VERTEX 80v-Kopie

VERTEX 80/80v FTIR 분광분석기

VERTEX 80 및 VERTEX 80v 진공 FTIR 분광분석기는 능동 정렬된 UltraScan™ 간섭계를 적용한 제품으로서 최고의 스펙트럼 분해능을 제공합니다. 정밀한 리니어 에어 베어링 스캐너와 최고 품질의 광학기기가 극한의 감도와 안정성을 보장합니다. VERTEX 80v는 대기 중 수분 흡광을 제거하여 최고 수준의 감도와 안정성을 제공하는 진공 광학기기 벤치로서, 고분해능 초고속 스캔, 단계 스캔 또는 UV 스펙트럼 범위 측정 등 어려운 실험이 가능합니다. 

VERTEX 80/80v의 광학기기 디자인은 최고 수준의 유연성과 기기 성능을 보장합니다. Bruker Optics의 독창적인 DigiTect™ 기술은 외부적인 신호 교란을 방지하고 최상의 신호 대 잡음비를 보장하며, 기기 사용자가 손쉽고 재현 가능하게 디텍터를 교환할 수 있습니다. 옵션으로 제공되는 2개의 외부 디텍터 포트에는 볼로미터의 액체 헬륨 드와 및/또는 열전자 디텍터를 연결할 수 있습니다. 외장형 수냉식 고출력 Hg-아크 광원과 함께 사용하여, 최근에 재발견된 테라헤르츠 스펙트럼 범위에 실온에서 작동하는 DTGS 디텍터로도 접근할 수 있습니다.

스펙트럼 범위 확장

VERTEX 80/80v에 광학 구성품을 옵션으로 장착하여 원적외선 또는 테라헤르츠부터 중적외선, 근적외선, 가시광선, 자외선 스펙트럼 범위까지 커버할 수 있습니다. 미리 정렬된 광학 구성품과 능동적으로 정렬된 UltraScan™ 간섭계를 이용하면 범위 변경과 유지보수가 간편합니다.

BSCc s

BMS-c: Bruker는 VERTEX 80v 진공 분광분석기에 고정밀 빔 스플리터 교환 옵션 BMS-c를 제공합니다.

따라서 진공 조건에서 최대 4가지 빔 스플리터를 원격으로 제어하여 자동 교환할 수 있습니다. 이제 수작업을 통한 빔 스플리터 교환을 위해 분광분석기 광학기기 벤치의 진공을 해제할 필요 없이, UV/VIS부터 원적외선/THz까지 완벽한 스펙트럼 범위를 측정할 수 있습니다.

새로운 기능: Bruker는 VERTEX 80/80v FTIR 분광분석기 시리즈용 신제품 광대역 원적외선/THz 빔 스플리터를 통해, 가용한 빔 스플리터 범위를 확대하였습니다. 명목 스펙을 기준으로, 한 번의 측정으로 900cm-1부터 약 5cm-1까지의 스펙트럼 범위를 커버하고 중적외선과 VLW(Very Long Wave) FIR/THz 파장 범위를 연결하기 때문에 새로운 원적외선 솔리드스테이트 빔 스플리터가 특히 반도체 및 추가적인 무기물질 연구개발에 일익을 담당하게 될 것입니다.

광학적 분해능

VERTEX 80과 VERTEX 80v는 표준 구성에서 아포다이즈된 스펙트럼 분해능이 0.2cm-1 이상으로서 대기압에서 이루어지는 대부분의 가스상 연구와 실온에서 이루어지는 샘플 측정에 충분합니다. 예를 들면, 저압에서 이루어지는 결정상 반도체 물질 또는 가스상 측정 등 고급 저온 작업에서 0.06cm-1 이상 최고 수준의 분해능을 제공합니다. 이러한 분해능은 상용 벤치탑 FTIR 분광분석기로 달성할 수 있는 가장 높은 수준의 분해능입니다. 가시광선 스펙트럼 영역의 고분해능 스펙트럼은 분해능(파수 v를 스펙트럼 분해능 ∆ν으로 나눈 값)이 300,000:1입니다.

유연성

혁신적인 광학기기 디자인으로 가장 유연하고 확장성이 높은 R&D 진공 FTIR 분광분석기를 제공합니다. 진공 광학기기 벤치를 이용하여, 대기 중 수증기 흡광에 의해 매우 약한 스펙트럼 특징이 가려질 우려 없이 중적외선, 근적외선, 원적외선 영역에서 최고의 감도를 얻게 됩니다. VERTEX 80v 진공 FTIR 분광분석기를 이용하면 예를 들면 10-3 단분자 층보다 얇은 나노과학 연구 분야에서 우수한 결과를 얻을 수 있습니다. 유연성에는 사실 상 한계가 없습니다. 광학 벤치 우측, 전면, 좌측에 5개의 빔 출력 포트가 제공되며, 우측과 후면에 2개의 빔 입력 포트가 제공됩니다. 따라서, 예를 들면 후면 입력 포트를 이용하여 싱크로트론 광원을, 우측 출력 빔에 PMA 50 편광변조 액세서리를, 우측 전면 포트에 광섬유 커플링을, 좌측 전면에 볼로미터 디텍터를, 좌측 출력 빔에 HYPERION 시리즈 FTIR 현미경을 동시에 연결할 수 있습니다.

