DIFFRACTION des rayons X (DRX)

D8 DISCOVER

La solution DRX la plus polyvalente et la plus flexible pour répondre parfaitement aux exigences de la recherche, du développement et du contrôle qualité dans l’industrie et le milieu universitaire.

Top performance en DRX

HerostageD8DISCOVER

Faits marquants

Photons / mm²
Sources de rayons X à haute brillance
Sources de rayons X avec une brillance exceptionnelle, telles que la microsource IμS et l´anode tournante haute brilliance HB-TXS.
300 mm
Taille maximale de l’échantillon
L’enceinte spacieuse permet d´accueillir de grands échantillons d’un diamètre allant jusqu’à 300 mm.
50 kg
Poids maximal de l’échantillon
Nos platines échantillons UMC (Universal Motion Concept) uniques permettent une capacité maximale d’échantillonnage.

Le D8 DISCOVER est le fleuron des diffractomètres de rayons X polyvalents offrant des composants technologiques de pointe. Il est conçu pour la caractérisation structurale de la gamme complète des matériaux, des poudres aux matériaux amorphes et polycristallins en passant par les couches minces épitaxiées, dans des conditions ambiantes et non ambiantes.

Applications :

  • Identification et quantification de phase, détermination et affinement de structure, analyse de la taille des cristallites et des micro-contraintes.
  • Réflectométrie des rayons X (XRR), Diffraction en incidence rasante (GID), diffraction dans le plan (IPGID), DRX haute résolution (HRXRD), diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS), contrainte résiduelle en incidence rasante, orientation crystalline.
  • Analyse de la contrainte résiduelle, texture et figures de pôle, micro-diffraction, diffusion des rayons X aux grands angles (WAXS),
  • Analyse de diffusion totale : Diffraction de Bragg, fonction de distribution de paires (PDF), diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)

Caractéristiques

Caractéristiques clés

Les fonctionnalités du D8 DISCOVER

Source à microfoyer IμS

La source à microfoyer IμS équipée de l’optique MONTEL fournit un petit faisceau de rayons X de haute intensité qui convient parfaitement à l’étude de petites zones d’échantillons.

  • Faisceau de taille millimétrique avec une brillance élevée et un bruit de fond ultra-bas
  • Conception écologique avec une faible consommation d’énergie, pas de consommation d’eau et des composants à durée de vie prolongée
  • Optique MONTEL pour optimiser la forme et la divergence du faisceau
  • Compatibilité totale avec notre grand choix de composants, d’optiques et de détecteurs.

Les fonctionnalités du D8 DISCOVER

Les platines échantillon UMC

Le D8 DISCOVER offre une multitude de platines UMC ayant une capacite de charge et de cartographie inégalée :

  • Cartographie des échantillons d’un poids allant jusqu’à 5 kg
  • Cartographie de grande surface d´échantillons jusqu’à 300 mm de taille.
  • Les platines UMC pour le criblage à haut débit (HTS) avec une prise en charge allant jusqu’à trois plaques multi-puits.

En raison de la haute modularité, les platines UMC peuvent être personnalisées pour répondre aux exigences des clients qui vont au-delà des configurations standard.

Les fonctionnalités du D8 DISCOVER

Détecteur Multimode EIGER2 R 500K

L’EIGER2 R 500K est le détecteur 2D qui apporte les performances de diffraction des rayons X digne d´un synchrotron au laboratoire

  • Conception avancée de capteur, incluant la 2ème génération du révolutionnaire EIGER : 500.000 pixels de 75 x 75 µm² permettent une couverture macroscopique avec une résolution microscopique.
  • Sa conception ergonomique permet d’adapter sans effort la position et l’orientation du détecteur aux exigences de l’application. Cela inclut un passage sans outil entre les orientations 0°et 90°, et une positionnement libre du détecteur sur le bras seconndaire avec une calibration automatique.
  • Optiques et accessoires panoramiques pour un champ de détection dégagé.
  • Mode de fonctionnement 0D, 1D et 2D avec mode de mesure instantané (snap-shot), pas-à-pas (step), continu ou avancé.
  • Intégration complète et transparente dans le DIFFRAC.SUITE.
Les fonctionnalités du D8 DISCOVER

Les optiques TRIO et PATHFINDER PLUS

L’optique brevetée TRIO permet de basculer automatiquement entre trois chemins optiques :

  • Géométrie Bragg-Brentano (faisceau divergent) pour les poudres
  • Faisceau parallèle de haute intensité Kα1,2 pour les mesures en transmission, l´incidence rasante et la réflectométrie
  • Faisceau parallèle de haute résolution Kα1 pour les films minces épitaxiés

L’optique PATHFINDERPlus comprend un absorbeur automatiqueé pour assurer la linéarité des intensités mesurées et permet de passer :

  • D´une fente motorisée pour des mesures haut flux
  • À un cristal analyseur pour des mesures haute résolution

Équipé du TRIO et du PATHFINDERPlus, le D8 DISCOVER maîtrise tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les films minces (amorphe, polycristalline et épitaxie) dans des conditions ambiantes, ou non ambiantes sans aucun besoin de reconfiguration.

