Mikroskop badawczy FT-IR i QCL 

HYPERION II

HYPERION II to uniwersalny mikroskop FT-IR do prac badawczo-rozwojowych z wykorzystaniem szerokiej gamy akcesoriów oraz z możliwością łączenia obrazowania laserowego w podczerwieni (QCL) i FT-IR w jednym instrumencie.

FT-IR spotyka QCL

Moc analityczna i innowacje

Banner HYPERION II

Najważniejsze informacje

Potężny. Precyzyjny. Wszechstronny

Platforma badawcza do obrazowania i mikroskopii FTIR

Co nowego w HYPERION II:

Marten Seeba jest menedżerem produktu HYPERION II i odpowiada za jego rozwój, aż do ostatnich etapów. Podkreśla silną pozycję HYPERION i wyjaśnia, co nowego.

Jak zintegrowaliśmy obrazowanie laserowe
w podczerwieni:

Pionier QCL i kierownik mikroskopii laserowej w firmie Bruker, Niels Kroeger-Lui, wyjaśnia, dlaczego połączenie FT-IR i QCL jest prawdziwym przełomem w mikroskopii w podczerwieni.

Opatentowana przez nas redukcja koherencji przestrzennej:

Inżynier ds. rozwoju Sascha Roth przedstawia szczegółowy wgląd w rozwój naszej opatentowanej technologii redukcji koherencji przestrzennej.

Mikroskopia FT-IR wzbogacona o QCL | Obrazowanie laserowe w podczerwieni

HYPERION II to prawdziwa innowacja w mikroskopii w podczerwieni. Umożliwia obrazowanie w podczerwieni do granicy dyfrakcji i wyznacza jakość w mikroskopii ATR. Po raz pierwszy łączy mikroskopię FT-IR i obrazowanie laserowe w podczerwieni (ILIM) w jednym urządzeniu, oferując wszystkie trzy tryby pomiaru: transmisję, refleksję i ATR.

Cechy HYPERION II:

  • Szeroki wybór detektorów µ-FT-IR:
    Szeroko-, średnio-, wąskopasmowe detektory LN2-MCT, chłodzony termoelektrycznie (TE) MCT
  • Detektor FPA do obrazowania w podczerwieni (64 x 64 lub 128 x 128 pikseli)
  • Opcjonalna implementacja QCL za pomocą modułu do laserowego obrazowania w podczerwieni (ILIM, laser klasy 1)
  • Szeroki wybór obiektywów: 3.5x/15x/36x/74x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS
  • Szeroki zakres spektralny – od bliskiej podczerwieni (NIR) do dalekiej podczerwieni (FIR)
  • Wybór apertur: ręczna apertura knife-edge, automatyczna apertura knife-edge, koło apertur. Metalowa apertura dla NIR
  • Szeroki wybór akcesoriów i stolików pomiarowych: akcesorium do makro obrazowania IR, stolik grzewczo/chłodzący, komora pomiarowa itp.
  • Wybór narzędzi wizualnych/optycznych: oświetlenie w ciemnym polu, oświetlenie fluorescencyjne, polaryzatory IR, polaryzatory VIS, itp.

 HYPERION II zapewnia:

  • Idealne dopasowanie obrazów spektralnych i wizualnych. Dotyczy dowolnego trybu pomiaru (w tym obrazowania ATR)
  • Wysokoczułą mikroskopie i obrazowanie FTIR z wykorzystaniem detektora ogniskowej matrycy (FPA) ograniczona dyfrakcją
  • Pierwsze w historii połączenie technologii FT-IR i QCL przez (opcjonalny) moduł do obrazowania laserowego w podczerwieni (ILIM, laser klasy 1)
  • Obrazowanie laserowe w podczerwieni we wszystkich trybach pomiarowych (ATR, transmisja, refleksja)
  • Opatentowaną redukcje koherencji dla pomiarów obrazowania laserowego bez artefaktów oraz bez utraty czułości i prędkości.
  • Wysoką prędkość obrazowania:
    0.1 mm2 na sekundę (FPA, pełne widmo)
    6.4 mm2 na sekundę (ILIM, pojedyncza liczba falowa)
  • Opcjonalny detektor TE-MCT do pomiarów mikroskopowych IR o wyskoiej czułości i rozdzielczości przestrzennej bez konieczności stosowania ciekłego azotu
  • Możliwość spektroskopii emisyjnej i opcjonalne rozszerzenie zakresu spektralnego