VERTEX 80 시리즈는 난이도 높은 연구와 개발 분야를 위한 이상적인 기기입니다

Bruker의 영업팀에 연락하셔서 VERTEX 80/80v에 대해 자세히 알아보십시오!

사용되는 기술은 다음 중 하나 이상의 특허로 보호됩니다.
US 7034944

 

 

외장 액세서리, 광원, 디텍터

VERTEX 80/80v 분광분석기에는 5개의 빔 출력 포트와 2개의 빔 입력 포트가 장착되어 있으며, 예를 들면 외부 레이저, 싱크로트론 광원에 연결할 수 있습니다. 또한 분광분석기 광학기기는 외부 측정 액세서리, 광원, 디텍터를 이용하여 쉽게 업그레이드할 수 있습니다. 다음과 같은 제품이 포함됩니다.

  • VCDPM-IRRAS 용 PMA 50 편광변조 액세서리
  • PL II 광 발광 모듈
  • RAM II FT-라만 모듈 및 RamanScope III FT-라만 현미경
  • TGA-FT-IR 커플링
  • HYPERION 시리즈 FTIR 현미경
  • HYPERION 3000 FTIR 이미징 시스템
  • HTS-XT 고처리량 선별 익스텐션(High Throughput Screening eXTension)
  • IMAC 초점면 배열 매크로 이미징 액세서리
  • 외장형 샘플 칸 XSA, 배출 또는 퍼징 가능
  • 외장형 진공 UHV 챔버 어댑터
  • 진공 PL/PT/PR 측정 유닛
  • 저온 액체 헬륨 또는 극저온 무액체 온도유지기
  • 고체 및 액체용 MIR 또는 NIR 화이버 프로브와 광섬유 커플링 유닛
  • 대형 적분구
  • 오토 샘플러 장치
  • 외부 FIR Hg 광원
  • 독창적인 광범위 MIR-FIR 디텍터
  • 솔리드 스테이트 원적외선/THz 빔 스플리터
  • 외부 방사 어댑터
  • 외부 고성능 MIR 광원
  • E외부 고성능 VIS 광원
  • 외부 진공 4 포지션 디텍터 챔버(진공 광학기기용)
  • FIR 범위 탐지를 위한 볼로미터 어댑터
  • 자동 빔 스플리터 교체 유닛(BMS-c)(진공 광학기기용)

VERTEX 80 및 VERTEX 80v 분광분석기는 VERTEX 시리즈에서 하이엔드 연구용 기기입니다. 혁신적인 광학기기 디자인을 구비한 강력한 벤치탑 퍼징 및 진공 분광분석기입니다. VERTEX 80/80v는 UV/VIS 영역(50000cm-1)부터 FIR/THz 영역(5cm-1)까지 광범위한 스펙트럼 범위와 최고 수준의 스펙트럼 및 시간 분해능, 탁월한 유연성을 제공합니다. 다재다능한 VERTEX 80/80v 시스템은 PEAK 기술을 적용하여 모든 최상급 연구 분야에 적합한 솔루션입니다.

연구개발

  • 진폭/위상 변조 분광분석을 위한 연속(Continuous) 및 단계 스캔(Step Scan) 기술
  • 높은 시간 분해능을 위한 신속 스캔, 인터리브드 스캔, 단계 스캔 기술(Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • 메타물질이라 부르는 주기적으로 배열된 현미경 물질의 특징 확인
  • 0.06cm-1 이상의 분해능을 이용한 가스 분석을 위한 고분해능 분광분석
  • 진공 FTIR 빔라인 설치물을 위한 기기
  • 효소 촉매분해 실험을 위한 유체 흐름정지(Stopped-flow) 기법
  • 초진공(UHV) 측정 챔버를 외부에 적용
  • 전극 표면과 전해물의 현장 조사를 위한 FTIR 분광전기화학

제약

  • 분자의 절대 구조(VCD) 확인
  • 열 분석(TGA-FTIR)을 이용한 약품 안정성 및 휘발성 성분 특징 확인
  • 원적외선 영역에서 원료 약품의 다형성 구분

폴리머와 화학

  • 원적외선 영역의 합성 폴리머 내 무기 필러 식별
  • 폴리머의 동역학 및 유변학 연구
  • 열 분석을 이용한 휘발성 화합물 결정 및 분해 과정 규명 (TGA-FTIR)
  • 반응 모니터링 및 반응 제어(MIR 화이버 프로브)
  • 무기 광물 및 안료 식별

표면 분석

  • 박막 및 단분자 층 탐지 및 특징 확인
  • 편광변조를 이용한 표면 분석 (PM-IRRAS)

재료과학

  • 광학 재료 및 고반사성 재료의 특징 확인(윈도우, 미러)
  • 광음향 분광법(PAS)을 이용한 암물질 조사 및 깊이 프로파일링
  • 물질의 방사 거동 연구

반도체

  • 실리콘 웨이퍼 내 산소 및 탄소 함량 확인
  • 품질관리를 위한 얕은 불순물의 저온 투과 및 광 발광(PL) 측정