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Spectromètres IRTF VERTEX 80/80v

Les spectromètres IRTF VERTEX 80 et VERTEX 80v sous vide sont basés sur l'interféromètre à alignement actif UltraScan™, qui fournit une haute résolution spectrale.

Le scanner sur coussin d'air précis et l'optique de qualité garantissent ce qui se fait de mieux en matière de sensibilité et de stabilité.

Le VERTEX 80v est un banc optique sous vide qui permet d'éliminer les absorptions d'humidité atmosphérique de façon à optimiser la sensibilité et la stabilité. Cela permet de réaliser des expériences très exigeantes comme une analyse en haute résolution et très rapide, une analyse Step-Scan ou des mesures dans la gamme spectrale de l'UV. 

La conception optique des modèles VERTEX 80/80v permet d'obtenir une grande flexibilité et simultanément des performances exceptionnelles.

La technologie unique DigiTect™ développée par Bruker Optics réduit toute les perturbations de signaux externes, garantissant un rapport signal-bruit exceptionnel, la technologie permet de remplacement facile et de façon reproductible les détecteurs par l'utilisateur.

En option, deux ports détecteurs externes sont proposés permettant la connexion de bolomètre et/ou d'autres détecteurs.

En association avec une lampe à mercure externe, la gamme spectrale du Térahertz est accessible, même avec un détecteur DTGS opérant à température ambiante.

 

Extension de la plage spectrale 

En option, Le VERTEX 80/80v peut-être équipé de composants optiques afin de couvrir la plage spectrale allant du lointain IR (ou Térahertz) aux moyen IR, proche IR ainsi que le Visible et l'UV.

Grâce à ses composants optiques préalignés et à son interféromètre à alignement actif UltraScan™, le changement de gamme spectrale est facile.

BMS-c: Bruker Optics propose un changeur automatique de séparatrice, le BMS-c pour le spectromètre V80/v sous vide.

Le changement automatique commandé par le logiciel peut intégrer jusqu'à quatre séparatrices tout en gardant le spectromètre sous vide. Ainsi, la gamme spectrale complète de l'UV/VIS au lointain IR/THz peut être mesurée sans briser le vide dans le spectromètre, tout en changeant les séparatrices.

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NOUVEAUTE: Bruker a étendu sa gamme de séparatrices en ajoutant une nouvelle séparatrice IR lointain/THz à large bande pour la série de spectromètres FTIR VERTEX 80/80v. Pour la recherche et le développement de matériaux anorganiques supplémentaires et semi-conducteurs en particulier, la nouvelle séparatrice d’état solide à IR lointain fournira des valeurs supplémentaires parce qu’elle couvre nominalement la plage spectrale comprise entre 900 cm-1 et 5 cm-1 env. en une mesure et relie le Moyen IR aux plages de longueur d’onde FIR/THz à ondes très longues.

 

Résolution optique 

La configuration standard du VERTEX 80 et du VERTEX 80v permet d'obtenir une résolution spectrale apodisée meilleure que 0,2 cm-1, ce qui est suffisant pour la plupart des mesures en phase gazeuse à pression et température ambiante.

Pour des applications plus avancées à basse température par exemple, des matériaux semi-conducteurs cristallins ou des mesures en phase gazeuse à faible pression, une résolution meilleure que 0,06 cm-1 est possible.

C'est la meilleure résolution spectrale obtenue sur des spectromètres IRTF commercialisés. Des spectres réalisés à haute résolution dans la gamme spectrale du visible démontrent une puissance de résolution (longueur d'onde ν/résolution spectrale ∆ν) meilleure que 300 000:1.

 

Polyvalence 

La conception innovante de l'optique permet d'obtenir un spectromètre IRTF sous vide le plus flexible et évolutif pour la R&D.

Avec un banc optique sous vide, la sensibilité dans la gamme spectrale du moyen, proche et lointain IR s'obtient sans perte de signal qui peut être masquée par des faibles signaux dû à l'absorption de la vapeur d'eau présente dans l'air ambiant.

Il est ainsi possible d'obtenir des résultats exceptionnels, par exemple, pour des mesures en nanoscience, sur des monocouches de moins de 10-3 à l'aide du spectromètre IRTF sous vide VERTEX 80v.

Il n'y a pratiquement pas de limites concernant la flexibilité. Cinq ports de sortie de faisceaux, à droite, devant et sur le côté gauche et deux ports d'entrée de faisceaux à droite et à l'arrière du banc optique sont disponibles. Cela permet le branchement simultané de plusieurs éléments, par exemple, une source synchrotron sur le port d'entrée arrière, un accessoire de modulation de polarisation PMA 50 sur le port droit, d'un couplage fibres optiques sur le port avant droit, d'un détecteur bolomètre sur le port avant gauche et d'un microscope IRTF HYPERION sur le port gauche.

