X선 회절분석기(XRD)

VÅNTEC-500 검출기

독점적인 MIKROGAP™ 기술을 기반으로 하는 가장 큰 2D 검출기
HerostageVANTEC-500-2-D-Detector

하이라이트

하이라이트

>15,000mm²
적용 범위
단일 스냅 샷에서 거대한 2Theta와 감마 범위
<0.0005 cps/mm²
배경
거의 노이즈가 없는 검출기는 매우 약한 회절 신호에도 매우 민감합니다.
연간 0개
Headache
견고한 디자인은 방사능이 강하고 움직임과 진동에 민감하지 않으며 안정적이며 유지 보수가 필요하지 않습니다.

VÅNTEC-500 대형뷰 2D 검출기

VÅNTEC-500 검출기는 고전적인 X 선 필름과 전자 단일 X 선 광자 검출의 최고의 기능을 결합하여 차세대 2D XRD 시스템을 위한 핵심기술입니다. 15,000 mm² 이상의 거대한 검출기 영역은 단 몇 초 만에 기존 필름 카메라만큼 많은 2D 정보를 포착합니다. 실시간으로 개별 광자를 "보고"계수함으로써 뛰어난 계수 통계를 얻을 수 있습니다. 독점적인 MIKROGAP ™기술 덕분에 VÅNTEC-500은 소음없이 작동하면서 높은 카운트 속도로 작동할 수 있습니다. 배경의 유일한 소스는 우주선과 물질의 자연 방사능으로 전체 탐지기 영역에서 5cps 미만입니다. 따라서 약하게 산란하는 시료와 강하게 산란되는 시료 모두 분석에 적합합니다.

MIKROGAP 설계는 유지 보수가 없고 기계적 충격이나 움직임에 민감하지 않으며 손상없이 집중적이고 높은 에너지 방사선을 견딜수 있는 매우 안정적인 검출기를 초래합니다. 광범위한 경험과 내부 검출기 개발 덕분에 VÅNTEC-500은 결함이 있는 검출기 영역없이 모범적임을 보장합니다.

특징

혜택

주요 이점

MIKROGAP ™ 기술

MIKROGAP 검출기에서 그리드, 양극, 지연 라인 및 Xe-CO 2 가스 혼합물은 베릴륨 입구 창이 있는 밀폐된 용기에 들어 있습니다. 변환 영역에서 들어오는 X 선 광자는 가스 이온화에 의해 1 차 전자를 생성합니다. 이 전자들은 높은 전기장 아래에서 양극쪽으로 표류합니다. 전자의 수는 증폭 간격에서 곱해집니다. 이 신호 증폭은 고체 검출기가 제공하는 것보다 훨씬 크기 때문에 매우 약한 신호를 검출할 수 있습니다. 각 X선 광자의 위치는 X 및 Y 지연 라인을 통한 판독 스트립에 의해 결정됩니다. MIKROGAP 기술의 주요 특징은 매우 얇은 증폭 갭을 허용하는 저항성 양극의 존재로 로컬 카운트 속도를 크게 향상시킵니다.

넓은 활성 영역

2D 검출기의 경우 크기가 가장 중요한 기능입니다. 대형 검출기 창은 데이터 수집 속도를 증가시킬 뿐만 아니라 0-D, 1-D 또는 더 작은 2D 검출기로는 접근할 수 없는 정보를 제공합니다. VÅNTEC-500 검출기는 직경 140mm의 거대한 창을 특징으로 하며, 최대 80°(2θ)와 대형 γ 범위를 커버합니다. 트랙을 따라 검출기의 유연한 위치 지정을 통해 다양한 응용 분야에 대한 각도 범위 및 해상도를 최적화하기 위해 광범위한 샘플 대 검출기 거리를 허용합니다. 이렇게 하면 다음을 수행할 수 있습니다.

  • 한 프레임에서 큰 γ 범위에 걸쳐 여러 브래그 반사 수집
  • 배경 보정을 통해 여러 극 수치를 동시에 측정
  • 한 번의 샷으로 응력 샘플의 광범위한 회절 피크 커버
  • 마이크로 샘플의 반점 회절 패턴에 대한 통계 향상

완전한 하드웨어 및 소프트웨어 통합

2D XRD 방법을 성공적으로 적용하려면 하드웨어 및 소프트웨어 수준에서 지능적이고 통합된 접근 방식이 필요합니다.

