FT-IR Mikroskop

LUMOS II

Das LUMOS II ist ein automatisiertes stand-alone FT-IR-Mikroskop, mit Fokus auf Fehleranalyse, Materialforschung und Partikelanalyse. Es ist kompakt, präzise und verfügt über ultraschnelle chemische Bildgebungstechnologie.

Ultraschnell.

Kompaktes Design. Präzise Optik.

Highlights

Einfach. Effektiv. Präzise.

Die FT-IR-Workstation für Mikroskopie und Bildgebung

Die Vorstellung des LUMOS II | Produktpräsentation
Der LUMOS II Produktmanager spricht über das LUMOS II und seine Funktionen.

Infrarotmikroskopie ohne Kompromisse

Mehr Platz für Ihre Proben. Mehr Geschwindigkeit bei chemischer Bildgebung. Mehr Leistung in der ATR-, Transmissions- und Reflexionsmikroskopie. Andere nennen es Innovaton, wir nennen es LUMOS II.

Eigenschaften

FT-IR Mikroskopie Funktionen und Leistungsmerkmale

Technische Merkmale von LUMOS II:

  • Standard TE-MCT-Detektor
  • Plug & Play: weder flüssiger Stickstoff noch Trockenluftspülung benötigt
  • Optionaler FPA-Imaging-Detektor
  • Neue PermaSure+ Kalibriertechnologie
  • Vollmotorisierte und automatisierte Hardware
  • Erlaubt Proben von bis zu 40 mm Höhe
  • Lange Komponenten-Lebensdauer (inkl. Laser)
  • Inert gegen hohe Luftfeuchtigkeit (ZnSe Optics)
  • Stand-alone Design, geringer Platzbedarf
  • Niedriger Stromverbrauch
 

LUMOS II bietet:

  • Benutzerfreundlichkeit durch software-unterstützte Messungen
  • Hochauflösende spektrale und visuelle Daten
  • Hohe IR-Empfindlichkeit ohne Flüssigstickstoff
  • Visuelle Auflösung im Submikrometerbereich
  • Ultraschnelles FPA-Imaging
  • FPA-Imaging ATR/Transmission/Reflexion
  • Einfacher Zugang zum Probentisch
  • Konformität mit cGMP und FDA 21 CFR p11
  • Automatisierte OQ/PQ/Pharmakopöe-Tests
  • Alle Features jederzeit nachrüstbar
 

Anwendungen

  • Fehleranalyse
  • Partikel- & Oberflächenanalyse
  • Industrielle Fertigung
  • Forensik
  • Life Science
  • Polymere & Kunststoffe
  • Umweltwissenschaften
  • Pharmazeutika

Das FT-IR Mikroskop für alle

Wir glauben, es höchste Zeit die fortschrittlichste Technik auch allen Nutzern zur Verfügung zu stellen - und zwar so einfach wie möglich. Der Grund ist klar: die Vorteile der FT-IR-Bildgebung und Mikroskopie sind einfach zu groß, um die Nutzung durch umständliche Hard- und Software einzuschränken.

Das LUMOS II macht FT-IR-Bildgebung einfacher, genauer, zuverlässiger und noch schneller. Die Grundlage dafür bilden verbesserte bewährte und neu entwickelte Technologien, doch im Zentrum stehen die beide innovativen TE-MCT und Focal-Plane Array (FPA) Detektoren. Kurz gesagt, diese Kombi ist einfach unschlagbar.

Wir haben das LUMOS II, seine Software und die Benutzeroberfläche auf häufige Nutzung ausgelegt. Anfänger erhalten perfekte Ergebnisse in kürzester Zeit, während Experten jederzeit volle Kontrolle über das Mikroskop behalten.

Hervorragendes μ-ATR ist bei uns Standard

Ob in Transmission, Reflexion oder Abgeschwächter Totalreflexion (ATR), das LUMOS II ist immer die richtige Wahl. Seine größte Stärke ist jedoch die ATR-Mikroskopie, gekrönt durch FPA-Technologie. Damit ist das LUMOS II ein universelles Werkzeug für die Fehleranalyse und Produktentwicklung.

Der ATR-Kristall ist nahtlos in das Mikroskop integriert und verfügt über einen präzisen Drucksensor. Piezoelektrische Motoren steuern den Kristall behutsam und exakt auf den ausgewählten Messpunkt.

