X線回折用ソフトウェア

Brukerのおすすめする DIFFRAC.SUITE™ ソフトウェアパッケージ

DIFFRAC.SUITE™は、X線回折測定と解析をより簡単にするための、各種ソフトウェアモジュールを包含するまったく新しいソフトウェアプラットフォームです。 Microsoftの.NETテクノロジの採用により、最新のソフトウェア技術のすべてのメリットがDIFFRAC.SUITEに組み込まれ、使いやすさとネットワークを最大限に活用します。

柔軟なカスタマイズに対応したユーザーインターフェイスは、人間工学に基づいたプラグインフレームワークにより、共通のルックアンドフィールと操作性を実現しました。

すべての測定および解析用ソフトウェアモジュールは、個別のアプリケーションとして操作することも、DIFFRAC.SUITEのプラグインフレームワークに統合することもできます。

ネットワーク機能をフル活用することで、ネットワークに接続されたすべてのD2 PHASERD8 ADVANCE / D8 DISCOVERおよびD8 ENDEAVOR へのアクセスと制御が可能です。

Bruker, AXS, Daltonics, BioSpin, Optics, Corporation
DIFFRAC.EVA4 Flyer

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ソフトウェア一覧

  • 測定用ソフトウェア:

  • 粉末XRD解析ソフトウェア:

    • DQUANT –検量線法を用いた結晶相定量
    • EVA – 結晶相定性分析、簡易結晶相定量 (RIR法)、データ処理
    • PolySNAP – ハイスループットシステム用パターンマッチング
    • TOPAS – プロファイル解析、Rietveld定量、結晶構造解析

  • 材料特性解析ソフトウェア:

    • SAXS – 小角X線散乱解析
    • XRR – 包括的なX線反射率解析
    • TEXTURE – 多彩な極点図解析
    • LEPTOS – XRR/HRXRD/GISAXS薄膜解析、残留応力解析