Zastosowanie HYPERION II:

  • Badania life-science | obrazowanie komórek
  • Farmacja
  • Badania emisyjności (np. diody LED)
  • Analiza wtrąceń i przyczyn źródłowych
  • Kryminalistyka
  • Mikroplastik
  • Badania R&D w przemyśle
  • Polimery i tworzywa sztuczne
  • Charakterystyka powierzchni
  • Półprzewodniki

Cechy charakterystyczne

Mikroskop badawczy FT-IR dla pionierów i innowatorów

Prawie żaden z naszych mikroskopów IR nie odzwierciedla naszych użytkowników tak jak HYPERION II: wszechstronny, precyzyjny, konfigurowalny, adaptowalny i zawsze na granicy tego, co jest możliwe.

Przejmij pełną kontrolę

Przede wszystkim najważniejszy jest dostęp do instrumentu. Dostęp do eksperymentu, próbek i parametrów. To jest fundament HYPERION II i jego najcenniejszy atut: zapewnienie pełnej kontroli.

Niezależnie od tego, czy chodzi o pomiary FT-IR w trybie jednopunktowym, mapowanie czy obrazowanie za pomocą różnych detektorów lub obiektywów, specjalnych stolików pomiarowych lub z użyciem obiektywu ATR lub Grazing Angle - w dowolnym momencie możesz wpłynąć na wynik swoich wyników i ulepszyć je.

To wyraźna różnica w porównaniu do naszego mikroskopu IR LUMOS II. Tam, gdzie LUMOS II zwalnia użytkownika od żmudnych eksperymentalnych szczegółów i automatyzuje proces pomiarowy, HYPERION II pozostaje precyzyjnym narzędziem, które robi to, czego wymaga użytkownik.

Mikroskop HYPERION II z detektorem MCT

Pomnik swojej przeszłości

Wielu użytkowników zna HYPERION II i jego mocne strony dzięki jego poprzednikowi. Od prawie 20 lat HYPERION jest siłą napędową innowacyjności w mikroskopii i obrazowaniu IR. Cechy, któe sprawiły, że HYPERION był znakomitym mikroskopem FT-IR, wciąż istnieją - tylko w lepszym, szybszym i innowacyjnym wydaniu.

HYPERION II nadal posiada wszystkie funkcje, których potrzebujesz w codziennej rutynie badawczej: chłodzony ciekłym azotem lub termoelektrycznie detektor MCT, detektory FPA do obrazowania IR, narzędzia wzmacniające kontrast wizualny oraz oczywiście mnóstwo dedykowanych akcesoriów.  

Koniec końców chcieliśmy ponownie wyznaczyć standardy w mikroskopii i
obrazowaniu FT-IR i zasłużyć na miano lidera innowacji, wprowadzając nową oraz ekscytującą technologię przy zachowaniu uznanych i cenionych metod.

HYPERION II ILIM z komorą pomiarową (z lewej) oraz detektorem FPA do obrazowania (z prawej)

Wzbogacenie FT-IR o obrazowanie laserowe w podczerwieni (QCL)
 

QCL i FT-IR w jednym urządzeniu

Po raz pierwszy użytkownicy mają dostęp do mikroskopu IR, który łączy technologię FT-IR i QCL w jednym instrumencie. Dzięki temu otwieramy zupełnie nowe drzwi do nauk przyrodniczych i badań materiałowych.

Zbierz widmo FT-IR, wybierz długości fal, które chcesz zbadać za pomocą QCL i twórz wspaniałe obrazy chemiczne w ciągu kilku sekund.

Dzięki całkowicie nowemu podejściu do obrazowania FT-IR oraz laserowego obrazowania w podczerwieni, dajemy wreszcie użytkownikom, badaczom i naukowcom narzędzie do opracowywania nowych zastosowań, ale także do ulepszania uznanych i sprawdzonych aplikacji.

Prawdziwy mikroskop QCL o wyjątkowej wydajności

HYPERION II oferuje bezkompromisową mikroskopię QCL w najnowocześniejszym mikroskopie FT-IR. Opracowaliśmy i opatentowaliśmy nowatorską technologię redukcji koherencji, aby zapewnić niezrównaną wydajność obrazowania laserowego IR - bez cyfrowego przetwarzania końcowego.