Applications

La classe Premium de la DRX

Les applications du D8 DISCOVER

Analyse des couches minces

La diffraction des rayons X (XRD) et la réflectivité jouent un rôle prépondérant dans la caractérisation non destructive des échantillons de couches minces structurées. Le D8 DISCOVER et le logiciel DIFFRAC.SUITE permettent l'exécution simple des méthodes DRX classiques pour l'analyse des couches minces :

  • Diffraction en incidence rasante (GID) pour l'identification sensible à la surface des phases cristallines et la détermination de leurs propriétés structurales, y compris la taille des cristallites et les micro-contraintes.
  • Réflectométrie des rayons X (XRR) pour l'extraction des épaisseurs, la densité des matériaux et la structure interfaciale dans des échantillons multicouches - des substrats simples aux structures de super-réseau très complexes.
  • Diffraction des rayons X haute résolution (HRXRD) pour l'analyse structurales d'échantillons épitaxiées : épaisseur de couche, déformation, relaxation, mosaïcité, analyse de composition de cristaux mixtes.
  • Analyse des contraintes et de la texture (orientation préférentielle)
Les applications du D8 DISCOVER

Recherche sur les matériaux

La DRX est l’un des outils les plus importants de la recherche sur les matériaux car il permet de relier les propriétés structurales aux propriétés physiques des matériaux. Le D8 DISCOVER est le fleuron de la DRX pour la recherche sur les matériaux. Équipé de composants technologiques de pointe, le D8 DISCOVER offre les meilleures performances et une flexibilité totale, et permet aux chercheurs de caractériser en détail leurs matériaux :

  • Identification de phase et détermination de la structure
  • Analyse des micro-contraintes et des tailles des cristallites
  • Analyse des contraintes résiduelles et de la texture
  • Détermination de la taille des particules et leur distribution.
  • Analyse DRX locale à l’aide de faisceaux de rayons X micrométriques
  • Cartographie du réseau réciproque
Les applications du D8 DISCOVER

Criblage et cartographie de grandes surfaces

Le D8 DISCOVER est la solution ultime lorsqu’il s’agit de criblage à haut débit (HTS) et de cartographie de grandes surfaces sur des échantillons. Les platines échantillon UMC offrent une gamme de mouvements qui place le D8 DISCOVER dans une classe à part en termes de translation motorisée et de capacité de charge :

  • Criblage à haut débit (HTS) de plaque multi puits et de dépôts en réflexion et en transmission
  • Cartographie des échantillons d’une taille allant jusqu’à 300 mm
  • Montage et cartographie d’échantillons avec des poids allant jusqu’à 5 kg
  • Interface d’automatisation

Spécifications

Spécifications du D8 DISCOVER

  Spécifications Avantages
TWIST-TUBE

Commutation facile, rapide entre le foyer linéaire et le foyer ponctuel

Anodes disponibles: Cr, Co, Cu, Mo

Puissance max et filament : jusqu’à 3 kW selon l´anode (0,4 x 16 mm²)

Brevet: EP 1 923 900 B1

Changement rapide de la longueur d’onde pour s´adapter aux différentes applications

Passage rapide du foyer ponctuel au foyer linéaire pour un plus large éventail d’applications et de meilleurs résultats un temps plus court

Microsource IμS

Puissance : jusqu’à 50 W, en monophasé

Optiques MONTEL et MONTEL Plus combinant miroirs parallèles et focalisants.

Taille minimale du faisceau complet de 180 x 180 μm².

Flux intégré maximum de 8 x 10⁸ cps en sortie de miroir.

Divergence minimale du faisceau de 0,5 mrad

Faisceau de taille millimétrique avec une brillance élevée et un fond ultra-bas

Conception verte avec une faible consommation d’énergie, pas de consommation d’eau et des composants à longue durée de vie

Optimiser la forme et la divergence du faisceau pour de meilleurs résultats

Anode tournante (TXS)

Taille du filament, 0,3x3 mm²

Luminosité focale de 6 kW/mm²

Matériaux d´anode: Cu, Co, Cr, Mo

Tension maximale 50 kV, puissance max. selon le matériau d´anode: Cr 3.2 kW, Cu/Mo 5.4 kW, Co 2,8 kW

Filament de tungstène pré-aligné

Jusqu’à 5 fois plus d’intensité par rapport aux tubes RX standards en céramique.

Parfaitement adapté pour les applications en foyer ponctuel et foyer linéaire.

