Исключительный FT-IR.
Великолепная наглядность. Ультрабыстрая визуализация.
Больше места для подготовки образцов. Больше скорости для химической визуализации. Больше представления в ATR, просвечивающей и отражающей микроскопии. Это то, что мы называем сменой правил игры - и это не обсуждается.
Технические характеристики LUMOS II:
LUMOS II обеспечивает:
Области применения
Мы считаем, что настало время сделать продвинутые методы доступными для каждого пользователя, независимо от его квалификации. Преимущества ИК-Фурье визуализации и микроскопии слишком велики, чтобы ограничить доступ к ним из-за сложного оборудования и программного обеспечения.
С самого начала LUMOS II должен был вывести ИК-Фурье визуализацию на новый уровень, делая её ещё быстрее, проще, точнее и надёжнее - и даже интереснее. Конечно, это потребовало от нас включения новых и улучшения проверенных технологий.
Вот почему мы адаптировали LUMOS II, его программное обеспечение и пользовательский интерфейс под потребности пользователя. Новичок получит мгновенный результат, в то время как эксперты полностью контролируют работу инструмента.
Все сводится к этому: Лучший инструмент. Лучшие результаты.
Будь то пропускание, отражение или нарушенное полное внутреннее отражение (НПВО),LUMOS II всегда правильный выбор. Но его самая большая сила ATR микроскопии увеличивается с помощью технологии FPA. Это делает LUMOS II универсальным инструментом для анализа отказов и разработки продукта.
Короче говоря, возможности ATR непревзойденны. И точка. Не соглашайтесь на ненадежное, возьмите аксессуары ATR - получите лучшее. Возьмите LUMOS.
Выдвижной кристалл управляется высокоточными пьезоэлектрическими двигателями и интегрируется в объектив. Это позволяет наслаждаться четким представлением образца в то время как ваши измерения по-прежнему происходит именно там, где вы хотите.
Выносливость и мощность для всех областей применения.
Для нас естественно обеспечивать лучшими технологиями наших клиентов. Конечно, это относится и к LUMOS II.
Интерферометр RockSolidTM гарантирует постоянную производительность, в то время как современная электроника обеспечивает точность и низкое потребление энергии. Между тем, программное обеспечение отслеживает эффективность инструмента и всегда обеспечивает правильную работу устройства.
Анализ частиц и поверхности
Промышленное производство
Экологическая наука
Наука о жизни
Криминалисты
Полимеры и пластмассы
Искусство и реставрация
Фармацевтика
Поверхностная наука
New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function
This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.
New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data
Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.
Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method
The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.
Узнайте больше о наших ft-IR микроскопах и решениях, загрузив связанную литературу.