3次元光学プロファイラー

ContourSP

大型基板の生産管理に対応する ハイパフォーマンス3次元形状測定システム
ContourSP

ハイライト

ContourSP

10年を超える実装計測の経験から得た専門知識を注ぎこんだ大型プリント基板向けContourSPは、旧世代のSPモデルに比べて、高密度実装配線(HDI)により複雑性が進むプリント基板の測定において、測定スループットが2倍以上に向上しています。ContourSPは、製造プロセスの過程でプリント基板の各層を計測できるよう特別に設計されており、半導体パッケージング産業において究極の生産性能、利便性、信頼性、スループットを実現する多くの最先端機能を兼ね備えています。 

総合
産業用計量学
高速で高精度のPCB生産制御が可能。
一意
システム機能
最高の収率、最大稼働時間、およびパネルあたりの最低コストを保証します。
最高
スループット
精度を損なうことなく、2倍の高速データを提供します。

特長

機能

高精度

新しい振動耐性システム設計と特許取得済みのワイコ垂直走査干渉法(VSI)イメージングにより、ゲージ対応ContourSPシステムはナノメートル解像度で極めて正確な3D臨界次元(CD)測定を行います。この機能と広範な自動化を組み合わせることで、ContourSPは強力な表面テクスチャ計測器と使いやすい欠陥検査ツールの両方としてマルチタスクを行うことができます。

ContourSPはマスク、パッドおよび基材の寸法および高さをマスク内で測定する。

合理化された運用と解析

ContourSPは、自動アライメントのための多種多様な受託者の簡単なセットアップを含みます。オプションのソフトウェアは、必要な機能の迅速かつ正確な位置を保証します。

ContourSPの直観的な生産インターフェイスは構成可能なユーザー入力との速く、容易な受託者のアライメントを提供する。ユーザーは、合格/不合格情報に加えて、要約画面に表示する詳細なパラメータ結果を選択できるようになりました。Vision64ソフトウェアは、エンジニア、技術者、オペレータに対して、簡単に座標ファイルをインポートできる機能を備えたフルアクセスコントロールを提供し、システム間レシピの移植性と高速なファイル作成を保証します。

パネル計測に合わせた大きな測定可能な領域

このシステムは、Brukerの革新的なガントリーベースの設計と統合されたワークステーションを利用して、非常にコンパクトなフットプリントで最大600x600ミリメートルのサンプルをサポートします。生産パネル計測用に特別に設計されたソフトウェアは、製造エンジニアとオペレータが動的信号セグメンテーション、再測定機能、ウェハーボウ、座標ファイルインポート、ESD、パネルID読み取り、およびパターン認識を補償する地形スキャンを備えた独自の光学プロファイリング機能を最大限に活用するのに役立ちます。

ContourSPのガントリー設計は600x600mm測定区域を提供する。

ウェビナー

お問合せ

お 問い合わせ

※必須フィールドにご記入ください。

名を入力してください
姓を入力してください
電子メール アドレスを入力してください
会社/教育機関を入力してください
私の現在の状況を最もよく表すもの
私は私の近くのウェビナーの招待状、製品のアナウンスやイベントを受信できるように、あなたの電子メールのサブスクリプションリストに私を追加してください。
利用規約に同意してください

このサイトはreCAPTCHAとGoogleで保護されています。 プライバシーポリシー そして サービス規約が 適用されます。.