Le filament pré-aligné permet un changement rapide du filament avec un minimum de réalignement.

Optique TRIO

Sélection en un clic dans le logiciel entre :

Fente de divergence motorisée (Bragg-Brentano)

Faisceau parallèle Ka1,2 haute intensité

Faisceau parallèle Ka1 haute résolution

Brevets : US10429326, US6665372, US7983389

Commutation entièrement automatique et motorisée entre jusqu’à 6 géométries de faisceau différents sans aucune intervention manuelle de l’utilisateur

Parfaitement adapté à tous les types d’échantillons, y compris les poudres, les massifs, les fibres, les revêtements et les couches minces (amorphes, polycristallines et épitaxiées)
Monochromateurs haute résolution

Réflexions Ge(220) et Ge(004) en géométrie symétrique et asymétrique

Monochromateurs 2-bounce et 4-bounce (type Bartels)

Montage sans alignement grâce à la technologie SNAP.LOCK

Large choix selon les besoins résolution vs. (intensité) pour obtenir les meilleurs résultats possibles.

Échange rapides de monochromateurs pour une optimisation selon l´échantillon

Goniomètre D8
Goniomètre à deux cercles avec moteurs pas à pas indépendants et encodeurs optiques

Une précision et une justesse inégalées, comme stipulées dans la garantie l’alignement unique de Bruker

Mécanisme d’entraînement sans entretien / engrenages avec lubrification à vie

Platines UMC

Famille de platines échantillon

x,y pour une translation d’échantillon jusqu’à +/- 150 mm

Monteur Z avec une cours allant jusqu’à 50 mm

Monteur Phi avec rotation infinie

Inclinaison max. Psi jusqu’à 55°

Poids max. (au centre) : 50 kg

Capacité inégalée en termes de poids et de taille d’échantillon

Permet l´implémentation de grandes chambres échantillon customisées

Berceau d´ Euler centrique (CEC)

Platine échantillon à 5 degrés de liberté:

x,y pour une translation  échantillon de +/-40 mm

Mouvement Z pour l’ajustement de la hauteur

Moneur Phi avec rotation à 360°

Inclinaison Psi entre -11° et 98°

Charge maximale: 1 kg

Accessoires divers disponibles

Mesures de contrainte et de texture en mode inclinaison pour des résultats plus précis.

Capacité de cartographie automatisée en (x,y).

Tilt-stage motorisée pour un alignement précis de la surface.

Accessoires pour la mesure de poudre en géométries Bragg-Brentano et Debye-Scherrer.

Platine baïonette pour un échange rapide et reproductible avec d’autres platines.

EIGER2 R 500K
Le détecteur multimode (0D/1D/2D) de dernière génération basé sur la technologie « hybrid photon counting », développé par Dectris Ltd. Rotation ergonomique du détecteur sans alignement pour optimiser la couverture angulaire γ ou 2Θ

Optiques panoramiques utilisant la totalité de la zone active du détecteur à monter (sans outils) dans le faisceau diffracté

Positionnement variable et continu du détecteur sur le bras secondaire pour varier entre couverture angulaire et résolution
Non ambiant Température : Allant de ~12K jusqu’à ~2500K

Pression : 10-4 mbar jusqu’à 10 bars

Humidité : 5% à 95% RH
Mesures dans des conditions ambiantes et non ambiantes

Platines échantillon facilement changées avec DIFFRAC.DAVINCI

Accessoires

Composants pour la DRX

XRD Components

Les solutions Bruker XRD sont constituées de composants haute performance configurés pour répondre aux exigences analytiques.

La conception modulaire est la clé pour configurer le meilleur instrument.
Toutes les catégories de composants font partie des compétences clés de Bruker, développées et fabriquées par Bruker AXS, ou en étroite collaboration avec des fournisseurs tiers.

Les composants DRX Bruker sont disponibles pour mettre à niveau les systèmes de rayons X installés afin d'améliorer leurs performances.

Webinaires

Plus d'informations

Documents sur le D8 DISCOVER

Support

Service et support

Nous fournissons :

  •  Assistance dépannage par des professionnels hautement qualifiés pour isoler et résoudre les problèmes matériels et logiciels
  • Service de support à distance (interface Web) pour le diagnostic des pannes et le support applicatif
  • Support à distance - un ingénieur virtuel à vos côtés (vidéo)
  • Maintenance planifiée, selon vos besoins
  • Service de réparation et de maintenance sur site
  • Disponibilité des pièces de rechange généralement pendant la nuit ou en quelques jours ouvrables dans le monde entier
  • Services de conformité pour la qualification de l'installation, la qualification opérationnelle / la vérification des performances
  • Planification du site et relocalisation des instruments

Consultez notre site web de support pour :

  • Mises à jour logicielles
  • Manuels utilisateure et guides d’installation
  • Vidéos de formation

Inscription requise.