Micro-XRF on SEM

QUANTAX Micro-XRF

Spurenelementanalyse am REM

XTrace Mounted on a SEM

QUANTAX Micro-XRF mit der Mikroröntgen-quelle XTrace erweitert das Rasterelektronen-mikroskop um die Analysefähigkeiten eines kompletten Mikro-RFA Spektrometers. XTrace kann an einen freien, geneigten Flansch fast jeden REM-Typs angeschlossen werden. So kann der Nutzer von der hohen Empfindlichkeit sowie von der besseren Informationstiefe der RFA profitieren.

Das benutzerfreundliche RFA-System für das REM

  • Bei der Verteilungsanalyse mit HyperMap wird ein komplettes Spektrum für jeden Messpunkt gespeichert. Dies ermöglicht die online- und offline-Analyse der Daten.
  • Die Analyse mit Mikro-RFA und EDS ist ohne Positionswechsel der Probe möglich
  • Beide Methoden sind in der gleichen Bedienoberfläche - ESPRIT 2.0 - integriert
  • Keine Störung des normalen REM-Betriebs, XTrace kann fast immer in seiner Messposition bleiben.

    Ein komplettes Mikro-RFA Spektrometer ohne die Investitionskosten

    • Analytische Ergebnisse vergleichbar mit denen von Standalone-Systemen
    • Mit der Tiling-Funktion sind großflächige Maps möglich
    • Verschiedene Filter für Primärstrahlung, um Beugungspeaks zu vermeiden
    • Benutzt den motorisierten REM-Tisch
    • Ermöglicht Probenkippung, um minimale Messpunktgrößen zu gewährleisten.