轻敲模式AFM-IR
性能优异的纳米级红外光谱和化学成像解决方案
布鲁克公司专利的轻敲式模式AFM-IR是纳米红外技术的新发展成果，为化学成像和光谱测量提供了高空间分辨率，实现了单分子层测量灵敏度，并将nanoIR的应用范围扩展到更广泛的样品类型。
通过将专利的共振增强AFM-IR技术扩展到轻敲模式操作，轻敲模式AFM-IR为纳米红外光谱学的性能设定了新的边界。此外，轻敲模式AFM-IR与专利的FASTspectra功能相结合，为用户提供了先进的、高性能的纳米红外光谱学研究能力，并能够直接与傅里叶变换红外光谱（FTIR）库进行关联：
- 10nm分辨率和单分子层灵敏度的红外化学成像和光谱
- 高速化学成像——速度提升10倍
- 直接与FTIR关联，实现纳米级FTIR
- 通过轻敲模式AFM-IR和FASTspectra技术，提供高性能的纳米红外光谱技术平台（nanoIR）
在1660 cm⁻¹处对5nm厚的生物膜进行轻敲模式AFM-IR成像。红外线轮廓显示，使用轻敲模式AFM-IR可实现小于10nm的化学空间分辨率。
高分辨率，高灵敏度
高分辨率、高灵敏度的轻敲模式AFM-IR拥有专利技术，可将测量分辨率提升至10nm，可清晰分辨化学特征。在许多应用中，轻敲模式AFM-IR的性能仅受限于探针的分辨率。共振增强AFM-IR可实现单分子层灵敏度，能够对薄的表面层进行化学分析。
高速化学成像——速度提升10倍
轻敲模式AFM-IR将典型的化学成像速度提高了10倍，且不损失性能，因此您可以更快地实现高分辨率成像，或者选择在相同的时间内获取更多的数据。
高性能的光谱分析与成像
轻敲模式AFM-IR与FASTspectra的结合，为纳米级红外光谱分析提供了优越的性能，拓展了研究的边界，将助力新的研究发现。基于FASTspectra的AFM-IR光谱分析具备目前领先的纳米级红外光谱分析能力。它具有出色的光谱分辨率和高灵敏度，能够提供与基于透射傅里叶变换红外光谱（FTIR）直接相关的丰富、详细光谱。
新的应用领域
轻敲模式AFM-IR适用于广泛的材料类型研究，并且其能力超越了接触模式样品所适合的范围。由于其更温和的测量方式，尤其在生命科学、纳米颗粒和软聚合物材料等诸多领域，新的研究可能性已经出现。
轻敲模AFM-IR在1730 cm⁻¹和1492 cm⁻¹为PS/PMMA共聚物提供高分辨率的化学成像。叠加的图像以显示化学对比度。