Begnügen Sie sich nicht mit unzuverlässigem, manuellem ATR-Zubehör oder groben Drucksensoren die im Probentisch verbaut sind.

Der Standard in ATR-FT-IR Mikroskopie heißt LUMOS II.

Wir überzeugen mit Innovation

Höchste Präzision und Leistung für Ihre FT-IR-Mikroskopie.

Für uns ist das selbstverständlich. Wir wollen die beste Technik an unsere Kunden weitergeben, ob in der Routine oder der Forschung. Unser bewährtes RockSolidTM Interferometer garantiert konstant-hohe Leistung, während die fortschrittliche Elektronik mechanische Präzision und geringen Energieverbrauch sicherstellt. Zusätzlich überwacht die Software den Gerätestatus kontinuierlich und sorgt so für die korrekte Funktionalität bei jeder Messung. Garantiert.

Anwendungen

LUMOS II Aplikationsvideos

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.
PCB failure analysis by FT-IR microscopy.
Adhesive layer analysis o a food packaging film by FT-IR microscopy.
Anti-corrosive coating analysis on a metal surface by FPA imaging.
Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.
Particle root cause analysis performed by IR microscopy.
Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.
Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.
Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.
Diamong gemstone analysis by FT-IR microscopy.

Meinungen

Kundenmeinung: Mikroplastik

Das Team um Dr. Martin Löder und Prof. Christian Laforsch unterhält eines der führenden Mikroplastik-Analyselabore in Deutschland.

News & Events

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

Neue Funktion: Chemische Bilderzeugung durch Adaptive K-means Clustering

Die Adaptive K-means Clustering Funktion basiert auf einem neuen Algorithmus, der eine autonome Bestimmung der spektralen Varianz innerhalb Ihrer chemischen Bildgebungsergebnisse ermöglicht.

  • Eine zeitaufwändige Suche nach der Anzahl der enthaltenen chemischen Klassen ist nicht mehr notwendig, da der Algorithmus alle enthaltenen chemischen Klassen selbständig vorhersagen kann.
  • Diese Hauptfunktion ist wichtig für alle Arten der chemischen Bildgebung bzw. Verteilungsanalyse von Inhaltsstoffen bei unbekannten Proben oder kleinen Strukturen innerhalb größerer Datensätze.
  • Zusammen mit LUMOS II wird die Auswertung so einfach wie möglich gestaltet, was wertvolle Zeit spart.

Neue Funktion: "Cluster ID"-Funktion zur Identifizierung von Klassen in 3D-Spektraldaten

Unsere neue Cluster ID-Funktion ermöglicht die Identifizierung von Clustern in Bildgebungs- und Kartierungsdaten mittels folgenden OPUS-Funktionen: Spektrensuche in Bibliotheken, Schnellvergleich oder Identitätstest.

  • Einfache Bestimmung der chemischen Identität von klassifizierten Probenbestandteilen für Partikel, Schichten in Laminaten, pharmazeutischen Tabletten und anderen inhomogenen Materialien.
  • Generieren Sie zuverlässige und umfassende Statistikberichte über Menge, Größe und natürlich Identität aller analysierten Strukturen werden bereitgestellt und führen die Partikel- und technische Sauberkeitsanalyse auf ein neues, eigenständiges Niveau.

Aktualisierte Funktion: "Find Particles"-Funktion enthält verbesserte Methodik

Die bewährte Funktion "Find Particle" kann nun sowohl auf das visuelle als auch auf das IR-Bild angewendet werden. Mit dieser aktualisierten Funktion können Sie Partikel auf der Grundlage von chemischen Bildern, die mit dem LUMOS II gemessen wurden, erkennen.

  • Während die Partikelerkennung bei kontrastarmen Strukturen und nicht-weißen/transparenten Partikeln/Fasern auf nicht-weißen Filtermembranen mühsam sein kann, ermöglicht eine Partikelbestimmung nach dem Lauf auf der Grundlage des chemischen IR-Bildes die Bestimmung von Menge und Größe der Partikel anhand der Bildgebungs- oder Mapping-Ergebnisse.
  • Mit der Partikelsuchfunktion in Verbindung mit dem LUMOS II entgeht Ihnen kein Detail - weder im visuellen noch im IR-Bereich.
Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

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FT-IR Mikroskope Literaturraum

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