La série VERTEX 80 est la solution idéale pour réaliser des applications de R&D exigeantes.

Contactez notre équipe commerciale aujourd'hui pour en savoir plus sur le VERTEX 80 / 80v!

Les technologies utilisées sont protégées par au moins l'un des brevets suivants : US 7034944

Accessoires externes, sources et détecteurs

 

Les spectromètres VERTEX 80/80v sont équipés de 5 ports de sortie et 2 ports d'entrée et peuvent évoluer avec différents accessoires, du laser externe à la sources synchrotron, accessoires, séparatrices et détecteurs. Cette évolutivité permet d'adapter ces accessoires externes :

 

  • Accessoire modulation de polarisation PMA50 pour du VCD et PM-IRRAS
  • Module Photoluminescence PL II
  • RAM II, module FT-Raman, RamanScope III et microscope FT-Raman
  • Couplage TGA-IRTF

  • Microscope de la série HYPERION
  • Système d'imagerie HYPERION 3000
  • Analyse à haut débit avec le HTS-XT
  • Accessoire de macro imagerie en Focal Plane Array IMAC
  • Compartiment externe XSA, purgeable et sous vide
  • Adaptation de chambre externe sous vide et Ultra vide
  • Unité de mesure sous vide PL/PT/PR
  • Cryostat basse température He ou liquide cryogénique
  • Unité de couplage fibre optique en MIR et NIR avec des sondes adaptées pour les liquides et solides
  • Sphère d'intégration
  • Passeur d'échantillon
  • Source externe Hg pour le FIR
  • Séparatrice unique large bande MIR-FIR
  • Séparatrice état solide lointain IR/THz
  • Adaptation externe pour des mesures en émission
  • Source MIR haute performance externe
  • Source VIS haute performance externe
  • Compartiment détecteur externe 4 positions sous vide (pour des optiques sous vide)
  • Adaptation de bolomètre pour des mesures dans le FIR
  • Changeur automatique de séparatrice (BMS-c) (pour des optiques sous vide)

 

 

 

 

Les spectromètres VERTEX 80 et VERTEX 80v sont les instruments de très haute qualité dans la série VERTEX. La conception innovante contribue à des bancs optiques purgeable ou sous vide très puissants. Ils peuvent analyser la gamme spectrale la plus large sur le marché de la spectroscopie de la région des UV/VIS (50000 cm-1) au FIR/THz (5 cm-1) de haute résolution spectrale et temporelle avec une flexibilité inégalée.

La solution VERTEX 80/80v apporte une réponse optimale et conforme aux exigences de la recherche ultime.

Recherche & développement

  • Technologie Step-Scan et Continuous Scan pour de la spectroscopie de modulation en amplitude/phase
  • Rapid Scan, interleaved et Step Scan pour des expériences à haute résolution temporelle (Step Scan / Rapid Scan / TRS Interleaved)
  • Caractérisation de l'ordre du réseau de matériau microscopique, tels que les métamatériaux
  • Analyse de gaz avec la spectroscopie haute résolution supérieure à 0.06 cm-1
  • Instrumentation pour spectromètre IRTF sous vide implanté sur ligne synchrotron
  • Méthode Stop-Flow pour des expériences de catalyse enzymatique
  • Adaptation externe pour des mesures dans des réacteurs sous ultravide
  • Electrochimie en spectroscopie IRTF pour des études in situ de surface d'électrodes et d'électrolytes

Pharma

  • Détermination de la configuration absolue des molécules (VCD)
  • Caractérisation de la stabilité des principes actifs et des composés volatils issus de l'analyse thermique (TGA-IRTF)
  • Différentiation des formes polymorphes des principes actifs à l'aide du lointain infrarouge (VERTEX FM)

Polymères et chimie

  • Identification des charges inorganiques dans les polymères à l'aide du lointain infrarouge
  • Etude dynamique et rhéo-optique des polymères
  • Détermination des composés volatils et caractérisation des processus de dégradation par l'analyse thermique (TGA-FTIR)
  • Suivi de réaction et contrôle de réaction (fibre optique MIR)
  • Identification des charges minérales inorganiques et pigments

Analyse de surface

  • Détection et caractérisation de monocouches et films minces
  • Analyse de surface avec la modulation de polarisation (PM-IRRAS)

Science des matériaux

  • Caractérisation des matériaux optiques et hautement réflectif (fenêtres, miroirs)
  • Etude de matériaux absorbants et mesure de profil à l'aide de la spectroscopie photo-acoustique (PAS)
  • Caractérisation de l'émittance des matériaux

Semiconducteurs

  • Détermination de la composition de carbone et oxygène dans les wafers de silicium
  • Mesure à basse température en transmittance et photoluminescence (PL) des impuretés superficielles en contrôle-qualité