EBSDサンプルにおける前方散乱電子(FSE)および後方散乱電子(BSE)の超高速イメージング

ARGUSシステムのみで実現する最高の画質

ARGUSイメージングシステムは、超高品質のシリコンダイオードの独創的なアイデア[A.P.Day et all]、優れた品質と詳細情報を持つFSEとBSE画像を提供する信号処理技術の組み合わせによって実現しています。ARGUS が現在利用可能な最良のソリューションを作る主な機能は次のとおりです。

  • FSE - 鮮やかな偽色方位コントラストイメージング
  • BSE - 「位相コントラスト」イメージングとして知られる高品質の「平均z数」
  • 最大125,000ピクセル/秒の速度でのイメージング
  • ESPRIT ソフトウェアでの高速かつ完全自動信号最適化
  • 信号増幅のエレクトロニクスはEBSD検出器に完全に統合され、外部ボックスが不要
  • ユーザー交換可能なダイオード
ARGUSイメージングシステム
タービンブレード上の遮熱コーティングの断面のBSE画像における位相コントラスト
加法製造(AM)されたステンレス鋼の方位コントラスト

上記の ARGUS 仕様は、様々な ESPRIT ソフトウェア機能と組み合わせて、様々な種類のアプリケーションに強力なメリットをもたらします。

  • in-situ実験中のサンプルの時間分解可視化 (例: in-situ引張および圧縮試験 – ESPRIT TRM )
  • EBSD マッピング中の正確なドリフト補正 – ESPRIT Drift Correction (ドリフト補正機能)
  • 非常に高速な EBSD マッピングの代替 – Rapid EBSD
  • 結晶中の非常に低い方位変化と磁区の可視化

アプリケーションの例

ARGUSイメージングシステムが提供するメリットとアプリケーション例の詳細については、以下の画像ギャラリーまたはBruker Nano Analytics YouTubeチャンネルの関連ビデオをご覧ください。