ContourX-200
ContourX-200
Le profilomètre optique ContourX-200 offre un mélange parfait de caractérisation avancée, d'options personnalisables et de facilité d'utilisation permettant la meilleure métrologie de surface 3D sans contact rapide, précise et reproductible. Ce système à faible encombrement, compatible avec jauges, offre des capacités de mesure 2D/3D haute résolution sans compromis, grâce à un appareil photo numérique 5 MP à grand champ de vision et à une nouvelle platine XY motorisée. Doté d'une résolution et d'une précision inégalées sur l'axe Z, le ContourX-200 offre tous les avantages reconnus par l'industrie de la technologie exclusive d'interférométrie en lumière blanche (WLI) de Bruker ; sans les limitations des microscopes confocaux conventionnels et des profileurs optiques standard concurrents.
Métrologie sans compromis, la meilleure de sa catégorie
Basé sur plus de quatre décennies d'innovations exclusives de WLI, le profilomètre optique ContourX-200 présente les résultats avec faible bruit, haute vitesse, précision et avec l'exactitude qu'exige la métrologie quantitative. Grâce à l'utilisation d'objectifs multiples et à la reconnaissance intégrée des caractéristiques, les caractéristiques peuvent être suivies sur une variété de champs de vision et à une résolution verticale inférieure au nanomètre, fournissant des résultats indépendants de l'échelle pour les applications de contrôle de la qualité et de surveillance des processus dans des industries très diverses. Le ContourX-200 est robuste dans toutes les situations de surface, de 0.05 % à 100 % de réflectivité. Les nouvelles caractéristiques matérielles comprennent une conception innovante de la platine pour des capacités d'assemblage plus importantes et une caméra 5MP avec une matrice de mesure 1200 x 1000 pour un bruit plus faible, un champ de vision plus large et une résolution latérale plus élevée.
Capacités d'Analyse des Applications les plus vastes
Utilisant les puissantes interfaces utilisateur VisionXpress et Vision64, le ContourX-200 offre des milliers d'analyses personnalisées pour une meilleure productivité dans les laboratoires et dans les usines. Le nouveau mode de mesure par interférométrie à balayage universel (USI) de Bruker offre une texture de surface entièrement automatisée et auto-détectée, un traitement du signal optimisé tout en fournissant le calcul le plus précis et le plus réaliste de la topographie de la surface analysée. Le champ de vision plus large offert par la nouvelle caméra du système ainsi que la flexibilité disponible via la nouvelle platine XY motorisée permettent une plus grande flexibilité et un débit plus élevé pour une large gamme d'échantillons et de pièces. Le matériel et le logiciel se combinent pour offrir un accès simplifié à des performances optiques de pointe, surpassant complètement les capacités de métrologie comparables.
