Composants pour la DRX

Platines et porte-échantillons

Les platines échantillons jouent un rôle prépondérant dans les expériences de diffraction des rayons X ; elles permettent de positionner l´échantillon au centre de l’instrument, augmentent les possibilités d’exploration spatiale de diffraction et permettent de mesurer des echantillons ou des zones auparavant inaccessibles.

Les platines échantillon de Bruker fournissent un degré élevé de précision dans la manipulation d’échantillon. Choisissez parmi les platines équipées d´une baïonnette et celles montées sur la base de l´enceinte, selon les degrés de liberté requis et les dimensions de l’échantillon. Puisque toutes les platines font partie du concept DIFFRAC.DAVINCI, un composant et ses axes motorisés sont automatiquement reconnus et configurés au montage.

Le « Universal Motion Concept » (UMC) garantit que la zone d’intérêt de l´échantillon est maintenue au centre du goniomètre tandis que celui-ci est déplacé dans une myriade de directions en utilisant jusqu’à cinq degrés de liberté, de la rotation Phi aux la translation XYZ, et l´inclinaison Psi.

Les berceaux d´Euler équipés d´un baïonnette permettent des applications telles que la contrainte résiduelle, la texture et l’analyse des couches minces épitaxiées, y compris dans des conditions non ambiantes.
La fonctionnalité des platines peut être adaptée aux besoins changeants. Notre large gamme d’accessoires comprend des platines XY et d´inclinaison, des platines capillaires et des platines aspiantes pour wafer.

Ajoutez à cela le vaste portefeuille de porte échaantillons de Bruker, et il est garanti que n´importe quel échantillon - qu’il soit organique ou inorganique, disponible en petites ou grandes quantités, sous forme de poudre ou de massif - peut être monté et mesuré avec la configuration instrumentale optimale.

Platines équipées d´une baïonnette

La baïonnette permet un échange rapide et précis de la platine échantillon sur le goniomètre pour une flexibilité expérimentale maximale.

Nos platines de translation XYZ motorisées incluent le Compact UMC et les Compact UMC Plus 80 et 150. Les platines UMC sont généralement utilisées pour l’analyse de grands échantillons massifs, les applications de cartographie et l’analyse de revêtement, mais peuvent également être utilisées pour monter plusieurs échantillons plus petits ou pour accueillir des chambres en température type dôme pour des expériences en conditions non ambiantes. En outre, les platines Compact UMC Plus 80 et 150 ont une rotation Phi illimitée. L’UMC 150 comprend également des alimentations utilitaires qui empêchent les tuyaux à vide et les cables électriques de s’emmêler.

Le Compact Cradle (Plus) et le Centric Eulerian Cradle, tous deux équipés dúne baïonnette, permettent des applications telles que la contrainte résiduelle, la texture et l’analyse des couches minces épitaxiées, y compris dans des conditions non ambiantes à l’aide de chambres en température de type dôme. Divers accessoires sont disponibles pour monter des échantillons même de forme irrégulière, et une alimentation sous vide permet de maintenir solidement en place par aspiration des petits spécimens de film mince.

Compact UMC

Compact UMC Plus 80

Compact cradle

Compact UMC Plus 150

Compact Cradle Plus

Eulerian Centric Cradle

Platines montées sur la base de l´enceinte

Des platines montées sur la base de l´enceinte sont disponibles pour la gamme de diffractomètre D8 DISCOVER pour les échantillons de grande taille et quand le mouvement de lourdes charges est requis. Notre série UMC offre une capacité de cartographie et de poids inégalée, permettant la cartographie de grande surface d’échantillons pesant jusqu’à 5 kg et mesurant jusqu’à 300 mm. Toutes les platines permettent le positionnement motorisé et le balayage des échantillons en X, Y et Z. L’UMC 350 et l’UMC 1516 incluent également une inclinaison Psi comme degré de liberté supplémentaire pour la contrainte résiduelle, la texture et l’analyse de films minces épitaxiés.

Des platines spécialisées sont disponibles pour des applications dédiées, telles que l’UMC 150 HTS pour l’analyse haut débit des plaques multi puits. Pour ajouter encore plus de fonctionnalités, des accessoires tels que des platines capillaire rotatives, des platines aspirantes et des chambres non ambiantes peuvent être montés sur les platines UMC. En raison de leur grande modularité, les platines UMC peuvent être davantage personnalisées pour répondre aux exigences de l’utilisateur qui vont au-delà des configurations standards.

UMC 150

UMC 151

UMC 150 HTS

UMC 350

UMC 150 HTS-3

UMC 1516

Accessoires pour les platines

Ces composants sont montés sur la plupart des platines pour la recherche sur les matériaux pour offrir un montage d’échantillon simple et sécurisé et des degrés de liberté supplémentaires. La galerie ci-dessous présente une sélection d´accessoires disponibles.

Passeurs d’échantillons

Le FLIP-STICK et l’AUTO-CHANGER offrent une grande capacité de stockage allant jusqu’à 90 échantillons pour des mesures par lots sans aucune surveillance. Totalment intégrés dans le concept plug & play DAVINCI.DESIGN, ces passeurs d’échantillons offrent une flexibilité analytique inégalée. Un large éventail de spécimens et de porte échantillons différents peuvent être mesurés à la fois en réflexion et en transmission, à l’aide d’optiques focalisantes et faisceau parallèle. Les râteliers des passeurs d’échantillons sont facilement échangeables, même lorsqu’ils sont chargés d’échantillons. Cela permet de pré-charger des râteliers supplémentaires tandis que d’autres mesures sont en cours d’exécution, augmentant ainsi le débit de mesure.

Porte-échantillons

La diffraction des rayons X ne nécessite pas de préparation d’échantillon complexe, mais selon la consistance de l’échantillon, son volume ou d’autres propriétés, un porte-échantillon approprié est nécessaire. Bruker AXS a sélectionné un grande nombre solutions dédiées pour les différents types de spécimens (voir ci-dessous).

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