布鲁克公司专利的轻敲式模式AFM-IR是纳米红外技术的新发展成果,为化学成像和光谱测量提供了高空间分辨率,实现了单分子层测量灵敏度,并将nanoIR的应用范围扩展到更广泛的样品类型。
通过将专利的共振增强AFM-IR技术扩展到轻敲模式操作,轻敲模式AFM-IR为纳米红外光谱学的性能设定了新的边界。此外,轻敲模式AFM-IR与专利的FASTspectra功能相结合,为用户提供了先进的、高性能的纳米红外光谱学研究能力,并能够直接与傅里叶变换红外光谱(FTIR)库进行关联:
高分辨率,高灵敏度
高分辨率、高灵敏度的轻敲模式AFM-IR拥有专利技术,可将测量分辨率提升至10nm,可清晰分辨化学特征。在许多应用中,轻敲模式AFM-IR的性能仅受限于探针的分辨率。共振增强AFM-IR可实现单分子层灵敏度,能够对薄的表面层进行化学分析。
高速化学成像——速度提升10倍
轻敲模式AFM-IR将典型的化学成像速度提高了10倍,且不损失性能,因此您可以更快地实现高分辨率成像,或者选择在相同的时间内获取更多的数据。
高性能的光谱分析与成像
轻敲模式AFM-IR与FASTspectra的结合,为纳米级红外光谱分析提供了优越的性能,拓展了研究的边界,将助力新的研究发现。基于FASTspectra的AFM-IR光谱分析具备目前领先的纳米级红外光谱分析能力。它具有出色的光谱分辨率和高灵敏度,能够提供与基于透射傅里叶变换红外光谱(FTIR)直接相关的丰富、详细光谱。
新的应用领域
轻敲模式AFM-IR适用于广泛的材料类型研究,并且其能力超越了接触模式样品所适合的范围。由于其更温和的测量方式,尤其在生命科学、纳米颗粒和软聚合物材料等诸多领域,新的研究可能性已经出现。