D8 DISCOVER
Top performance en DRX
Le D8 DISCOVER est le fleuron des diffractomètres de rayons X polyvalents offrant des composants technologiques de pointe. Il est conçu pour la caractérisation structurale de la gamme complète des matériaux, des poudres aux matériaux amorphes et polycristallins en passant par les couches minces épitaxiées, dans des conditions ambiantes et non ambiantes.
Applications :
- Identification et quantification de phase, détermination et affinement de structure, analyse de la taille des cristallites et des micro-contraintes.
- Réflectométrie des rayons X (XRR), Diffraction en incidence rasante (GID), diffraction dans le plan (IPGID), DRX haute résolution (HRXRD), diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS), contrainte résiduelle en incidence rasante, orientation crystalline.
- Analyse de la contrainte résiduelle, texture et figures de pôle, micro-diffraction, diffusion des rayons X aux grands angles (WAXS),
- Analyse de diffusion totale : Diffraction de Bragg, fonction de distribution de paires (PDF), diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Galerie des marchés
Criblage dans l’industrie pharmaceutique
Produits pharmaceutiques
Caractéristiques clés
Source à microfoyer IμS
La source à microfoyer IμS équipée de l’optique MONTEL fournit un petit faisceau de rayons X de haute intensité qui convient parfaitement à l’étude de petites zones d’échantillons.
- Faisceau de taille millimétrique avec une brillance élevée et un bruit de fond ultra-bas
- Conception écologique avec une faible consommation d’énergie, pas de consommation d’eau et des composants à durée de vie prolongée
- Optique MONTEL pour optimiser la forme et la divergence du faisceau
- Compatibilité totale avec notre grand choix de composants, d’optiques et de détecteurs.
Les platines échantillon UMC
Le D8 DISCOVER offre une multitude de platines UMC ayant une capacite de charge et de cartographie inégalée :
- Cartographie des échantillons d’un poids allant jusqu’à 5 kg
- Cartographie de grande surface d´échantillons jusqu’à 300 mm de taille.
- Les platines UMC pour le criblage à haut débit (HTS) avec une prise en charge allant jusqu’à trois plaques multi-puits.
En raison de la haute modularité, les platines UMC peuvent être personnalisées pour répondre aux exigences des clients qui vont au-delà des configurations standard.
Détecteurs Multimode EIGER2 R
Les EIGER2 R 250K et 500K sont les détecteurs 2D qui apportent les performances du synchrotron à la diffraction des rayons X en laboratoire
- Conception avancée de capteur, incluant la 2ème génération du révolutionnaire EIGER : jusqu'à 500.000 pixels de 75 x 75 µm² permettent une couverture macroscopique avec une résolution microscopique.
- Sa conception ergonomique permet d’adapter sans effort la position et l’orientation du détecteur aux exigences de l’application. Cela inclut un passage sans outil entre les orientations 0°et 90°, et une positionnement libre du détecteur sur le bras seconndaire avec une calibration automatique.
- Optiques et accessoires panoramiques pour un champ de détection dégagé.
- Mode de fonctionnement 0D, 1D et 2D avec mode de mesure instantané (snap-shot), pas-à-pas (step), continu ou avancé.
- Intégration complète et transparente dans le DIFFRAC.SUITE.
Les optiques TRIO et PATHFINDER PLUS
L’optique brevetée TRIO permet de basculer automatiquement entre trois chemins optiques :
- Géométrie Bragg-Brentano (faisceau divergent) pour les poudres
- Faisceau parallèle de haute intensité Kα1,2 pour les mesures en transmission, l´incidence rasante et la réflectométrie
- Faisceau parallèle de haute résolution Kα1 pour les films minces épitaxiés
L’optique PATHFINDERPlus comprend un absorbeur automatiqueé pour assurer la linéarité des intensités mesurées et permet de passer :
- D´une fente motorisée pour des mesures haut flux
- À un cristal analyseur pour des mesures haute résolution
Équipé du TRIO et du PATHFINDERPlus, le D8 DISCOVER maîtrise tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les films minces (amorphe, polycristalline et épitaxie) dans des conditions ambiantes, ou non ambiantes sans aucun besoin de reconfiguration.
