Cu 沉积岩中的元素和矿物分布
观察样品中元素的变化对于了解地质过程和矿床成因非常重要。在 SEM 上集成了 微区 XRF 的双源系统可在 大面积上进行元素 X 射线面分析，从而在 ppm 尺度上显示主要、次要和微量元素。
该图显示了来自铜矿床中样品的微区 XRF 大面积 X 射线图 （45 x 30 mm2），显示铜（红色）、钙（绿色）、锰（蓝色）、硅（紫色）和氯（深绿色）的元素分布信息。此外，在此样本中，可以检测出电子束 EDS 因为浓度过低和/或相关元素能量线过高无法检测到的微量元素。这些信息可以更好地了解它们的分布，为之后矿物学和织构关系以及矿床成因的研究打下基础。
使用 XTrace 采集的铜矿床样品的大面积 X 射线面分析图（45 mm x 30 mm）（分析参数：Rh 50 kV 的管电压，阳极电流 600 μA，像素间距 25 μm，分析时间 101 分钟）。 左上：定量化的 Cu 元素面分析 （QMap）；右上：混合元素强度图；左下：物相图（P1 Chrysocolla - 红色；P2 Atacamite - 绿色；P3 Cu-Mn Wad - 蓝色; P4 碳酸盐 - 天蓝色）；痕量元素强度图的 Sr（蓝色）和 Co（黄色）；总 X 射线强度图（类似于 BSE 图像，灰色）。