LUMOS II FT-IR 현미경

간편한 정밀함

FT-IR 현미경 검사및 이미징 파워하우스

LUMOS II 소개 : 제품 프레젠테이션

LUMOS II Product Manager가 설명하는 LUMOS II의 기능

우리의 성명서

적외선 현미경 본연의 모습

샘플 준비를 위한 더 많은 공간. 화학적 이미징에 대한 더 향상된 속도. ATR, 전송 및 반사 현미경 검사법에서 더 많은 퍼포먼스. 이것이 우리가 진정한 게임 체인저라고 부르는 것입니다 - 의심의 여지가 없습니다.

기능

LUMOS II 기술 기능:

표준 TE-MCT 검출기
플러그 앤 플레이: 액체 질소 없음, 건식 공기 퍼지 필요 없음
선택적 FPA 이미징 검출기
새로운 퍼마Sure+ 교정 기술
완전 동력 및 자동화 하드웨어
높이 40mm의 시료 수용
레이저를 포함한 구성 요소의 긴 수명
높은 습도에서 비활성 (ZnSe 광학)
독립형 디자인, 작은 설치 공간
낮은 전력 소비

LUMOS II는 다음을 제공합니다.

소프트웨어 가이드 측정에 의한 사용 편의성
고화질 스펙트럼 및 시각적 데이터
액체 질소가 필요 없는 높은 IR 감도
서브 마이크로미터 범위의 시각적 해상도
초고속 FPA 이미징 성능
FPA 이미징 ATR/전송/반사
샘플 단계에 쉽게 액세스
CGMP 및 FDA 21 CFR p11 준수
자동 OQ/PQ/약전 검사
언제든지 업그레이드 가능

응용 프로그램

고장 분석
입자 및 표면 분석
산업 제조
법의학
생명 과학
폴리머 및 플라스틱
환경 과학
제약

데모 요청

LUMOS II란?

어디서나 / 누구나 FTIR 현미경

우리는 기술 수준에 관계없이 모든 사용자가 고급 기술을 이용할 수 있어야 할 때라고 생각합니다. FT-IR 이미징 및 현미경 검사법의 이점은 번거로운 하드와 소프트웨어로 접근을 제한하기에는 너무 큽니다.

처음부터 LUMOS II는 FT-IR 이미징을 더 빠르고, 쉽고, 더 정확하고, 신뢰할 수 있게 만들고, 더욱 재미있게 만들기 위한 것이었습니다. 물론, 이것은 우리가 새로운 기술을 포함시키고 입증 된 기술을 개선하기 위해 필요합니다.

그렇기 때문에 우리는 LUMOS II, 이것의 소프트웨어 및 사용자 인터페이스를 사용자에게 구체적으로 맞추었습니다. 초보자는 단시간에 완벽한 결과를 얻을 수 있고, 전문가는 완전한 계측기 제어를 유지합니다.

우수한 FT-IR 현미경 검사

우수한 μ-ATR FT-IR 기능

It comes down to this : 더 나은 장비. 더 나은 결과.

전송, 반사 또는 감쇠 총 반사(ATR)이든, LUMOS II는 항상 올바른 선택이 될 것입니다. 그러나 가장 큰 강점은 FPA 기술에 의해 강화 된 ATR 현미경 검사법입니다. 따라서 LUMOS II는 고장 분석 및 제품 개발을 위한 보편적인 도구입니다.

긴 스토리를 짧게 자르기 위해 ATR 기능은 타의 추종을 불허합니다. 기간. 신뢰할 수없는 수동 ATR 액세서리에 만족하지 마십시오 - 최고를 선택하세요. 바로 LUMOS 입니다.

개폐식 결정은 고정밀 압전전기 모터에 의해 제어되고 렌즈에 통합됩니다. 이를 통해 측정이 원하는 위치에 정확히 수행되는 동안 샘플을 명확하게 볼 수 있습니다.

입증된 기술

설득력 있는 혁신

응용 분야에 대한 내구성과 전력.

고객에게 최고의 기술을 전달하는 것은 자연스러운 일입니다.

물론, 이것은 LUMOS II에도 적용됩니다.

RockSolid^TM 간섭계는 일정한 성능을 보장하며, 현대적인 전자 장치는 기계적 정밀도와 낮은 에너지 소비를 보장합니다. 한편, 소프트웨어는 계측기 효과를 모니터링하고 항상 올바른 기능을 보장합니다.

데모 요청

LUMOS II Application Videos

PCB failure analysis by FT-IR microscopy.

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.

Adhesive layer analysis of a food packaging film by µ-FT-IR.

Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.

Detecting dangerous particles in injectable medication.

Particle root cause analysis performed by IR microscopy.

Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.

Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.