DIFFRAC.SUITE 소프트웨어는 최적의 측정 전략을 제공합니다. 다양한 형상에서 최적화된 데이터 수집을 위한 최상의 설정을 제안합니다. Debye 보기를 사용하면 스팟과 텍스처 측면에서 유사한 특성을 가진 Debye링을 식별할 수 있습니다. 동일한 charac-teristics를 가진 Debye링 만이 동일한 결정상에 속할 수 있습니다. 고유한 SEARCH/MATCH 기능을 사용하여 결정단계를 식별합니다. 다른 소프트웨어 기능은 다음과 같습니다.

  • 2D XRD 측정 체계 및 계획이 DIFFRAC.MEASUREMENT 및 DIFFRAC.WIZARD에 완전히 통합되었습니다.
  • 극점 그림 및 ODF (Orientation Distribution Function) 생성을 위한 DIFFRAC.TEXTURE의 2D 프레임 기본 지원
  • DIFFRAC.LEPTOS에서 완전히 지원되는 2D 모드를 사용하는 잔류 응력.

VANTEC-500의 하드웨어 통합은 DAVINCI 설계원칙을 완전히 반영합니다.

DAVINCI.MODE

  • 모든 특정 속성을 사용한 즉각적인 구성 요소 등록
  • 고장 안전 위치 지정
  • 자동 검출기 거리 인식

DAVINCI.SNAP-LOCK – 도구없이 구성 요소 변경

  • 도구없이 빠르고 쉽게
  • 얼라인먼트 필요없음
  • 트랙의 가변 위치 지정

DIFFRAC.DAVINCI

  • 실시간 구성 요소 인식 및 상태 표시
  • 누락, 잘못 배치 또는 부적절한 구성 요소 감지
  • 모든 고정 및 동력 부품의 매개 변수화

응용

사양

검출기 사양





사양 혜택

센서 유형
광자 계수, Xe 기반 MIKROGAP™ 검출기 (미국 특허 6,340,819)
모든 가스 충전 XRD 검출기 중 최고의 전체 성능
창 크기
직경 140mm
작은 검출기에 표시되지 않는 산란 표시

매우 빠른 감지 시간

픽셀 수

2048 x 2048 (68 μm),

1024 x 1024 (136 μm),

512 x 512 (272 μm)
간격이 밀접하게 분산 또는 회절 기능을 명확하게 표시하는 높은 해상도
2Ɵ 적용 범위 및 차이 샘플 거리 10cm - 56°,

15cm - 42°,

20cm - 33°,

25cm - 27°,

30cm - 23°
커버리지 및 각도 분해능을 위해 샘플과 검출기 거리 최적화
에너지 범위
3-15 KeV (Cr, Fe, Co 및 Cu 방사선)
실험적 유연성을 위해 대부분의 XRD 파장과 호환
배경 전체 면적당 5cps(&0.0005 cps/mm²) 약한 산란 시료에 민감
방사선 경도 10₁₂ X선 광자/mm²(총10₁₆ 광자) 사용 편의성
유지 관리 필요하지 않음 사용 편의성과 낮은 소유 비용

지원

서비스 및 지원

우리는 다음을 제공합니다.

  • 고도로 숙련된 문제 해결 전문가의 헬프 데스크 지원, 하드 및 소프트웨어 문제 격리 및 해결
  • 서비스 진단 및 애플리케이션 지원을 위한 웹 기반 원격 계측기 서비스
  • 병합 된 현실 지원 – 당신의 측면에 가상 엔지니어 (비디오)
  • 귀하의 요구 사항에 따라 계획된 유지 보수
  • 고객 현장 수리 및 유지 보수 서비스
  • 예비 부품 가용성은 일반적으로 밤 또는 전 세계 며칠 근무일 이내에 제공됩니다.
  • 설치 자격, 운영 자격 /성능 검증을 위한 규정 준수 서비스
  • 사이트 계획 및 이전
  • 다음 교육 과정 찾기

다음을 위해 지원 웹 사이트를 확인하십시오.

  • 소프트웨어 업데이트
  • 제품 매뉴얼 및 설치 가이드
  • 교육 동영상

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