Mikroskop FT-IR

LUMOS II

LUMOS II to samodzielny mikroskop FTIR, który znajduje zastosowanie w analizie błędów, w badaniach materiałowych i w analizie cząstek. LUMOS II to kompaktowy, precyzyjny system, który może być wyposażony w detektor FPA do ultraszybkiego obrazowania chemicznego.

Wyjątkowa IR.

Genialny wygląd. Ultraszybkie obrazowanie.

Najważniejsze informacje

PROSTY EFEKTYWNY PRECYZYJNY

Mikroskopia FT-IR i obrazowanie chemiczne

Wprowadzenie do LUMOS II | Prezentacja produktu
Menedżer produktu LUMOS II prezentuje LUMOS II i jego funkcje.
Nasze oświadczenie

Mikroskopia podczerwieni taka, jaka powinna być.

Więcej miejsca na przygotowanie próbek. Większa szybkość obrazowania chemicznego. Większa wydajność w mikroskopii ATR, transmisji i refleksji. To jest to, co nazywamy prawdziwym przełomem - bez dyskusji.

Cechy charakterystyczne

Cechy

Cechy techniczne LUMOS II:

  • Standardowo: detektor TE-MCT
  • Plug & Play: nie wymagany ciekły azot czy przedmuch
  • Opcjonalny detektor FPA do obrazowania
  • Nowatorska technologia kalibracji PermaSure+
  • W pełni zmotoryzowany i zautomatyzowany hardware
  • Pomiar próbek o wysokości do 40 mm
  • Długa żywotność komponentów, w tym lasera
  • Niewrażliwy na wysoką wilgotność (optyka ZnSe)
  • Samodzielny, o niewielkich rozmiarach
  • Niskie zużycie energii

LUMOS II zapewnia:

  • Łatwość obsługi dzięki specjalnemu asystentowi pomiaru
  • Dane spektralne i widzialne wysokiej rozdzielczości
  • Wysoka czułość IR bez konieczności stosowanie ciekłego azotu
  • Rozdzielczość widzialna w zakresie sub mikrometrów
  • Ultraszybkie obrazowanie FPA
  • Obrazowanie FPA w ATR/transmisji/refleksji
  • Łatwy dostęp do stolika pomiarowego
  • Zgodność z cGMP i FDA 21 CFR p11
  • Automatyczne testy OQ/PQ/farmakopei
  • Szerokie możliwości rozbudowy systemu

Zastosowanie:

  • Analiza błędów
  • Analiza cząstek i powierzchni
  • Produkcja przemysłowa
  • Kryminalistyka
  • Life science
  • Polimery i tworzywa sztuczne
  • Badania środowiskowe
  • Przemysł farmaceutyczny
Co to jest LUMOS II

Mikroskop FTIR dla każdego

Wierzymy, że to najwyższy czas udostępnić zaawansowane techniki każdemu użytkownikowi, niezależnie o umiejętności. Korzyści z obrazowania i mikroskopii FT-IR są zbyt duże, aby ograniczyć do nich dostęp przez zbyt skomplikowany hardware czy oprogramowanie. 

Od samego początku LUMOS II miał sprawić, że obrazowanie FT-IR będzie szybsze, łatwiejsze, dokładniejsze i bardziej niezawodne - a dodatkowo bardziej przyjemne w użytkowaniu. Oczywiście wymagało to od nas wprowadzenia nowych i ulepszonych sprawdzonych technologii.

Dlatego dostosowaliśmy LUMOS II, jego oprogramowanie i interfejs specjalnie do użytkownika. Początkujący mogą osiągać doskonałe wyniki w krótkim czasie, natomiast eksperci mają nieograniczone możliwości.

DOSKONAŁA MIKROSKOPIA FT-IR

Doskonałe możliwości μ-ATR FT-IR

Sprowadza się to do tego: Lepszy instrument. Lepsze wyniki.

LUMOS II zapewnia doskonałe wyniki w pomiarach transmisyjnych i odbiciowych. Godnym uwagi są pomiary w trybie osłabionego całkowitego wewnętrznego odbicia (ATR). LUMOS II jest zawsze właściwym wyborem. Jego największą zaletą jest mikroskopia ATR wzmocniona przez technologię FPA. Dzięki temu LUMOS II jest uniwersalnym narzędziem do analizy błędów i rozwoju produktów.

Krótko mówiąc, jego możliwości ATR są niezrównane. Nie zadowalaj się niewiarygodnymi, manualnymi akcesoriami ATR - zdobądź to co najlepsze. Postaw na LUMOS!

Wysuwany kryształ jest kontrolowany przez wysoce precyzyjne piezoelektryczne motory oraz jest zintegrowany z obiektywem. Pozwala to na uzyskanie idealnego obrazu próbki podczas gdy Twój pomiar odbywa się dokładnie w tym miejscu, w którym chcesz

Sprawdzona technologia

Przekonujące innowacje

Wytrzymałość i moc dla różnych zastosowań.

Jest dla nas naturalnym przekazywać najlepsze technologie naszym klientom. To również odnosi się do mikroskopu LUMOS II.

Interferometr RockSolidTM gwarantuje stałą, wysoką wydajność, podczas gdy nowoczesna elektronika zapewnia mechaniczną precyzję i niskie zużycie energii. Oprogramowanie monitoruje efektywność instrumentu i zapewnia prawidłowe działanie.

Aplikacje

Zastosowania LUMOS II - wideo

Analiza wad powłok za pomocą mikroskopii ATR-FT-IR.
Analzia PCB za pomocą mikroksopii FT-IR
Adhesive layer analysis o a food packaging film by FT-IR microscopy.
Anti-corrosive coating analysis on a metal surface by FPA imaging.
Kontrola jakości tekstyliów i wełny za pomocą mikroskopii FT-IR.
Analiza przyczyn pierwotnych z wykorzystaniem mikroskopii IR
Analiza laminatów i folii wielowarstowych za pomocą obrazowania makro ATR.
Analiza grubości powłok warstw DLC za pomocą mikroskopii FT-IR.
Kompozytowe polimery wielowarstwowe analizowane metodą ATR-FT-IR.
Analiza diamentów za pomocą mikroskopii FT-IR.

Wiadomości i wydarzenia

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

  •  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
  • This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
  • Together with the LUMOS II analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

  • Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
  • Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

  • While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.
  • With the Find Particle Function together with the LUMOS II you will never miss any detail – neither in visual nor in IR range.
Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

Więcej informacji

Mikroskopy FT-IR - materiały dodatkowe

Dowiedz się więcej o naszych mikroskopach i rozwiązaniach FT-IR, pobierając dostępne materiały.