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PeakForce SECM – 彩页 1.64MB

布鲁克独有的PeakForce SECM™模式是全球首创的基于原子力显微镜技术(AFM)的扫描电化学显微镜(SECM)。以其小于100纳米的空间分辨,PeakForce SECM™独一无二地实现了纳米级横向分辨的形貌、电化学、电学和力学图谱等数据的同时获取。

PeakForce Tapping – 彩页

布鲁克独有的峰值力轻敲模式是原子力显微技术自轻敲模式™发明后最具影响力的科学突破。它提供前所未有的高分辨成像,拓展了AFM测量范围使得一些以往无法测量的样品得以测试,而且可同时实现纳米级性能图谱的获取。

应用文档

https://mbns.bruker.com/acton/attachment/9063/f-071e/0/-/-/-/-/PeakForce%20SECM%20AppNote-AN147.pdfPeakForce SECM - AN147  1.64MB

此文档阐述了PeakForce SECM™,基于AFM的扫描电化学显微术的全球首套完备商用方案。以其小于100纳米的空间分辨,PeakForce SECM独一无二地实现了纳米级横向分辨的形貌、电化学、电学和力学图谱等数据的同时获取。

文章

“Atomic force microscopy with nanoelectrode tips for high resolution electrochemical, nanoadhesion and nanoelectrical imaging” M. Nellist, Y. Chen, A. Mark, S. Gödrich, C. Stelling, J.Jiang, R. Poddar, C. L, R. Kumar, G. Papastavrou.

Nanotechnology,  Volume 28,  Number 9 (2017)

 

“PeakForce Scanning Electrochemical Microscopy with Nanoelectrode Probes” Z. Huang, P. De Wolf, R. Poddar,C. Li, A. Mark,M. R. Nellist, Y. Chen, J. Jiang, G. Papastavrou, S. W. Boettcher, C. Xiang, B. S. Brunschwig

Microscopy Today Volume 24, Issue 6, pp. 18 -25 (2016)