エキゾチックCuの堆積物における元素と鉱物の分布

サンプル内の元素変化を観察する能力は、地質学的プロセスと鉱床の起源を理解するために重要です。 SEMにμXRFを組み込んだデュアルソースシステムは、ppmスケールで多量元素や微量元素の広域な元素X線マッピングを可能にします。

図は、エキゾチックな銅鉱床からのサンプルのμXRF大面積X線マップ(45 x 30 mm²)を示しており、銅(赤)、カルシウム(緑色)、マンガン(青)、シリコン(紫)、および塩素(濃緑色)の元素分布情報を現わしています。さらにこのサンプルでは、濃度が低すぎたり関連する元素のエネルギー線が高すぎるために電子ビームを使うEDSでは検出できない、CoやSrなどの微量元素を検出することができます。このような情報は、それらの分布と鉱物学的およびテクスチャーの関係と堆積物の起源のより深い理解を可能にします。

XTraceで取得したエキゾチック銅鉱床サンプルの大面積X線マップ(45mm x 30mm)(分析パラメータ:管電圧Rh 50kV、アノード電流 600μA、ピクセル間隔 25μm、分析時間 101分)。 左上の行: 定量化されたCu元素マップ (QMap)。右:混合元素強度マップ。 下段の左から右へ:フェーズマップ(P1 クリソコラ – 赤;P2 アタカマイト – 緑;P3 Cu-Mn Wad – 青;;P4 Carbonate - スカイブルー)。Sr(青)とCo(黄色)の微量元素の強度マップ。総X線強度マップ(BSE画像と同様、グレー)。