原位纳米机械测试

兼容 TKD 和 STEM 的 Hysitron PI 89

提供电子透明样品的分析成像

Hysitron PI 89现可在进行纳米力学测试的同时,利用 TKD 和 STEM 探测器对电子透明样品分析成像。透射菊池衍射技术 (TKD) 最近已被引入扫描电子显微镜,同已建立的电子背散射衍射(EBSD)技术相比,它能将样品的空间分辨率提高 10 倍。通过快速装上附加组件,修改后的 Hysitron PI 89 系统可在样品下方创建额外的空间插入检测器,从而获得最佳信号。布鲁克已获专利的压转拉模块可用于 TKD 模式下的拉伸测试,从而为样品提供出色的稳定性。

Optimus TKD 检测器和高分辨率 TKD 图像。
(左、中)已获专利的压转拉模块,可为 TKD 和 STEM 成像提供最稳定的样品配置;(右)插入样品下方的 TKD 检测器。

布鲁克OPTIMUS TKD检测器的独特设计可让用户将检测器直接放置在样品下方。除了e-Flash EBSD 检测器,OPTIMUS 可以获得最强的信号,并最大程度减少由心射切面投影引起的失真。