Optique TRIO
Goniomètre D8
Anode tournante TXS (Turbo X-ray Source)
Microsource IμS avec optique MONTEL
La classe Premium de la DRX
Analyse des couches minces
La diffraction des rayons X (XRD) et la réflectivité jouent un rôle prépondérant dans la caractérisation non destructive des échantillons de couches minces structurées. Le D8 DISCOVER et le logiciel DIFFRAC.SUITE permettent l'exécution simple des méthodes DRX classiques pour l'analyse des couches minces :
- Diffraction en incidence rasante (GID) pour l'identification sensible à la surface des phases cristallines et la détermination de leurs propriétés structurales, y compris la taille des cristallites et les micro-contraintes.
- Réflectométrie des rayons X (XRR) pour l'extraction des épaisseurs, la densité des matériaux et la structure interfaciale dans des échantillons multicouches - des substrats simples aux structures de super-réseau très complexes.
- Diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD) pour l'analyse structurales d'échantillons épitaxiées : épaisseur de couche, déformation, relaxation, mosaïcité, analyse de composition de cristaux mixtes.
- Analyse des contraintes et de la texture (orientation préférentielle)
Recherche sur les matériaux
La DRX est l’un des outils les plus importants de la recherche sur les matériaux car il permet de relier les propriétés structurales aux propriétés physiques des matériaux. Le D8 DISCOVER est le fleuron de la DRX pour la recherche sur les matériaux. Équipé de composants technologiques de pointe, le D8 DISCOVER offre les meilleures performances et une flexibilité totale, et permet aux chercheurs de caractériser en détail leurs matériaux :
- Identification de phase et détermination de la structure
- Analyse des micro-contraintes et des tailles des cristallites
- Analyse des contraintes résiduelles et de la texture
- Détermination de la taille des particules et leur distribution.
- Analyse DRX locale à l’aide de faisceaux de rayons X micrométriques
- Cartographie du réseau réciproque
Criblage et cartographie de grandes surfaces
Le D8 DISCOVER est la solution ultime lorsqu’il s’agit de criblage à haut débit (HTS) et de cartographie de grandes surfaces sur des échantillons. Les platines échantillon UMC offrent une gamme de mouvements qui place le D8 DISCOVER dans une classe à part en termes de translation motorisée et de capacité de charge :
- Criblage à haut débit (HTS) de plaque multi puits et de dépôts en réflexion et en transmission
- Cartographie des échantillons d’une taille allant jusqu’à 300 mm
- Montage et cartographie d’échantillons avec des poids allant jusqu’à 5 kg
- Interface d’automatisation
Galerie des applications
Analyse de la contrainte résiduelle
μDRX avec détecteur 2D
Identification des phases
Criblage à haut débit (HTS)
DRX non-ambiant
Diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)
Diffusion de RX aux grands angles (WAXS)
Analyse de la texture
Réflectométrie des rayons X (XRR)
Diffraction des RX haute résolution (HRXRD)
Wafer et Cartographie
Cartographie du réseau réciproque (RSM)
Spécifications du D8 DISCOVER
| Spécifications | Avantages | |
| TWIST-TUBE | Commutation facile, rapide entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel Anodes disponibles: Cr, Co, Cu, Mo Puissance max et filament : jusqu’à 3 kW selon l´anode (0,4 x 16 mm²) Brevet: EP 1 923 900 B1 |
Changement rapide de la longueur d’onde pour s´adapter aux différentes applications Passage rapide du foyer ponctuel au foyer linéaire pour un plus large éventail d’applications et de meilleurs résultats un temps plus court |
| Microsource IμS | Puissance : jusqu’à 50 W, en monophasé Optiques MONTEL et MONTEL Plus combinant miroirs parallèles et focalisants. Taille minimale du faisceau complet de 180 x 180 μm². Flux intégré maximum de 8 x 10⁸ cps en sortie de miroir. Divergence minimale du faisceau de 0,5 mrad |
Faisceau de taille millimétrique avec une brillance élevée et un fond ultra-bas Conception verte avec une faible consommation d’énergie, pas de consommation d’eau et des composants à longue durée de vie Optimiser la forme et la divergence du faisceau pour de meilleurs résultats |
| Anode tournante (TXS) | Taille du filament, 0,3x3 mm² Luminosité focale de 6 kW/mm² Matériaux d´anode: Cu, Co, Cr, Mo Tension maximale 50 kV, puissance max. selon le matériau d´anode: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW Filament de tungstène pré-aligné |
Jusqu’à 5 fois plus d’intensité par rapport aux tubes RX standards en céramique. Parfaitement adapté pour les applications en foyer ponctuel et foyer linéaire. Le filament pré-aligné permet un changement rapide du filament avec un minimum de réalignement. |
| Optique TRIO |
