Microscópio FT-IR

LUMOS II

O LUMOS II é um microscópio FTIR autónomo que se destaca na análise de falhas, pesquisa de materiais e análise de partículas. É compacto, preciso e apresenta imagens químicas ultrarrápidas pela tecnologia FPA.

 

IV excepcional.

Visualização brilhante. Imagem ultrarrápida.

Destaques

Fácil e eficaz preciso

Uma potência em Microscopia e Imagem FT-IR

Introdução do LUMOS II | Apresentação do produto
O gestor de produto do LUMOS II apresenta o LUMOS II e as suas características.
A nossa afirmação

Microscopia infravermelha tal como deveria ser.

Mais espaço para preparação da amostra. Mais velocidade para imagens químicas. Mais perfomance em microscopia ATR, transmissão e reflexão. Isto é o que chamamos uma verdadeira revolução - sem discussão.

Características

Características

Características técnicas do LUMOS II:

  • Detector TE-MCT padrão
  • Plug & Play: sem azoto líquido, sem purga de ar seco
  • Detector de imagem FPA opcional 
  • Nova tecnologia de calibração PermaSure+
  • Hardware totalmente motorizado e automatizado
  • Acomoda amostras de até 40 mm de altura
  • Componente com dida útil longa, incluindo laser
  • Inerte à elevada humidade (óptica de ZnSe)
  • Design autónomo, dimensões compactas
  • Baixo consumo de energia
 

LUMOS II fornece:

  • Facilidade de utilização com medições guiadas por software
  • Dados espectrais e visuais de alta definição
  • Alta sensibilidade IV sem azoto líquido
  • Resolução visual na gama sub-micrómetro
  • Desempenho de imagem FPA ultrarrápido
  • Imagem FPA ATR/transmissão/reflexão
  • Fácil acesso à platina
  • Conformidade com cGMP e FDA 21 CFR p11
  • Testes automatizados de OQ/PQ/farmacopeia
  • Capacidade de upgrade a qualquer momento

 

Aplicações

  • Análise de falhas
  • Análise de partículas e superfícies
  • Produção industrial
  • Ciência forense
  • Ciências da vida
  • Polímeros e plásticos
  • Ciência ambiental
  • Farmacêutica
O que é o LUMOS II

O microscópio FTIR para todos, em qualquer lugar

Acreditamos que é tempo de tornar as técnicas avançadas acessíveis a qualquer utilizador, independentemente do seu nível de qualificação. As vantagens da imagem FT-IR e da microscopia são demasiado grandes para restringir o  acesso com software e hardware complicados.

Desde o início, o LUMOS II foi ffabricado para tornar a imagem FT-IR mais rápida, fácil, mais precisa e fiável – e ainda mais divertida. É claro que isso exigiu que incluíssemos tecnologia nova e melhorássemos em função da tecnologia comprovada.

É por isso que adaptamos o LUMOS II, o software e interface especificamente para o utilizador. Iniciantes obtêm resultados perfeitos em pouco tempo, enquanto especialistas mantêm o controlo total do instrumento.

EXCELENTE MICROSCOPIA FT-IR

Capacidades μ-ATR FT-IR superiores

Tudo se resume a isto: Melhor instrumento. Melhores resultados.

Seja transmissão, reflexão ou reflexão total atenuada (ATR), o LUMOS II é sempre a escolha certa. Mas o seu maior ponto forte é a microscopia ATR melhorada pela tecnologia FPA. Isto torna LUMOS II numa ferramenta universal para análise de falhas e desenvolvimento de produtos.

Para encurtar a história, as suas capacidades ATR são insuperáveis. Ponto final. Não se conforme com acessórios ATR manuais pouco fiáveis – obtenha o melhor. Obtenha o LUMOS.

O cristal retráctil é controlado por motores piezoelétricos de alta precisão e integrado na objectiva. Isto permite disfrutar de uma visão clara da amostra enquanto a sua medição ainda decorre, exactamente onde deseja.

