原位纳米机械测试

兼容TKD 和 STEM的 PI 89

提供电子透明样品的分析成像

Hysitron PI 89现在可用于使用 TKD 和 STEM 探测器对电子透明样品进行分析成像,同时进行纳米机械测试。与已建立的电子反散射衍射 (EBSD) 技术相比,最近为扫描电子显微镜 (SEM) 引入了传输 Kikuchi 衍射技术 (TKD),可提供 10 倍更好的样品空间分辨率。通过使用快速连接的组件,Hysitron PI 89 系统可以进行修改,以创建额外的所需空间,在样品下插入探测器,从而获得最佳信号。布鲁克获得专利的PTP 设备可用于 TKD 模式下的拉伸测试,以提供卓越的样品稳定性。

优化 TKD 探测器和高分辨率 TKD 图像。
(左和中)专利 PTP 器件为 TKD 和 STEM 成像提供最稳定的样品配置;(右)TKD 探测器插入样品下。

布鲁克的OPTIMUS TKD探测器 的独特设计允许用户将探测器直接放在样品下面。除了电子 闪光 EBSD 探测器 外,OPTIMUS 还可以获得最强信号,并实现最不失真的音位投影诱导失真。