異地性銅鉱床試料の元素分布・鉱物分布
試料中での元素分布の変化を分析することは、地質学的プロセスや鉱床の起源を理解するために重要です。SEMにマイクロXRFを追加したデュアルソース（励起源）システムは、主要元素とppmオーダーの微量元素の広範囲にわたるX線元素分布を測定することができます。
右図は異地性の銅鉱床からの試料の広範囲（45 x 30 mm²）マイクロXRF元素マップで、銅（赤）、カルシウム（緑）、マンガン（青）、ケイ素（紫）、塩素（深緑）の元素分布を示しています。さらにこの分析では、元素濃度が低すぎたりピークのエネルギーが高すぎるために通常の電子ビーム励起EDSでは検出できないCoやSrといった微量元素を検出することが可能です。このような情報により、元素分布と鉱物、組織の関連性や鉱床の起源をより深く理解することができます。
XTraceで測定した異地性銅鉱床試料の広範囲(45×30mm2)マイクロXRF元素マップ（分析条件：管電圧 Rh 50 kV、管電流 600 µA、ピクセルサイズ 25 µm、測定時間 101 分）。
左上 重ね合わせ元素マップ、右上 Cu定量マップ（QMap）、右下 微量元素 Sr（青）、Co（黄）の元素マップとX線合計強度マップ（反射電子像に類似）、左下 相分析マップ（P1 クリソコラ – 赤; P2 アタカマイト – 緑; P3 銅マンガン土 – 青; P4 炭酸塩 – 水色）
左上 重ね合わせ元素マップ、右上 Cu定量マップ（QMap）、右下 微量元素 Sr（青）、Co（黄）の元素マップとX線合計強度マップ（反射電子像に類似）、左下 相分析マップ（P1 クリソコラ – 赤; P2 アタカマイト – 緑; P3 銅マンガン土 – 青; P4 炭酸塩 – 水色）