LUMOS II
Ultraschnell.
Kompaktes Design. Präzise Optik.
Infrarotmikroskopie ohne Kompromisse
Mehr Platz für Ihre Proben. Mehr Geschwindigkeit bei chemischer Bildgebung. Mehr Leistung in der ATR-, Transmissions- und Reflexionsmikroskopie. Andere nennen es Innovation, wir nennen es LUMOS II.
Single-point FT-IR microscopy? FPA imaging? IR laser? Your choice.
FT-IR microscopy:
- TE-MCT as standard detector
- Industry leading ATR crystal design
- No liquid nitrogen, no dry-air purge
- LN-MCT and DTGS optionally available
- Up to two single-element detectors in parallel
- Upgrade to FPA imaging anytime
- Analyze samples of up to 40 mm in height
FT-IR FPA imaging:
- Focal-plane array (FPA) imaging detector
- Create FT-IR images at 1.6 mm² per sec
- Access 1.25 µm spatial resolution (ATR)
- FT-IR images at full MIR spectral range
- Imaging in ATR/TRANS/REFL
- Patented PermaSure+ imaging calibration
- Up to two additional detectors in parallel
IR laser imaging (ILIM):
- Room temperature focal-plane array detector
- Create IR images at 4.5 mm² per second
- IR laser images at 1,800 - 950 cm-1
- Create chemical images in TRANS and REFL
- Patented spatial coherence reduction
- Application workflows (Tissue, Particle, Tablet)
- Open design laser class 1 instrument
No matter what you choose, LUMOS II always offers ...
Easy to use all in one software.
The LUMOS II Wizard.
Inertness against high humidity.
Using inert optical materials.
AI powered evaluation routines.
Adaptive Chemical Imaging.
Compliance to cGMP and FDA 21 CFR p11.
Comprehensive audit trail.
Complete automization and long service-life.
Automated Knife-Edge Apertures.
Open design with easy access to samples.
270° access from three sides.
Die FT-IR-Workstation für Mikroskopie und Bildgebung
Das FT-IR Mikroskop für alle
Wir glauben, es höchste Zeit die fortschrittlichste Technik auch allen Nutzern zur Verfügung zu stellen - und zwar so einfach wie möglich. Der Grund ist klar: die Vorteile der FT-IR-Bildgebung und Mikroskopie sind einfach zu groß, um die Nutzung durch umständliche Hard- und Software einzuschränken.
Das LUMOS II macht FT-IR-Bildgebung einfacher, genauer, zuverlässiger und noch schneller. Die Grundlage dafür bilden verbesserte bewährte und neu entwickelte Technologien, doch im Zentrum stehen die beide innovativen TE-MCT und Focal-Plane Array (FPA) Detektoren. Kurz gesagt, diese Kombi ist einfach unschlagbar.
Wir haben das LUMOS II, seine Software und die Benutzeroberfläche auf häufige Nutzung ausgelegt. Anfänger erhalten perfekte Ergebnisse in kürzester Zeit, während Experten jederzeit volle Kontrolle über das Mikroskop behalten.
FT-IR Mikroskopie Funktionen und Leistungsmerkmale
Technische Merkmale von LUMOS II:
- Standard TE-MCT-Detektor
- Plug & Play: weder flüssiger Stickstoff noch Trockenluftspülung benötigt
- Optionaler FPA-Imaging-Detektor
- Neue PermaSure+ Kalibriertechnologie
- Vollmotorisierte und automatisierte Hardware
- Erlaubt Proben von bis zu 40 mm Höhe
- Lange Komponenten-Lebensdauer (inkl. Laser)
- Inert gegen hohe Luftfeuchtigkeit (ZnSe Optics)
- Stand-alone Design, geringer Platzbedarf
- Niedriger Stromverbrauch
LUMOS II bietet:
- Benutzerfreundlichkeit durch software-unterstützte Messungen
- Hochauflösende spektrale und visuelle Daten
- Hohe IR-Empfindlichkeit ohne Flüssigstickstoff
- Visuelle Auflösung im Submikrometerbereich
- Ultraschnelles FPA-Imaging
- FPA-Imaging ATR/Transmission/Reflexion
- Einfacher Zugang zum Probentisch
- Konformität mit cGMP und FDA 21 CFR p11
- Automatisierte OQ/PQ/Pharmakopöe-Tests
- Alle Features jederzeit nachrüstbar
Anwendungen
- Fehleranalyse
- Partikel- & Oberflächenanalyse
- Industrielle Fertigung
- Forensik
- Life Science
- Polymere & Kunststoffe
- Umweltwissenschaften
- Pharmazeutika
Hervorragendes μ-ATR ist bei uns Standard
Ob in Transmission, Reflexion oder Abgeschwächter Totalreflexion (ATR), das LUMOS II ist immer die richtige Wahl. Seine größte Stärke ist jedoch die ATR-Mikroskopie, gekrönt durch FPA-Technologie. Damit ist das LUMOS II ein universelles Werkzeug für die Fehleranalyse und Produktentwicklung.
Der ATR-Kristall ist nahtlos in das Mikroskop integriert und verfügt über einen präzisen Drucksensor. Piezoelektrische Motoren steuern den Kristall behutsam und exakt auf den ausgewählten Messpunkt.