Quantification in microscopic samples by FT-IR.

How LUMOS II is applied in geology and related sciences.

Anti-corrosive coating analysis on metal surface by IR imaging.

Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.

Diamond gemstone analysis by FT-IR microscopy.

Finding microplastic particles in cosmetic products by µ-FT-IR.

See for yourself how well IR and VIS data match with LUMOS II.

쉬운 현미경 검사법

μ-FT-IR 애플리케이션 선택

입자 및 표면 분석

기술적 청결이든, 입자에 대한 조사또는 코팅 균질성 검증이든. 입자를 식별하고 자동으로 측정하는 특수 소프트웨어 기능을 갖춘 LUMOS는 모든 표면의 모든 파티클을 분석하기 위한 안정적인 파트너입니다.

산업 제조

모든 종류의 유기 및 무기 물질은 산업 제조에 사용됩니다. 따라서 손해와 결함은 다양한 형태를 취할 수 있습니다. 진정한 보편적 인 기술로, FT-IR 현미경 검사는 이러한 실패및 근본 원인 분석 응용 프로그램에 큰 도움이됩니다.

환경 과학

화학 및 입자 오염은 우리 생태계에 큰 영향을 미칩니다. FT-IR 현미경 검사법과 이미징을 사용하여 토양, 물 및 공기의 오염을 평가합니다. 퇴적물, 지질 학적 샘플과 같은 복잡한 샘플을 조사하고 필터에 잔류 물질을 결정합니다.

생명 과학

마이크로 FT-IR를 통해 분석하면 생물학에 대한 중요한 통찰력을 얻을 수 있습니다. 그것은 특정 질병 패턴의 발견을 가능하게 합니다, 기능 장애 조직 또는 심지어 새로운 질병 관련 biomarkers. 빠른 이미징 기능과 거대한 시야를 갖춘 LUMOS II는 긴 조직 조사를 단순화합니다.

법의학

가장 작은 세부 사항은 법의학에 관해서 가장 중요 할 수 있습니다. FT-IR 현미경 검사는 가장 작은 추적 증거를 조사하는 선택의 방법입니다. 섬유, 약물, 페인트 및 바니시를 분석하고 복잡한 분석 질문의 바닥에 도착합니다.

폴리머 및 플라스틱

FT-IR는 중합체 과학에서 가장 중요한 분석 기술 중 하나입니다. 적외선 현미경 검사법은 이 영역에서 비교할 수 없는 수준의 세부 사항에 대한 액세스를 제공하는 것이 정확합니다. 포함 불순물 및 불균일성과 같은 제품 결함의 원인을 추적하는 데 사용합니다. 복잡한 재료, 다층 구조, 라미네이트, 복합 재료 및 바니시의 화학 적 조성물을 발견하십시오.

예술과 복원

LUMOS II는 역사적인 그림에 사용되는 색상의 구성을 발견하는 데 도움이 골동품 동상에서 대리석의 화학 적 저하를 자세히 살펴. 독립형 컴팩트 폼 팩터를 통해 이동, 간편한 설정 및 정확한 결과를 제공합니다.

제약

LUMOS II는 cGMP, GLP FDA 21 CFR 파트 11 및 모든 약전과 같은 모든 제약 규정을 완전히 준수합니다. 자동화된 기기 검증 테스트(OQ/PQ/PhEur/PhJp/USP 추가)는 정제, 과립 및 분말을 검사하고 입자 및 기타 오염을 감지하고 식별하는 분석 작업에 집중할 시간을 제공합니다. API 및 부형제 분포를 결정합니다.

표면 과학

FTIR 현미경 검사를 사용하여 표면 처리, 코팅 또는 청결을 평가합니다. 완제품에 유기 및 무기 필름은 균일성과 층 두께에 대한 조사를 받습니다.

추가 응용 프로그램

초고속 이미징 현미경

OPUS Release 8.8 | LUMOS II | Q3 2023

New Feature: 3D FocusFusion now allows the creation of visual images of infinite "sharpness"

This new feature creates a pin sharp visual image, even if the sample has a rough surface or isn’t flat at all.
This infinite "sharpness" in microscopic images helps in region of interest selection. Now it will be possible to generate sharp visual images of samples for which the depth of field of the LUMOS II is limited.

Image of a highly structured surface created by 3D FocusFusion.

New Feature: FPA imaging can now follow round / circular measurement areas

Now, the measurement grid can be placed in a round shaped way to measure a whole particle filter with FPA imaging. By only measuring the actual region of interest users safe significant amounts of time during FPA measurements of round regions of interest like filters in microplastic analysis.

Circular measurement area on an aluminum oxide filter for particle analysis

OPUS Release 8.7 | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes by itself.
This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.