相位图像模式

轻敲模式基础上衍生出来的操作模式,除样品的形貌信息之外进一步研究样品各项性质

相位图像模式是在轻敲模式基础上衍生出来的操作模式,初步获得样品的形貌信息之后进一步研究其组成成分、粘附力、摩擦力、粘弹性、以及其他的电学、磁学等性质。利用这种模式,可以进行样品成分分析、混合物不同组分成像、高低不同的样品表面粘附力和硬度的差异以及不同区域电磁学性质的差别等方面的研究。

相位成像是悬臂振动的周期信号相对于振动驱动信号的滞后,相位的滞后往往表明样品的表面性质发生了变化。

相位信号对于针尖和样品之间的长程或者短程作用力很敏感,长程作用力包括磁场、电场作用;短程作用力包括粘附力、粘弹性等。这种测量技术比振幅测量等技术都要敏感,因此,在各类SPM技术像如磁力显微术(Magnetic Force Microscopy MFM),静电力显微术( Electric Force MicroscopyEFM) 还有扫描电容显微术(Scanning Capacitance MicroscopySCM) 中,相位图都具有非常重要的作用。

 

可以获得相位像的AFM仪器型号:

选配的AFM探针型号:

PhasaeImaging_1.png
Images of a silicone hydrogel in fluid, obtained simultaneously. A) Topography B) Phase