Begnügen Sie sich nicht mit unzuverlässigem, manuellem ATR-Zubehör oder groben Drucksensoren die im Probentisch verbaut sind.
Der Standard in ATR-FT-IR Mikroskopie heißt LUMOS II.
Wir überzeugen mit Innovation
Höchste Präzision und Leistung für Ihre FT-IR-Mikroskopie.
Für uns ist das selbstverständlich. Wir wollen die beste Technik an unsere Kunden weitergeben, ob in der Routine oder der Forschung. Unser bewährtes RockSolidTM Interferometer garantiert konstant-hohe Leistung, während die fortschrittliche Elektronik mechanische Präzision und geringen Energieverbrauch sicherstellt. Zusätzlich überwacht die Software den Gerätestatus kontinuierlich und sorgt so für die korrekte Funktionalität bei jeder Messung. Garantiert.
LUMOS II Applikationsvideos
Wählen Sie Ihre μ-FT-IR-Anwendung
Partikelanalytik
Industrielle Fertigung
Umweltwissenschaften
Life Science
Forensik
Polymere und Kunststoffe
Kunst und Restaurierung
Pharmazeutische Herstellung
Oberflächen-Analytik
OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023
Neue Funktion: 3D FocusFusion erlaubt die Erstellung visueller Bilder von "unendlicher Schärfe".
Diese neue Funktion erzeugt ein gestochen scharfes visuelles Bild, selbst wenn die Probe eine raue Oberfläche hat oder uneben ist. Diese "unendliche Schärfe" in mikroskopischen Bildern hilft bei der Auswahl des relevanten Probenbereichs. Ab sofort ist es möglich sein, scharfe visuelle Bilder von Proben zu generieren, für die die Schärfentiefe des LUMOS II andernfalls limitiert wäre.
Neue Funktion: FPA Messungen können jetzt auch einem runden Muster folgen
Das FPA-Messgitter kann jetzt auch rund gewählt und als Kreis platziert werden, um z.B. einen gesamten Partikelfilter mit FPA-Bildgebung zu messen. Durch die Messung des tatsächlichen Probenbereiches ohne überflüssige Randbereiche sparen Benutzer erheblich Zeit und Speicherplatz.
OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021
Neue Funktion: Chemische Bilderzeugung durch Adaptive K-means Clustering
Die Adaptive K-means Clustering Funktion basiert auf einem neuen Algorithmus, der eine autonome Bestimmung der spektralen Varianz innerhalb Ihrer chemischen Bildgebungsergebnisse ermöglicht.
- Eine zeitaufwändige Suche nach der Anzahl der enthaltenen chemischen Klassen ist nicht mehr notwendig, da der Algorithmus alle enthaltenen chemischen Klassen selbständig vorhersagen kann.
- Diese Hauptfunktion ist wichtig für alle Arten der chemischen Bildgebung bzw. Verteilungsanalyse von Inhaltsstoffen bei unbekannten Proben oder kleinen Strukturen innerhalb größerer Datensätze.
- Zusammen mit LUMOS II wird die Auswertung so einfach wie möglich gestaltet, was wertvolle Zeit spart.
Neue Funktion: "Cluster ID"-Funktion zur Identifizierung von Klassen in 3D-Spektraldaten
Unsere neue Cluster ID-Funktion ermöglicht die Identifizierung von Clustern in Bildgebungs- und Kartierungsdaten mittels folgenden OPUS-Funktionen: Spektrensuche in Bibliotheken, Schnellvergleich oder Identitätstest.
- Einfache Bestimmung der chemischen Identität von klassifizierten Probenbestandteilen für Partikel, Schichten in Laminaten, pharmazeutischen Tabletten und anderen inhomogenen Materialien.
- Generieren Sie zuverlässige und umfassende Statistikberichte über Menge, Größe und natürlich Identität aller analysierten Strukturen werden bereitgestellt und führen die Partikel- und technische Sauberkeitsanalyse auf ein neues, eigenständiges Niveau.
Aktualisierte Funktion: "Find Particles"-Funktion enthält verbesserte Methodik
Die bewährte Funktion "Find Particle" kann nun sowohl auf das visuelle als auch auf das IR-Bild angewendet werden. Mit dieser aktualisierten Funktion können Sie Partikel auf der Grundlage von chemischen Bildern, die mit dem LUMOS II gemessen wurden, erkennen.
- Während die Partikelerkennung bei kontrastarmen Strukturen und nicht-weißen/transparenten Partikeln/Fasern auf nicht-weißen Filtermembranen mühsam sein kann, ermöglicht eine Partikelbestimmung nach dem Lauf auf der Grundlage des chemischen IR-Bildes die Bestimmung von Menge und Größe der Partikel anhand der Bildgebungs- oder Mapping-Ergebnisse.
- Mit der Partikelsuchfunktion in Verbindung mit dem LUMOS II entgeht Ihnen kein Detail - weder im visuellen noch im IR-Bereich.
FT-IR Mikroskope Literaturraum
Erfahren Sie mehr über unsere FT-IR Mikroskope und Lösungen, indem Sie verwandte Literatur herunterladen.
