HYPERION II

Przede wszystkim najważniejszy jest dostęp do instrumentu. Dostęp do eksperymentu, próbek i parametrów. To jest fundament HYPERION II i jego najcenniejszy atut: zapewnienie pełnej kontroli.

Niezależnie od tego, czy chodzi o pomiary FT-IR w trybie jednopunktowym, mapowanie czy obrazowanie za pomocą różnych detektorów lub obiektywów, specjalnych stolików pomiarowych lub z użyciem obiektywu ATR lub Grazing Angle - w dowolnym momencie możesz wpłynąć na wynik swoich wyników i ulepszyć je.

To wyraźna różnica w porównaniu do naszego mikroskopu IR LUMOS II. Tam, gdzie LUMOS II zwalnia użytkownika od żmudnych eksperymentalnych szczegółów i automatyzuje proces pomiarowy, HYPERION II pozostaje precyzyjnym narzędziem, które robi to, czego wymaga użytkownik.

Wielu użytkowników zna HYPERION II i jego mocne strony dzięki jego poprzednikowi. Od prawie 20 lat HYPERION jest siłą napędową innowacyjności w mikroskopii i obrazowaniu IR. Cechy, któe sprawiły, że HYPERION był znakomitym mikroskopem FT-IR, wciąż istnieją - tylko w lepszym, szybszym i innowacyjnym wydaniu.

HYPERION II nadal posiada wszystkie funkcje, których potrzebujesz w codziennej rutynie badawczej: chłodzony ciekłym azotem lub termoelektrycznie detektor MCT, detektory FPA do obrazowania IR, narzędzia wzmacniające kontrast wizualny oraz oczywiście mnóstwo dedykowanych akcesoriów.  

Koniec końców chcieliśmy ponownie wyznaczyć standardy w mikroskopii i
obrazowaniu FT-IR i zasłużyć na miano lidera innowacji, wprowadzając nową oraz ekscytującą technologię przy zachowaniu uznanych i cenionych metod.

QCL i FT-IR w jednym urządzeniu

Po raz pierwszy użytkownicy mają dostęp do mikroskopu IR, który łączy technologię FT-IR i QCL w jednym instrumencie. Dzięki temu otwieramy zupełnie nowe drzwi do nauk przyrodniczych i badań materiałowych.

Zbierz widmo FT-IR, wybierz długości fal, które chcesz zbadać za pomocą QCL i twórz wspaniałe obrazy chemiczne w ciągu kilku sekund.

Dzięki całkowicie nowemu podejściu do obrazowania FT-IR oraz laserowego obrazowania w podczerwieni, dajemy wreszcie użytkownikom, badaczom i naukowcom narzędzie do opracowywania nowych zastosowań, ale także do ulepszania uznanych i sprawdzonych aplikacji.

Prawdziwy mikroskop QCL o wyjątkowej wydajności

HYPERION II oferuje bezkompromisową mikroskopię QCL w najnowocześniejszym mikroskopie FT-IR. Opracowaliśmy i opatentowaliśmy nowatorską technologię redukcji koherencji, aby zapewnić niezrównaną wydajność obrazowania laserowego IR - bez cyfrowego przetwarzania końcowego.

Oto przykład: w klasycznej FT-IR koherencja przestrzenna nie odgrywa żadnej roli. Jednak w pomiarach mikroskopowych IR z QCL nieuchronnie występuje zjawisko koherencji przestrzennej. Pojawiające się prążki oraz plamki na obrazach i widmach IR są niepożądane dla obrazowania chemicznego (patrz z prawej strony; DOI: 10.1002/jbio.201800015).

Rzeczywiście, nie jest łatwym zadaniem oddzielenie informacji chemicznych próbki od informacji fizycznych opisujących związek fazowy rozproszonych fotonów. HYPERION II rozwiązuje ten problem w sposób pragmatyczny dzięki inteligentnej konstrukcji sprzętu i umożliwia pozyskiwanie danych obrazowania chemicznego wolnych od defektów. 

Porównanie spektroskopii FT-IR i QCL

Porównanie obu technik sugerowałoby, że mogą one równie dobrze wykonywać te same zadania analityczne - popularne nieporozumienie. Obrazowanie FT-IR i obrazowanie laserowe w podczerwieni mają wyraźne zalety i tylko praktyczne połączenie obu technik pozwala osiągnąć najlepsze wyniki.

Wiemy, że większość naukowców i badaczy nie chce utracić wszechstronności FT-IR. Nie lubią ograniczać się do jednej, najnowocześniejszej techniki, która nie ma punktu odniesienia. Na szczęście HYPERION II to zarówno wyjątkowy mikroskop do obrazowania FT-IR, jak i ambitny mikroskop QCL.

Postawiliśmy na podwójne podejście i tam, gdzie technologia QCL rejestruje dane znacznie szybciej przy tym samym stosunku sygnału do szumu, nadal jest ona ograniczona do węższego zakresu MIR. Dlatego ponownie pozostajemy wierni koncepcji HYPERION II. Ty wybierasz. Masz pełną kontrolę.

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

•  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
• This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
• Make analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

• Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
• Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.
  

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

• While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.