Microscope IR-TF

LUMOS II

Le LUMOS II est un microscope IR-TF autonome qui excelle dans l’analyse de défauts, la recherche sur les matériaux et l’analyse de particules. Il est compact, précis et dispose d’un détecteur imagerie ultrarapide avec la technologie FPA.

Microscope IR exceptionnel

Image visible de haute qualité et Analyse en Imagerie ultrarapide.

Précis, facile et efficace

La microscopie IRTF associée avec de l’imagerie

Introduction du LUMOS II | Présentation du produit
Le chef de produit présente le LUMOS II et ses caractéristiques.
Description

La microscopie infrarouge en toute simplicitée.

Plus d’espace pour la mise en place de l’échantillon. Plus de vitesse pour l’imagerie chimique. Plus de perfomance en ATR, transmission et réflexion. C’est ce que nous appelons un véritable changement dans la microscopie et sans équivalent.

Spécifications

Caractéristiques techniques du LUMOS II :

  • Détecteur Standard TE-MCT
  • Plug & Play : pas d’azote liquide, pas de purge
  • En option, détecteur Imagerie FPA
  • Nouvelle technologie d’étalonnage PermaSure+
  • Système entièrement motorisé et automatisé
  • Permet de positionner des échantillons allant jusqu’à 40 mm de hauteur
  • Longue durée de vie des composants, y compris le laser
  • Inerte à une forte humidité (Optique ZnSe)
  • Conception autonome, encombrement réduit
  • Faible consommation d’énergie
 

LUMOS II fournit :

  • Facilité d’utilisation avec des mesures guidées pas à pas
  • Images et données spectrales de très hautes qualitées
  • Haute sensibilité en IR sans azote liquide
  • Résolution  de l'image inférieure au micromètre
  • Performances en Imagerie FPA ultrarapides
  • Imagerie FPA en ATR/transmission/réflexion
  • Accès facile à la table échantillon
  • Conformité au CGMP et à la FDA 21 CFR p11
  • Tests pharmacopée automatisés OQ/PQ
  • Evolutif à tout moment
 

Applications

  • Analyse des défauts
  • Analyse des particules et de surface
  • Application industrielle
  • Sciences médico-légales
  • Sciences de la vie
  • Polymères et plastiques
  • Sciences de l’environnement
  • Pharmaceutiques
Qu’est-ce que le LUMOS II

La flexibilité maximale en microscopie IRTF

Nous passons qu’il est grand temps de mettre la meilleure technologie à la disposition de chaque utilisateur, quel que soit son niveau de compétence. Les avantages de l’imagerie IR-TF et de la microscopie sont trop utiles pour s'affranchir des limites d'analyse dans la technologie et l'informatique.

Dès le début, le LUMOS II était destiné à rendre l’imagerie IR-TF plus rapide, plus facile, plus précise et fiable – et encore plus amusant. Bien sûr, cela nous a obligés à inclure de nouvelles technologies reconnues et innovantes.

Pour ce faire, nous avons adapté le logiciel du LUMOS II, son logiciel et son interface utilisateur spécifiquement à l'utilisateur. Les débutants obtiennent des résultats parfaits en un rien de temps, tandis que les experts ont un accès illimité.

MICROSCOPIE IR-TF EXCEPTIONNELLE

Performances IRTF supérieures en μ-ATR

Il s’agit du meilleur instrument pour de meilleurs résultats.

Qu’il s’agisse de transmission, de réflexion ou de réflectance totale atténuée (ATR), le LUMOS II est toujours le bon choix. Mais sa plus grande force est la microscopie ATR améliorée par la technologie FPA. Cela fait du LUMOS II un outil universel pour l’analyse des défauts et d'expertise de produits.

Pour faire simple, ses capacités ATR sont inégalées. Ne vous contentez pas d’accessoires ATR manuels peu fiables – obtenez le meilleur. Prenez le LUMOS.

Le cristal rétractable est contrôlé par des moteurs piézoélectriques de haute précision et intégré dans la l'objectif. Cela vous permet de profiter d’une image nette de l’échantillon pendant la mesure et de la réaliser exactement où vous le souhaitez.

Technologie reconnue

Convaincre par l’innovation

La robustesse et la puissance pour les applications.

Pour nous, c’est une chose évidente de transmettre la meilleure technologie à nos clients et cela s’applique également au LUMOS II.

L’interféromètre RockSolidTM garantit des performances constantes, tandis que l’électronique de pointe intégrée assure une précision mécanique et une faible consommation d’énergie. En temps réel, le logiciel surveille l’efficacité des instruments et assure toujours une fonctionnalité correcte.

