布鲁克安提亚仪器(Bruker Anasys 仪器)的新专利攻丝 AFM-IR 模式是纳米级红外技术中最先进的开发,为化学成像提供最高的空间分辨率,实现单层测量灵敏度,并扩展了 nanoIR 的应用范围更广的样品。
通过扩展我们获得专利的共振增强 AFM-IR 技术,包括攻丝模式操作,攻丝 AFM-IR 扩展了纳米级红外光谱的性能边界。此外,攻丝AFM-IR和专利FASTspectra功能的结合为用户提供了最先进、最高性能的纳米级红外光谱能力,与FTIR库直接相关。
高分辨率,高敏感
高分辨率、高灵敏度攻丝 AFM-IR 具有专利功能,可增强测量分辨率,将化学特性解析至 10 nm。对于许多应用,攻丝 AFM-IR 现在仅受探头分辨率限制。谐振增强的AFM-IR不断表现出单层灵敏度,能够对最薄的表面层进行化学分析。
高速化学成像 - 速度提高 10 倍
攻丝 AFM-IR 可将典型化学成像速度提高 10 倍,而不会损失性能,因此您可以更快地实现高分辨率成像或选择在相同数量的时间中拍摄更多数据。
最高性能的光谱和成像
攻丝AFM-IR和FASTspectra的结合为纳米级红外光谱提供了最高的性能,从而扩展了边界以做出新的发现。基于 FASTspectra AFM-IR 的光谱只是最强大的纳米级红外光谱功能。它具有优异的光谱分辨率和高灵敏度,提供丰富的详细光谱,直接与基于传输的FTIR相关。
新应用程序
点击 AFM-IR 可处理各种材料类型,并扩展功能,以超出接触模式最适合的功能类型。由于采用更软的测量方法,生命科学、纳米粒子和软聚合物材料等广泛领域现已有新的研究可能性。