FT-IR Микроскоп

LUMOS II

LUMOS II это полностью автоматизированный автономный ИК-Фурье микроскоп, в котором сочетаются превосходное качество визуализации, возможность осуществления ИК-анализа микрообразцов и удобство использования.

Исключительный FT-IR.

Великолепная наглядность. Ультрабыстрая визуализация.

Легкий эффективный точный

ИК-Фурье микроскопия и станция для визуализации

Индродукция LUMOS II Презентация продукта
Менеджер по продуктам LUMOS II представляет LUMOS II и его особенности.
Наше заявление

Инфракрасная микроскопия, как это должно было быть.

Больше места для подготовки образцов. Больше скорости для химической визуализации. Больше представления в ATR, просвечивающей и отражающей микроскопии. Это то, что мы называем сменой правил игры - и это не обсуждается.

Функции

Технические характеристики LUMOS II:

  • Стандартный детектор TE-MCT
  • Включай и работай: нет жидкого азота, нет очистки сухого воздуха
  • Дополнительный детектор FPA-изображения
  • Новая технология калибровки PermaSure+
  • Полностью моторизованное и автоматизированное оборудование
  • Размещение образцов высотой до 40 мм
  • Надёжные компоненты, включая лазер
  • Инертен к высокой влажности (оптика ZnSe)
  • Автономная конструкция, небольшой размер
  • Низкое энергопотребление
 

LUMOS II обеспечивает:

  • Программное обеспечение с пошаговым помощником
  • Спектральные и визуальные данные высокого разрешения
  • Высокая чувствительность ИК без необходимости использования жидкого азота
  • Огромное поле зрения при субмикронном разрешении.
  • Сверхбыстрая регистрация данных при картировании на FPA детекторе
  • Съёмка с матрицей в фокальной плоскости (FPA) НПВО/пропускание/отражение
  • Легкий доступ к этапу выборки
  • Соответствие требованиям cGMP и FDA 21 CFR p11
  • Автоматическая аттестация эксплуатируемого оборудования (PQ)/функционирования (OQ)/фармокопея
  • Обновления в любое время 
 

Области применения

  • Анализ дефектов
  • Анализ частиц и поверхности
  • Промышленное производство
  • Судебно-медицинская экспертиза
  • Биологические науки
  • Полимеры и пластмассы
  • Экология
  • Фармацевтика
Что такое LUMOS II

Везде. Для всех.

Мы считаем, что настало время сделать продвинутые методы доступными для каждого пользователя, независимо от его квалификации. Преимущества ИК-Фурье визуализации и микроскопии слишком велики, чтобы ограничить доступ к ним из-за сложного оборудования и программного обеспечения.

С самого начала LUMOS II должен был вывести ИК-Фурье визуализацию на новый уровень, делая её ещё быстрее, проще, точнее и надёжнее - и даже интереснее. Конечно, это потребовало от нас включения новых и улучшения проверенных технологий.

Вот почему мы адаптировали LUMOS II, его программное обеспечение и пользовательский интерфейс под потребности пользователя. Новичок получит мгновенный результат, в то время как эксперты полностью контролируют работу инструмента.

ОТЛИЧНАЯ FT-IR МИКРОСКОПИЯ

Превосходные μ-ATR FT-IR возможности

Все сводится к этому: Лучший инструмент. Лучшие результаты.

Будь то пропускание, отражение или нарушенное полное внутреннее отражение (НПВО),LUMOS II всегда правильный выбор. Но его самая большая сила ATR микроскопии увеличивается с помощью технологии FPA. Это делает LUMOS II универсальным инструментом для анализа отказов и разработки продукта.

Короче говоря, возможности ATR непревзойденны. И точка. Не соглашайтесь на ненадежное, возьмите аксессуары ATR - получите лучшее. Возьмите LUMOS.

Выдвижной кристалл управляется высокоточными пьезоэлектрическими двигателями и интегрируется в объектив. Это позволяет наслаждаться четким представлением образца в то время как ваши измерения по-прежнему происходит именно там, где вы хотите.

Проверенные технологии

Убедительные инновации

Выносливость и мощность для всех областей применения.

Для нас естественно обеспечивать лучшими технологиями наших клиентов. Конечно, это относится и к LUMOS II.

Интерферометр RockSolidTM гарантирует постоянную производительность, в то время как современная электроника обеспечивает точность и низкое потребление энергии. Между тем, программное обеспечение отслеживает эффективность инструмента и всегда обеспечивает правильную работу устройства.

LUMOS II видео-примеры применения

Анализ дефектов покрытий методом ATR-FT-IR микроскопии.
Анализ дефектов печатных плат методом FT-IR микроскопии.
Adhesive layer analysis o a food packaging film by FT-IR microscopy.
Anti-corrosive coating analysis on a metal surface by FPA imaging.
Контроль качества текстиля и флиса с помощью FT-IR микроскопии.
Анализ первопричин с помощью ИК микроскопии.
Анализ многослойных пленок и пластиков с помощью макро ATR визуализации.
Определение толщины алмазоподобных углеродных покрытий методом FT-IR микроскопии..
Композитные многослойные полимеры проанализированы методом ATR-FT-IR.
Анализ бриллиантов методом FT-IR микроскопии.

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

  •  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
  • This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
  • Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

  • Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
  • Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

  • While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
  • With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.
Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

Литературная комната FT-IR Микроскопы

Узнайте больше о наших ft-IR микроскопах и решениях, загрузив связанную литературу.