兼容 TKD 和 STEM 的 Hysitron PI 89
PI89能对电子透明样品进行TKD和STEM分析成像，并同时进行纳米力学测试
Hysitron PI 89现可在进行纳米力学测试的同时，利用 TKD 和 STEM 探测器对电子透明样品分析成像。透射菊池衍射技术 (TKD) 最近已被引入扫描电子显微镜，同已建立的电子背散射衍射（EBSD）技术相比，它能将样品的空间分辨率提高 10 倍。通过快速装上附加组件，修改后的 Hysitron PI 89 系统可在样品下方创建额外的空间插入检测器，从而获得精确信号。布鲁克已获专利的压转拉模块可用于 TKD 模式下的拉伸测试，从而为样品提供出色的稳定性。
Optimus TKD 检测器和高分辨率 TKD 图像。
（左、中）已获专利的压转拉模块，可为 TKD 和 STEM 成像提供最稳定的样品配置；（右）插入样品下方的 TKD 检测器。
布鲁克OPTIMUS TKD检测器的独特设计可让用户将检测器直接放置在样品下方。除了e-Flash EBSD 检测器，OPTIMUS 可以获得很强的信号，并大大减少由心射切面投影引起的失真。