Application avec le LUMOS II en vidéos
 

Analyse des défauts des PCB par microscopie IRTF.
Analyse des défauts de revêtement par microscopie ATR-IRTF.
Analyse de la couche adhésive d'un film d'emballage alimentaire par µ-IRTF.
Contrôle qualité des textiles et des polaires par microscopie IRTF.
Détection des particules toxiques dans les médicaments injectables.
Analyse de la source des défauts de particules réalisée par microscopie IR.
Polymères composites multicouches analysés par ATR-IRTF.
Analyse de l'épaisseur de revêtement des couches DLC par microscopie IRTF.
Quantification d'échantillons microscopiques par IRTF.
Comment LUMOS II est appliqué à la géologie et aux sciences connexes.
Analyse de revêtement anticorrosion sur surface métallique par imagerie IR.
Analyse de films et de stratifiés multicouches par imagerie macro ATR.
Analyse des pierres précieuses diamant par microscopie IRTF.
Recherche de particules microplastiques dans les produits cosmétiques par µ-IRTF.
Voyez par vous-même à quel point les données IR et VIS correspondent à LUMOS II.

OPUS version 8.8  | LUMOS II | Q3 2023

Nouvelle fonction: 3D FocusFusion permet de réaliser la création d'images visuelles d'une "netteté" infinie.

Cette nouvelle fonctionnalité crée une image visuelle très nette, même si l'échantillon a une surface rugueuse ou pas plan.

Cette "netteté" infinie dans les images en microscopie facilité la sélection des régions d'intérêt. Désormais, il sera possible de générer des images visuelles d'échantillon nettes pour lesquels la profondeur de champ du LUMOS II est limitée.

Image d'une surface hautement structurée créée par 3D FocusFusion.


Nouvelle fonction: L'imagerie FPA peut désormais suivre les zones de mesure rondes et/ou circulaires

Désormais, la grille de mesure peut être réalisée en cercle pour mesurer un filtre à particules entier avec l'imagerie FPA. En ne mesurant que la région d'intérêt réelle, les utilisateurs gagnent un temps considérable lors des mesures FPA de régions d'intérêt circulaires comme les filtres dans l'analyse des microplastiques.

Zone de mesure circulaire sur un filtre en oxyde d'aluminium pour l'analyse des particules

Publications OPUS 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

 Nouveautés: Génération d'images chimiques de haute performance grâce à la nouvelle fonction de clustering adaptative K-means

Cette nouvelle fonction est la prochaine étape logique du développement de notre fonction d'analyse de cluster bien connue. La fonction de clustering K-means adaptative est basée sur un nouvel algorithme, qui permet une détermination non supervisée et autonome de la variance spectrale dans vos résultats d'imagerie ou de cartographie.

  • La prévision ou la recherche fastidieuse de la quantité de classes chimiques n'est plus nécessaire car l'algorithme peut prédire toutes les classes dans l'image chimique.
  • Cette fonction majeure est importante pour toutes sortes d'analyses d'imagerie chimique et de distribution d'échantillons inconnus ou de petites structures dans des ensembles de données plus importants.
  • Avec le LUMOS II, l'analyse et l'évaluation sont très simples et optimisent votre temps.

Nouveautés: Fonction “Cluster ID” pour l'identification de classes en données spectrales 3D

Notre nouvelle fonction Cluster ID permet l'identification de clusters au sein des données issues de l'imagerie et de cartographie à l'aide des fonctions de OPUS : recherche de spectre dans les bibliothèques, comparaison rapide ou test d'identité.

  • Détermination de l'identité chimique des échantillons classés dans les particules, les couches stratifiées, les composés dans les comprimés pharmaceutiques et d'autres matériaux non homogènes.
  • Des rapports statistiques fiables et complets sont fournis, sur la quantité, la taille et bien sûr l'identité de toutes les structures analysées et conduisent l'analyse des particules et de la propreté technique à un nouveau niveau d'autonomie.

Mise à jour de fonction: Fonction "Find Particles" propose une nouvelle méthode d'analyse de particule

La fonction "Find Particle" peut désormais être appliqué à la fois à l'image visuelle et à l'image IR. Avec cette mise à jour de la fonction, vous pouvez effectuer une détection de particules sur la base d'images chimiques mesurées par le LUMOS II.

  • Alors que la reconnaissance des particules pour les structures à faible contraste et les particules/fibres blanches/transparentes sur des filtres ou membranes blancs peut être fastidieuse, une détermination des particules post-analyse basée sur l'image IR chimique vous permet de déterminer la quantité et la taille des particules à partir de votre résultats en imagerie ou cartographie.
  • Avec la fonction "Find Particle" et le LUMOS II, aucun détail ne vous échappera, ni dans l'analyse visible, ni dans les données IR.
Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

plus de documentation en microscope IRTF

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