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Espectroscopia infrarroja a nanoescala

Comparación de AFM-IR y s-SNOM

AFM-IR y s-SNOM son técnicas complementarias con diferentes fortalezas. Con el nanoIR3-s, puede elegir una configuración que tenga una técnica o ambas, dependiendo de su muestra y medición.

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AFM-IR y s-SNOM son técnicas complementarias con diferentes fortalezas. Con el nanoIR3-s,puede elegir una configuración que tenga una técnica o ambas, dependiendo de sus necesidades de muestra y medición. AFM-IR detecta directamente la luz absorbida por la muestra utilizando la punta de la sonda AFM para detectar la expansión térmica. Esta expansión térmica depende principalmente del coeficiente de absorción de la muestra, ks, y es en gran parte independiente de otras propiedades ópticas de la punta y la muestra. Por lo tanto, la técnica AFM-IR se prefiere para mediciones en las que se desea un espectro de absorción preciso. AFM-IR sobresale por estudios de materia blanda debido a la alta expansión térmica de estos materiales.

s-SNOM detecta la luz dispersa por regiones de escala de nanómetros directamente debajo de la punta de la sonda AFM. El campo disperso depende de las complejas constantes ópticas tanto de la punta como de la muestra y contiene información rica sobre fenómenos nanoó ópticos. Las muestras de referencia (por ejemplo, oro o silicio) son necesarias para separar las contribuciones de respuesta de la muestra de la fuente y la punta. Es posible que se necesite compatibilidad con el modelado para interpretar los resultados. s-SNOM es una técnica convincente para el contraste a nanoescala de imagen en propiedades ópticas, con diversas aplicaciones en materiales avanzados, dispositivos e interacciones fundamentales de luz/materia. s-SNOM funciona mejor para materiales duros que interactúan fuertemente con la luz.