、回転対陰極技術に伴うメンテナンスを最小限に抑えながら信号強度を最大化するように設計されています。

  • 封入型X線管球比 最大5倍の強度
  • 卓越した点焦点輝度を備えたラインフォーカスセットアップ
  • 効率的にX線を反射・集光する理想的な光学系
  • 空気による吸収・散乱を最小限に抑えるX線光路の最適化

高輝度XRD

  • MONTELPlusミラー光学系は、高輝度、高平行度、超低バックグラウンドを実現するミリサイズビームを形成
  • サンプル形状に応じたビーム形状を最適化するSNAP-LOCK光学系
  • 環境にやさしい低消費電力、完全空冷、長寿命ユニットを実現するグリーンデザイン
  • 面内回折におけるすぐれた分解能と強度の両立
D8DISCOVERPlus ATLAS detail

各種サポート項目

  • 専任のエンジニアを要するヘルプデスクが、適切にハードウェアとソフトウェアの問題を切り分け
  • インターネット回線を利用したリモートサポートシステム。不具合診断のほか、アプリケーションサポートにも対応
  • ご要望に応じた計画メンテナンスの立案
  • 現地での修理や保守メンテナンス
  • グローバルネットワークを活用した在庫管理システムがダウンタイムを最小限に抑制
  • IQ/OQ/PQなど各種適格性評価サービス
  • インストールや移設計画のサポート

Brukerサポートサイト

サポートサイト で、各種情報にアクセスできます:

  • ソフトウェアアップデート
    登録済みユーザーの方は、オンライン でソフトウェアアップデートファイルを入手できます

  • マニュアル類
    製品マニュアル、インストールガイド(英文)は、 オンラインで入手できます

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