Der neue patentierte Tapping AFM-IR-Modus von Bruker Anasys Instruments ist die fortschrittlichste Entwicklung in der nanoskaligen IR-Technologie und bietet die höchste räumliche Auflösung für die chemische Bildgebung, ermöglicht die Empfindlichkeit bei der Monolayer-Messung und erweitert die Anwendungen von nanoIR auf ein breiteres Spektrum von Proben.
Durch die Erweiterung unserer patentierten Resonance Enhanced AFM-IR-Technik auf den Betrieb im Abstichmodus erweitert das Tapping AFM-IR die Leistungsgrenzen für die nanoskalige IR-Spektroskopie. Darüber hinaus bietet die Kombination aus Tapping AFM-IR und patentierter FASTspectra-Fähigkeit Benutzern die fortschrittlichste und leistungsstärkste nanoskalige IR-Spektroskopie-Fähigkeit mit direkter Korrelation zu FTIR-Bibliotheken.
Hohe Auflösung, hohe Sensibilisierung
Hochauflösendes, hochempfindliches Tapping AFM-IR hat patentierte Funktionen, die die Auflösung der Messung verbessern, um chemische Eigenschaften bis zu 10 nm aufzulösen. Für viele Anwendungen ist das Tippen von AFM-IR nur noch durch die Auflösung der Sonde eingeschränkt. Resonanzverstärktes AFM-IR hat kontinuierlich monolayer Empfindlichkeit gezeigt, um chemische Analysen an den dünnsten Oberflächenschichten zu ermöglichen.
High-Speed Chemical Imaging - 10x schneller
Das Tippen von AFM-IR verbessert die typische chemische Bildgebungsgeschwindigkeit um das 10-fache ohne Leistungseinbußen, sodass Sie eine hochauflösende Bildgebung schneller erreichen oder mehr Daten in der gleichen Zeit aufnehmen können.
Höchste Performance-Spektroskopie und Bildgebung
Die Kombination aus Tapping AFM-IR und FASTspectra bietet die höchste Leistung für die nanoskalige IR-Spektroskopie und erweitert die Grenze, um neue Entdeckungen zu machen. FASTspectra AFM-IR-basierte Spektroskopie ist einfach die leistungsstärkste nanoskalige IR-Spektroskopie-Fähigkeit zur Verfügung. Es verfügt über eine ausgezeichnete spektrale Auflösung und hohe Empfindlichkeit und liefert reiche detaillierte Spektren, die direkt mit transmissionsbasierter FTIR korrelieren.
Neue Anwendungen
Das Tippen auf AFM-IR adressiert eine breite Palette von Materialtypen und erweitert die Funktionen über die, die am besten im Kontaktmodus geeignet sind. Durch den weicheren Messansatz stehen nun in einer Vielzahl von Bereichen wie Biowissenschaften, Nanopartikeln und weichen Polymermaterialien neue Forschungsmöglichkeiten zur Verfügung.