PL
My Bruker
Skontaktuj się z ekspertem
Produkty i rozwiązania
Aplikacje
Serwis
Wiadomości i wydarzenia
O nas
Kariera
Użyj co najmniej 2 znaków (obecnie używasz 1 znaku).
Languages
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
한국어
AFM Modes
Morphology Modes
Morphology modes are used to measure the nanoscale 3D structure of a surface. This category of modes is split into those that evaluate topography and those that evaluate domain structure.
Browse Morphology Modes
See All AFM Modes
Download the AFM Modes Handbook
Użyj co najmniej 2 znaków (obecnie używasz 1 znaku).
Applied Filters:
Zresetuj wszystkie filtry
Filter and Sort
Użyj co najmniej 2 znaków (obecnie używasz 1 znaku).
Show Results
Filter
Learn More About Morphology Modes
Related Downloads
Related Webinars
Użyj co najmniej 2 znaków (obecnie używasz 1 znaku).
You may also be interested in:
AFM Modes
AFM modes and the broad capabilities from AFM beyond imaging
Czytaj więcej
E-Book: The Definitive AFM Modes Handbook
Everything you need to understand, select, and apply AFM techniques in materials research.
Download PDF
AFMs for Materials
Bruker's materials research atomic force microscopes, powered exclusively by PeakForce Tapping® technology, are helping researchers advance new nanomechanical, nanoelectrical, and nanoelectrochemical research, on the order of three peer-reviewed published articles per day.
Czytaj więcej