Oto przykład: w klasycznej FT-IR koherencja przestrzenna nie odgrywa żadnej roli. Jednak w pomiarach mikroskopowych IR z QCL nieuchronnie występuje zjawisko koherencji przestrzennej. Pojawiające się prążki oraz plamki na obrazach i widmach IR są niepożądane dla obrazowania chemicznego (patrz z prawej strony; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

Rzeczywiście, nie jest łatwym zadaniem oddzielenie informacji chemicznych próbki od informacji fizycznych opisujących związek fazowy rozproszonych fotonów. HYPERION II rozwiązuje ten problem w sposób pragmatyczny dzięki inteligentnej konstrukcji sprzętu i umożliwia pozyskiwanie danych obrazowania chemicznego wolnych od defektów. 

Porównanie spektroskopii FT-IR i QCL

Porównanie obu technik sugerowałoby, że mogą one równie dobrze wykonywać te same zadania analityczne - popularne nieporozumienie. Obrazowanie FT-IR i obrazowanie laserowe w podczerwieni mają wyraźne zalety i tylko praktyczne połączenie obu technik pozwala osiągnąć najlepsze wyniki.

Wiemy, że większość naukowców i badaczy nie chce utracić wszechstronności FT-IR. Nie lubią ograniczać się do jednej, najnowocześniejszej techniki, która nie ma punktu odniesienia. Na szczęście HYPERION II to zarówno wyjątkowy mikroskop do obrazowania FT-IR, jak i ambitny mikroskop QCL.

Postawiliśmy na podwójne podejście i tam, gdzie technologia QCL rejestruje dane znacznie szybciej przy tym samym stosunku sygnału do szumu, nadal jest ona ograniczona do węższego zakresu MIR. Dlatego ponownie pozostajemy wierni koncepcji HYPERION II. Ty wybierasz. Masz pełną kontrolę.

Obrazowanie QCL-IR granulek polistyrenowych. Po lewej: obrazowanie laserowe w średniej podczerwieni z pełną koherencją. Po prawej: obrazowanie laserowe w średniej podczerwieni ze zredukowaną koherencją. Źródło: Arthur Schönhals, Niels Kröger-Lui, Annemarie Pucci, Wolfgang Petrich; On the role of interference in laser-based mid-infrared widefield microspectroscopy, Journal of Biophotonics, 2018, Volume 11, Issue 7, DOI: 10.1002/jbio.201800015.


 

Umieszczenie próbki tkanki pod mikroskopem do obrazowanie laserowego HYPERION II

Aplikacje

Zastosowanie mikroskopii IR (FPA, MCT, QCL)

Analiza tkanek biologicznych

Potencjał technologii QCL dla nauk przyrodniczych jest ogromny. Ten mikrotomowy wycinek tkanki migdałka przeanalizowano poprzez nałożenie obrazu laserowego w podczerwieni na dane wizualne.

Badania materiałowe

Obrazowanie w podczerwieni ułatwia analizę struktur wielowarstwowych. Ten wielowarstwowy fragment lakieru został zbadany przy użyciu wysokorozdzielczego obrazowania ATR w celu określenia przyczyny wypadku samochodowego.

Rozwój leków

Oznaczenie składników mieszaniny jeszcze nigdy nie było tak proste. W tym przypadku tablętkę przeanalizowano pod kątem zanieczyszczeń. Zanieczyszczenie (czerwony) wyraźnie wyróżnia się na tle matrycy API (niebieski).

Geologia i mineralogia

Obrazowanie laserowe w podczerwieni umożliwia ewaluację minerałów i właściwości geochemicznych. Ukazany przykład pokazuje zróżnicowanie minerałów tlenkowych na podstawie ich właściwości refleksyjnych.

Kryminalistyka

Mikroskopia IR jest znakomitym narzędziem w kryminalistyce. W tym przypadku włókna zbadano w celu uzyskania wyraźnych dowodów ich pochodzenia. Apertura typu "kinfe-edge" zapewnia optymalną jakość danych spektralnych.

Analiza mikroplastiku

Obrazowanie FT-IR jest złotym standardem w analizie mikroplastików, ale obrazowanie laserowe IR nadrabia zaległości. Oprogramowanie zapewnia zautomatyzowaną analizę mikroplastików, generująć raporty dotyczące cząsteczek i statystyki.

Akcesoria

Więcej informacji

Materiały dodatkowe

Dowiedz się więcej o naszych mikroskopach i rozwiązaniach FT-IR, pobierając dostępne materiały.