Sélection en un clic dans le logiciel entre : Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano) Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité Faisceau parallèle Ka1 haute résolution Brevets : US10429326, US6665372, US7983389 |
Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées) |
| Monochromateurs haute résolution | Réflexions Ge(220) et Ge(004) en géométrie symétrique et asymétrique Monochromateurs 2-bounce et 4-bounce (type Bartels) Montage sans alignement grâce à la technologie SNAP.LOCK |
Large choix selon les besoins résolution vs. (intensité) pour obtenir les meilleurs résultats possibles. Échange rapides de monochromateurs pour une optimisation selon l´échantillon |
| Goniomètre D8 |
Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques | Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker Mécanisme d’entraînement sans entretien / engrenages avec lubrification à vie |
| Platines UMC | Famille de platines échantillon x,y pour une translation d’échantillon jusqu’à +/- 150 mm Monteur Z avec une cours allant jusqu’à 50 mm Monteur Phi avec rotation infinie Inclinaison max. Psi jusqu’à 55° Poids max. (au centre) : 50 kg |
Capacité inégalée en termes de poids et de taille d’échantillon Permet l´implémentation de grandes chambres échantillon customisées |
| Berceau d´ Euler centrique (CEC) | Platine échantillon à 5 degrés de liberté: x,y pour une translation échantillon de +/-40 mm Mouvement Z pour l’ajustement de la hauteur Moneur Phi avec rotation à 360° Inclinaison Psi entre -11° et 98° Charge maximale: 1 kg Accessoires divers disponibles |
Mesures de contrainte et de texture en mode inclinaison pour des résultats plus précis. Capacité de cartographie automatisée en (x,y). Tilt-stage motorisée pour un alignement précis de la surface. Accessoires pour la mesure de poudre en géométries Bragg-Brentano et Debye-Scherrer. Platine baïonette pour un échange rapide et reproductible avec d’autres platines. |
| EIGER2 R 500K |
Le détecteur multimode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie « hybrid photon counting », développé par Dectris Ltd. | Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outils) dans le faisceau diffracté Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution |
| Non ambiant | Température : Allant de ~12K jusqu’à ~2500K Pression : 10-4 mbar jusqu’à 10 bars Humidité : 5% à 95% RH |
Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI |
Composants pour la DRX
Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.
La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.
Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.
Webinaires
Documents sur le D8 DISCOVER
Brochures, dépliants et rapports de laboratoire
Notes et rapports d´application et fiches produits
- Rapid XRD Analysis of Pharmaceuticals: Snapshot 1D and 2D Mode with the EIGER2 R 500K (EN)
- Large-Area RSM with the EIGER2 R 500K: Analysis of InxGa1-xN LED, GaAs and Si1-xGex epitaxial films (EN)
- μXRD in Geology with EIGER2 R 500K: In-Situ Study of Lazulite from Graves Mountain, Georgia, USA (EN)
- Residual Stress with EIGER2 R 500K: 0D, 1D, and 2D investigation of a polycrystalline tungsten coating on silicon (EN)
- Texture Analysis with EIGER2 R 500K and DIFFRAC.TEXTURE: Investigation of Rolled and Drawn Aluminum Sheets (EN)
- D8 DISCOVER with IμS, μXRD Phase mapping (EN)
- D8 DISCOVER with IμS Microfocus Source, In-Plane Grazing Incidence Diffraction (IP-GID) (EN)
- D8 DISCOVER with IμS High Brilliance Microfocus Source, X-Ray Reflectometry (EN)
- D8 DISCOVER with IμS High Brilliance Microfocus Source, Powder Diffraction (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, 2D RSM of Thin Films (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, 2D GI-SAXS (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, micro XRD2 of Quartz Monzonite (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, XRD2 of Polymers (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, Texture Analysis with XRD2 (EN)
- D8 DISCOVER with PILATUS3 R 100K-A, Residual Stress Analysis with XRD2 (EN)
- Universal Motion Concept and Eulerian Cradles for Controlled Sample Positioning (EN)
- EIGER2 R for the D8 Family (EN)
Service & Support
- Service d´assistance pour les problèmes techniques liés aux matériels, logiciels et applications à l'aide d'outils de service à distance avancés et basés sur le Web.
- Contrats des maintenance LabScape
- Assistance sur site, à la demande
- Qualification d'installation et de fonctionnement ainsi que vérification des performances
- Planification, relocalisation et consultation du site
- Remplacement de pièces de rechange, de consommables et formation en personne et en ligne
- Mises à jour logicielles, manuels et gestion de LabScape MSA (brukersupport.com)