Tecnologia comprovada

Inovação convincente

Resistência e potência para aplicações.

Para nós é natural passar a melhor tecnologia aos nossos clientes. É claro que isso também aplica-se ao LUMOS II.

O interferómetro RockSolidTM garante desempenho constante, enquanto a electrónica moderna garante precisão mecânica e baixo consumo de energia. Enquanto isso, o software monitoriza a eficácia do instrumento e assegura sempre o correcto funcionamento.

Aplicações

LUMOS II Vídeos de Aplicações

Coating defect analysis by ATR-FT-IR microscopy.
PCB failure analysis by FT-IR microscopy.
Adhesive layer analysis o a food packaging film by FT-IR microscopy.
Anti-corrosive coating analysis on a metal surface by FPA imaging.
Textile and fleece quality control by FT-IR microscopy.
Particle root cause analysis performed by IR microscopy.
Multi-layer film and laminate analysis by macro ATR imaging.
Coating thickness analysis of DLC layers by FT-IR microscopy.
Composite multi-layer polymers analyzed by ATR-FT-IR.
Diamong gemstone analysis by FT-IR microscopy.

Notícias e Eventos

OPUS Release 8.7  | LUMOS II | Q3 2021

Nova Característica:  Geração de imagens químicas de alto desempenho pela nova função de agrupamento K-means adaptável

Esta nova função é o próximo passo lógico no desenvolvimento da nossa conhecida função de análise de cluster. A função de agrupamento K-means adaptável é baseada num novo algoritmo, que permite uma determinação não supervisionada e autónoma da variação espectral dentro dos seus resultados de imagem ou mapeamento.

  • A previsão ou pesquisa demorada da quantidade de classes químicas incluídas não é mais necessária, pois o algoritmo pode prever todas as classes químicas incluídas por si só.
  • Esta função principal é importante para todos os tipos de imagens químicas e análise de distribuição de amostras desconhecidas ou pequenas estruturas dentro de conjuntos de dados maiores.
  • Juntamente com o LUMOS II, a análise e avaliação é tão fácil quanto possível e poupa o seu valioso tempo e nervos.

Nova Característica: Função “Cluster ID” para identificação de classes em dados espectrais 3D

A nossa nova função "Cluster ID" permite a identificação de clusters em dados de imagem e mapeamento usando as funções OPUS: pesquisa de espectro em bibliotecas, comparação rápida ou teste de identidade.

  • Fácil determinação da identidade química de componentes de amostras classificadas para partículas, camadas em laminados, componentes de comprimidos farmacêuticos e outros materiais não homogéneos.
  • Relatórios estatísticos fiáveis e abrangentes sobre quantidade, tamanho e, claro, identidade de todas as estruturas analisadas são fornecidos e levam a análise de partículas e a um novo nível autónomo.

Característica Actualizada: a função "Encontrar partículas" agora contém um novo método de detecção de partículas

O comprovado software "Find Particle" agora pode ser aplicado a ambos: a imagem visual e a IR. Com esta característica actualizada, pode fazer-se a detecção de partículas com base em imagens químicas que foram medidas pelo LUMOS II.

  • Embora o reconhecimento de partículas para estruturas de baixo contraste e partículas/fibras esbranquiçadas/transparentes em membranas de filtro esbranquiçadas possa ser tedioso, uma determinação de partículas pós-execução com base na imagem química IR permite determinar a quantidade e o tamanho das partículas a partir dos seus resultados de imagem ou mapeamento.
  • Com a função Find Particle junto com o LUMOS II, nunca se perderá nenhum detalhe – nem na gama visual nem na gama de IR.

 

Fully automatically created chemical images by the new adaptive k-means clustering function.
Automatically recognized particles on an aluminum oxide filter. Particles are immediately classified by size and identity with the new "Cluster ID".

Mais informações

Sala de Literatura de Microscópios FT-IR

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