MultiMode 8-HR Banner

Weiterführende Literatur

Broschüren und Datenblätter

MultiMode 8-HR - Broschüre 2,0 MB
Der Erfolg des MultiMode-Systems liegt in der Kombination aus hoher Auflösung und Leistung sowie unvergleichlicher Vielseitigkeit und Produktivität. Dank dieser Innovationen liefert das neue MultiMode 8-HR in Verbindung mit schnellerem PeakForce Tapping, verbessertem PeakForce QNM, neuem FastForce Volume und der exklusiven Messkopftechnolgie von Bruker merklich schnellere Bildgebung sowie höhere Auflösung und Leistungsfähigkeit.

• PeakForce Tapping - Broschüre 2,7 MB
Der exklusive Abtastmodus PeakForce Tapping von Bruker ist seit der Einführung des TappingMode der wichtigste wissenschaftliche Durchbruch in der Rasterkraftmikroskopie. Er liefert bisher unerreichte hochauflösende Bilderfassung, erweitert die Palette der zu untersuchenden Proben und erlaubt erstmalig die gleichzeitige Eigenschaftszuordnung im Nano-Bereich.

 

Umgebungsüberwachung 1‑ppm‑gebrauchsfertige Lösungen - Datenblatt 1,3 MB
Die Umgebungsüberwachungspakete für Rasterkraftmikroskope von Bruker ermöglichen die Forschung in vielen neuen Bereichen.

• Elektrochemische Rastersondenmikroskopie - Datenblatt 1.9MB
Das elektrochemische Rasterpotentiometer (SECPM) von Bruker ermöglicht in Verbindung mit MultiMode-Systemen die in-situ-Bildgebung oder die Potenzialmessung der Elektrodenoberfläche mit einer nanoskaligen Auflösung. Damit können neue Erkenntnisse über elektrochemische Grundlagen für die Elektroplattierung, Korrosion, Batterieforschung und -entwicklung sowie vielen weiteren Anwendungsbereichen gewonnen werden.

• Elektrochemische Rasterpotentiometrie 1,4 MB
Das elektrochemische Rasterpotentiometer (SECPM) von Bruker ermöglicht in Verbindung mit MultiMode-Systemen die in-situ-Bildgebung oder die Potenzialmessung der Elektrodenoberfläche mit einer nanoskaligen Auflösung. Damit können neue Erkenntnisse über elektrochemische Grundlagen für die Elektroplattierung, Korrosion, Batterieforschung und -entwicklung sowie vielen weiteren Anwendungsbereichen gewonnen werden.

• Weltweiter Service und Support - Broschüre 2,7 MB
Unser hochqualifiziertes Support-Team aus Ingenieuren, praxiserfahrenen Wissenschaftlern und fachspezifischen Experten unterstützt Sie mit Systemservice und Upgrades sowie anwendungstechnischem Support und Fortbildungsmaßnahmen in verschiedenen Disziplinen bei der Optimierung Ihrer Produktivität.

 

 

Anwendungshinweise

Abbildung der DNA-Doppelhelix mit dem PeakForce Tapping-Modus für Rasterkraftmikroskope – Anwendungshinweis 142 2,0 MB
Durch die kürzlich in der Rasterkraftmikroskopie erzielten Fortschritte ist die Erforschung von DNA-Strukturen zugänglicher geworden. Besonders das exklusive PeakForce Tapping-Verfahren von Bruker ermöglicht die systematische hochauflösende Bildgebung der DNA-Doppelhelix bei quantifizierbaren Bildgebungskräften, ohne dass Spezialmessköpfe oder bestimmte Ausführungen von Rasterkraftmikroskopen notwendig wären.

PeakForce-Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie – Anwendungshinweis 140 3,5 MB
Kelvinsonden-Rasterkraftmikroskopie (KPFM), auch Oberflächenpotentiometrie genannt, wird in vielen Bereichen angewandt, bspw. bei Korrosionsstudien von Legierungen, Untersuchungen photovoltaischer Effekte auf Solarzellen und der Oberflächenanalytik. Das Raster-Kelvin-Mikroskop und das leitfähige Rasterkraftmikroskop sind kombiniert die beiden meistgenutzten Geräte zur Charakterisierung elektrischer Eigenschaften im Nano-Bereich.

 Simultane Zuordnung elektrischer und mechanischer Eigenschaften im Nano-Bereich anhand von PeakForce TUNA – Anwendungshinweis 132 6,7 MB
In diesem Anwendungshinweis werden die Grundlagen von PeakForce TUNA (Tunnel-Rasterkraftmikroskopie) erklärt und mit dem handelsüblichen, auf dem Kontakt-Modus basierenden Tunnel-Rasterkraftmikroskop verglichen. Dabei werden die besonderen Funktionen und unterschiedlichen Anwendungsbereiche, die aus der Kombination von PeakForce Tapping und Leitfähigkeitsmessung hervorgehen, aufgezeigt.

Quantitative Zuordnung mechanischer Eigenschaften Mapping im Nano-Bereich anhand von PeakForce QNM - Anwendungshinweis 128 1,3 MB
Das Rastersondenmikroskop (SPM) gilt schon seit Langem als nützliches Instrument zur Messung mechanischer Materialeigenschaften. Bis vor Kurzem war es jedoch noch unmöglich, die Materialeigenschaften ausführlich und mit der nötigen Auflösung und Benutzerfreundlichkeit zu messen. Einige Neuerungen in Rastersondenmikroskop-Modi schaffen nun Abhilfe. Seit der Einführung von PeakForce QNM können Materialschwankungen anhand topografischer Darstellungen mit hoher Auflösung eindeutig identifiziert werden. In diesem Anwendungshinweis werden die Grundlagen und Vorteile der Bildgebung mit PeakForce QNM erläutert. Studenten der Boise State University führen einzigartiges DNA-Projekt durch – Fallstudie 502 2,0 MB
In einem Projekt zur nanoskaligen Manipulation und Steuerung von Substanzen haben Forscher an der Boise State University unter anderem ein nanoskaliges Logo aus DNA hergestellt. Das MultiMode 8 und Dimension FastScan von Bruker waren mit von der Partie.